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公开(公告)号：CN104024813B
公开(公告)日：2016-11-09
申请号：CN201280022789.X
申请日：2012-05-11
Applicant: XY有限责任公司
IPC: G01J3/45
CPC classification number: G01N15/14 , G01N21/49 , G01N21/55 , G01N21/64 , G01N21/6486 , G01N2015/149
Abstract: 本发明总体上涉及一种用于激发粒子的方法和装置，并且更具体地涉及用于以多模二极管激光器来激发荧光地标记的粒子的分析器或分拣器和用于依据该多模二极管激光器光束激发进行高分辨率测定的光学器件。
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公开(公告)号：CN105953919A
公开(公告)日：2016-09-21
申请号：CN201610201527.X
申请日：2016-04-01
Applicant: 哈尔滨工程大学
Abstract: 本发明属于光谱分析技术领域，具体涉及一种可用于各种光源光谱的精确分析与测量的全光纤傅里叶光谱分析仪。一种全光纤傅里叶光谱分析仪，包括待测光源1、连接器2、第一三端口光纤环行器3和第二三端口光纤环行器4、第一波分复用器5和第二波分复用器6、双端口连接的光纤耦合器7、差动式光程扫描装置8、窄带半导体激光器9、第一差分式光电探测信号放大器10和第二差分式光电探测信号放大器11。本发明中采用了差分式光电探测信号放大器的一个输入端采用可调衰减器，实现对光路的平衡调整，消除了直流强度信号和探测器暗电流的影响，提高了系统测量的动态范围，同时增强了干涉信号的强度，也进一步提高了系统的信噪比。
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公开(公告)号：CN104614072B
公开(公告)日：2016-09-21
申请号：CN201510067863.5
申请日：2015-02-10
Applicant: 中国科学院上海光学精密机械研究所
Abstract: 一种基于全反射镜的二维光谱测量装置，包括：分束挡板、方形柱体四面反射镜、第一延时反射镜、第二延时反射镜、第三延时反射镜、第四延时反射镜、空间滤波器、衰减片、第一凹面反射镜、样品、第二凹面反射镜、挡光板和光谱测量装置，本发明无透射元件，故没有透射带来的色散效应和窄光谱限制，同时消除了光束延时调节时所带来的光束移位问题，使得装置更加紧凑，稳定，可以在很宽的光谱范围内进行光谱探测。在同一装置上还可以同时探测样品的泵浦‑探测光谱，用于二维光谱的相位校正。
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公开(公告)号：CN105938014A
公开(公告)日：2016-09-14
申请号：CN201610344238.5
申请日：2016-05-23
Applicant: 湖北久之洋红外系统股份有限公司
IPC: G01J3/45
CPC classification number: G01J3/45
Abstract: 本发明公开了一种红外成像光谱仪，包括动镜驱动装置、激光干涉校准系统以及动镜控制电路；所述的动镜驱动装置包括支撑底座、步进电机、滚珠丝杆、交叉滚子导轨和滑块，滑块上设有动立体角锥棱镜；所述激光干涉校准系统包括激光器、反光镜、分束镜、补偿镜、1/8波片、直角反射镜、定立体角镜、偏振分束棱镜、激光探测器和1/2波片；所述的动镜控制电路包括控制器、作用于正交干涉信号的检测电路和与步进电机连接的驱动电路；本发明的系统负载能力强，能够驱动大体积立体角镜重负载运动，可满足不同的光谱分辨率及不同应用环境对动镜控制速度的不同要求。
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公开(公告)号：CN105890762A
公开(公告)日：2016-08-24
申请号：CN201610087856.6
申请日：2016-02-16
Applicant: 光浩私人有限公司
Inventor： 潘宝文
CPC classification number: G01J3/0272 , G01J3/0202 , G01J3/0205 , G01J3/0229 , G01J3/0256 , G01J3/447 , G01J3/4531 , G01J3/4532 , G01J3/45 , G01J3/46 , G02B27/283
Abstract: 本发明涉及一种小型分光仪。用于测量目标的光谱特征的分光仪包括供照相机使用的条纹产生光学器件和处理器。条纹产生光学器件由前光学器将和双折射光学器件形成。前光学器包括适于从目标接收光的扩散器。双折射光学器件适于从扩散器接收光并且生成干涉条纹。照相机适于接收干涉条纹并且处理器生成目标的光谱特征。该分光仪是适用于数字照相机的改善的傅里叶变换分光仪，该数字照相机诸如为移动装置中发现的照相机。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN104155004B
公开(公告)日：2016-08-24
申请号：CN201410382154.1
申请日：2014-08-05
Applicant: 中国科学院合肥物质科学研究院
IPC: G01J3/45
Abstract: 本发明公开了一种折射旋转扫描干涉仪，包括分束器、折射窗片、平面反射镜一、平面反射镜二，抛物面镜一、抛物面镜二、角反射镜一、角反射镜二所述的抛物面镜一的焦点上设有光源，所述的抛物面镜二的焦点上设有光探测系统；分束器将来自光源的光束分成透射光束和反射光束两部分，所述的折射窗片在中心位置连接的电机的带动下高速旋转，透射光束和反射光束在各自光路经过折射窗片并被返回到分束器，带有一定的光程差，并发生干涉，抛面镜二接收该干涉光束并被光探测器系统探测，本发明提高了干涉仪运行过程中的稳定性，并加快了光谱测量速度。
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公开(公告)号：CN103776536B
公开(公告)日：2016-08-17
申请号：CN201310724087.2
申请日：2013-12-16
Applicant: 中北大学
IPC: G01J3/45
Abstract: 本发明涉及一种级联式大光程差弹光调制干涉仪，包括光源，在光源的出射光方向上设置有能将出射光调制为与水平方向成一夹角的起偏器，在起偏器出射光方向上设有静态双折射晶体，在静态双折射晶体的出射光方向设有多个能使出射光产生多次反射的强光调制器，在强光调制器的出射光方向上设有检偏器，在检偏器出射光方向上设有能采集经检偏器干涉后光线的探测器。本发明通过压电石英晶体产生周期驱动力，并利用硒化锌晶体的轮廓振动模式，产生二维耦合纵向振动，进而获得较高的调制光程差；在单块弹光调制器达到较高调制光程差的基础上，通过级联的方式进一步增加调制光程差，解决现有弹光调制干涉仪调制光程差的问题，并保证足够光通量。
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公开(公告)号：CN104568151B
公开(公告)日：2016-08-10
申请号：CN201310483123.0
申请日：2013-10-15
Applicant: 南京理工大学
Abstract: 本文发明一种基于对称楔形干涉腔的高光谱全偏振成像装置和方法，该装置沿光路方向依次放置前置成像物镜、对称楔形干涉腔系统、微偏振调制阵列、探测器及信号处理系统。方法步骤为：第一步，入射光经前置成像物镜，到达对称楔形腔，形成多光束干涉；第二步，光束经过微偏振调制阵列，同一物点经过微偏振调制阵列四个偏振象元调制后在探测器靶面上同时生成四个偏振态的干涉像点；第三步，经过推扫，获取目标点不同光程差下的四组偏振干涉信息；第四步，信号处理系统经过光谱复原、偏振信息重构后获取场景的二维光强信息、光谱信息及各谱段的全偏振参量。该方法具有高光谱分辨率、高光通量、高目标分辨率以及光谱信息和偏振信息同步获取等优点。
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公开(公告)号：CN105675134A
公开(公告)日：2016-06-15
申请号：CN201610065626.X
申请日：2016-02-01
Applicant: 南京理工大学
CPC classification number: G01J3/2823 , G01J3/447 , G01J3/45
Abstract: 本发明公开了一种基于FLC的高光谱全偏振成像装置和方法，沿光路方向依次放置前置成像物镜、光阑、准直物镜、偏振调制系统、Sagnac干涉器、后置成像物镜及探测器。方法步骤为：第一步，入射光经前置成像物镜、准直物镜后，以准直光束的形式进入偏振调制系统；第二步，光束经过偏振调制系统，获得四幅干涉图像，并进入Sagnac干涉器；第三步，经Sagnac干涉器进行干涉；第四步，光束入射至后置成像物镜，并成像在探测器靶面上，第五步，在探测器的靶面上获取物点的干涉光强信息，并对干涉光强信息进行处理，得到目标各点的光谱信息及全偏振信息。本发明具有高光通量、高光谱分辨率、高目标分辨率、快速调制及同时获取光谱信息和全偏振信息等优点。
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公开(公告)号：CN105651385A
公开(公告)日：2016-06-08
申请号：CN201610022137.6
申请日：2016-01-13
Applicant: 南京邮电大学
IPC: G01J3/45
Abstract: 本发明公开了一种基于干涉效应的太赫兹波谱测量装置及其测量方法。该测量装置包括干涉器件、干涉控制器、探测器和计算处理单元。待测太赫兹波经由干涉器件后形成两束或两束以上太赫兹波，之后再次相遇发生干涉，干涉控制器使得探测器在干涉控制器不同控制条件作用下可以测得不同的太赫兹波干涉强度；计算处理单元用来接收探测器的测量结果，并进行数据分析和处理。本发明的太赫兹波谱测量装置相比现有的太赫兹时域波谱测量装置具有体积较小、易于制作、成本相对低廉，且频率分辨率高、光谱测量范围宽等优点。
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