用於低溫共燒陶瓷電路及裝置中之混合金屬系統導體 MIXED-METAL SYSTEM CONDUCTORS FOR USE IN LOW-TEMPERATURE CO-FIRED CERAMIC CIRCUITS AND DEVICES
    402.
    发明专利
    用於低溫共燒陶瓷電路及裝置中之混合金屬系統導體 MIXED-METAL SYSTEM CONDUCTORS FOR USE IN LOW-TEMPERATURE CO-FIRED CERAMIC CIRCUITS AND DEVICES 审中-公开
    用于低温共烧陶瓷电路及设备中之混合金属系统导体 MIXED-METAL SYSTEM CONDUCTORS FOR USE IN LOW-TEMPERATURE CO-FIRED CERAMIC CIRCUITS AND DEVICES

    公开(公告)号:TW201145310A

    公开(公告)日:2011-12-16

    申请号:TW099147366

    申请日:2010-12-31

    IPC: H01B H05K

    Abstract: 揭露一種用於形成過渡通孔及過渡線導體之組成物,以便使相異金屬組成物之間的電連結處之界面效應達到最小。該組成物具有(a)無機成分,其係選自由(i)20至45重量百分比的金及80至55重量百分比的銀及(ii)100重量百分比的銀-金固溶體合金所組成之群組,及(b)一有機介質該組成物亦可含有(c)以該組成物之重量為基礎,1至5重量百分比的氧化物或金屬之混合氧化物,其係選自由Cu、Co、Mg及Al及/或主要含有耐火氧化物的高黏度玻璃所組成之群組。該組成物可用為通孔填充中之多層組成物。亦可使用用於形成過渡通孔及過渡線導體之組成物來形成諸如LTCC電路之多層電路及裝置。

    Abstract in simplified Chinese: 揭露一种用于形成过渡通孔及过渡线导体之组成物,以便使相异金属组成物之间的电链接处之界面效应达到最小。该组成物具有(a)无机成分,其系选自由(i)20至45重量百分比的金及80至55重量百分比的银及(ii)100重量百分比的银-金固溶体合金所组成之群组,及(b)一有机介质该组成物亦可含有(c)以该组成物之重量为基础,1至5重量百分比的氧化物或金属之混合氧化物,其系选自由Cu、Co、Mg及Al及/或主要含有耐火氧化物的高黏度玻璃所组成之群组。该组成物可用为通孔填充中之多层组成物。亦可使用用于形成过渡通孔及过渡线导体之组成物来形成诸如LTCC电路之多层电路及设备。

    印刷配線板用積層體、印刷配線板之製造方法及電子機器之製造方法
    404.
    发明专利
    印刷配線板用積層體、印刷配線板之製造方法及電子機器之製造方法 审中-公开
    印刷配线板用积层体、印刷配线板之制造方法及电子机器之制造方法

    公开(公告)号:TW201739611A

    公开(公告)日:2017-11-16

    申请号:TW106102403

    申请日:2017-01-23

    Abstract: 提供一種耐彎折性及電路形成性皆為良好的印刷配線板用積層體,該積層體被使用於包含藉由半加成法(semi-additive process)、部分加成法(partly additive process)、改良半加成法(modified semi-additive process)或埋入法中任一方法形成電路之步驟的印刷配線板製造方法。印刷配線板用積層體依序具有絕緣性樹脂基板、金屬層1及金屬層2,對與積層體之厚度方向平行的剖面進行離子研磨加工後,在用EBSD觀察加工剖面的金屬層1及金屬層2時,於加工剖面中金屬層1及金屬層2各自具有一顆或複數顆晶粒,金屬層1之一顆或複數顆晶粒及金屬層2之一顆或複數顆晶粒之中,加工剖面之垂直線與晶粒之 結晶方向的角度之偏離在15°以內的晶粒其合計面積相對於金屬層1之一顆或複數顆晶粒及金屬層2之一顆或複數顆晶粒其合計面積的面積率,以金屬層1及金屬層2之合計計,為15%以上且未達97%。

    Abstract in simplified Chinese: 提供一种耐弯折性及电路形成性皆为良好的印刷配线板用积层体,该积层体被使用于包含借由半加成法(semi-additive process)、部分加成法(partly additive process)、改良半加成法(modified semi-additive process)或埋入法中任一方法形成电路之步骤的印刷配线板制造方法。印刷配线板用积层体依序具有绝缘性树脂基板、金属层1及金属层2,对与积层体之厚度方向平行的剖面进行离子研磨加工后,在用EBSD观察加工剖面的金属层1及金属层2时,于加工剖面中金属层1及金属层2各自具有一颗或复数颗晶粒,金属层1之一颗或复数颗晶粒及金属层2之一颗或复数颗晶粒之中,加工剖面之垂直线与晶粒之<100>结晶方向的角度之偏离在15°以内的晶粒其合计面积相对于金属层1之一颗或复数颗晶粒及金属层2之一颗或复数颗晶粒其合计面积的面积率,以金属层1及金属层2之合计计,为15%以上且未达97%。

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