元件安装机
    34.
    发明授权

    公开(公告)号:CN103493615B

    公开(公告)日:2016-05-18

    申请号:CN201280017992.8

    申请日:2012-03-06

    Abstract: 在生产开始前,分别计测由多个吸嘴(21)吸附的多个元件(A~D)的识别位置的偏差量,将该计测数据存储于存储单元,然后,在生产中从上述存储单元读入识别位置偏差量的数据,来校正由各吸嘴(21)吸附的元件(A~D)的识别位置偏差。可如下进行识别位置偏差量的计测:在生产开始前,在由吸嘴(21)吸附有元件的状态下使该吸嘴(21)的中心与相机的视野中心一致来拍摄该元件,并进行图像处理来识别该元件的位置,并且,使该吸嘴(21)的位置向生产中的一并摄像位置移动而利用该相机拍摄该元件,进行图像处理来识别该元件的位置,算出这两处识别位置之间的距离与该吸嘴(21)的移动距离之差作为识别位置偏差量。

    反射光学元件、投射系统和投射曝光设备

    公开(公告)号:CN102193121B

    公开(公告)日:2015-06-17

    申请号:CN201110065446.9

    申请日:2011-03-17

    Abstract: 本申请公开了一种反射光学元件、投射系统和投射曝光设备。该反射光学元件用于紫外到极紫外波长范围中的工作波长。该反射光学元件包括在基底上的具有多层系统的反射面,所述多层系统具有至少两种交替材料的层,所述两种交替材料在工作波长具有不同的折射率实部。某个入射角带宽分布的工作波长的辐射可以入射在所述反射光学元件上。所述反射面具有一个或多个第一部分和一个或多个其它部分,第一部分中的交替材料的层具有第一周期厚度,以及第二部分中的交替材料的层具有第一周期厚度和至少一个其它周期厚度。第一部分和其它部分在反射面上的布置适配于所述入射角带宽分布。

    包括具有各自的晶体取向的多个层的X射线聚焦光学器件

    公开(公告)号:CN101558454B

    公开(公告)日:2013-11-06

    申请号:CN200780046503.0

    申请日:2007-11-16

    Inventor: 陈泽武

    CPC classification number: G21K1/06 G21K2201/062 G21K2201/064

    Abstract: 一种用于接收和重定向X射线的衍射X射线光学器件。该光学器件包括至少两个层,所述层具有类似的或不同的材料组成和类似的或不同的晶体取向。所述层中的每一个显示出衍射效应,且他们的整体效应在接收的X射线上提供衍射效应。在一个实施例中,所述层为硅,且采用绝缘体上硅键合技术将所述层键合到一起。在另一实施例中,可以采用粘结键合技术。该光学器件可以为曲面、单色光学器件。

    EUV光源、EUV曝光装置及半导体元件的制造方法

    公开(公告)号:CN100485864C

    公开(公告)日:2009-05-06

    申请号:CN200580020010.0

    申请日:2005-06-22

    Inventor: 村上胜彦

    Abstract: 本发明的目的是提供一种EUV光源、EUV曝光装置及半导体元件的制造方法。在被加热的容器(4)内,收纳有使Sn固体微粒在树脂中分散的液体。由加压泵进行加压的树脂被导向喷嘴(1),并从真空室(7)内所设置的喷嘴(1)的顶端喷出液体状的树脂。从喷嘴(1)所喷出的液体状的液体由表面张力而形成球形的形状,并在真空中被冷却而固化,形成固体状的标靶(2)。在真空室(7)内设置有激光光导入用的激光导入窗(10),且从真空室(7)的外面所配置的激光光源(8)产生的激光光,由透镜(9)被聚光并导向真空室(7)内,将标靶等离子化而产生EUV光。

    光学单元及有关方法
    39.
    发明授权

    公开(公告)号:CN1324613C

    公开(公告)日:2007-07-04

    申请号:CN03819527.5

    申请日:2003-06-19

    Abstract: 本发明涉及具有横向梯度反射多层膜的光学单元(10),该光学单元的反射表面用于反射锐角入射的X射线并产生二维光学效应,其特征在于所述反射表面由单一表面构成,所述表面根据对应于两个不同方向的两个曲率成型。本发明还涉及制造所述光学单元的方法,其特征在于该方法包括已经具有曲率的基质上镀膜,而且所述基质的曲率沿着第二不同方向。本发明还公开了用于产生和处理RX发散角度的X光反射仪的装置,包括如上所述的光学单元,结合到X射线源上,以便光源发出的X射线在二维方向上被处理,以便调整光源对于样本所发出的光束,X光束的入射角度不同于所考虑的样本。

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