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公开(公告)号:CN109708755A
公开(公告)日:2019-05-03
申请号:CN201811509305.X
申请日:2018-12-11
Applicant: 南京邮电大学
Abstract: 本发明公开了一种基于滤波效应的成像光谱仪及高空间分辨率光谱成像方法,成像光谱仪包括前置器件、滤波器件、准直器件、阵列式探测芯片、控制器件、数据计算与分析系统;本发明所公开的成像光谱仪通过控制器件控制滤波器件,不同控制条件下同一个像素元所探测到的光强度互不相同,代入到矩阵方程计算光谱,可通过控制器件输出更多的控制参数,实现更高的光谱分辨率;由于阵列式探测芯片上的像素元数量较多,通过对待测目标进行区域划分,每个像素元都可以用来作为单独的探测器对待测成像区域的不同子单元区域进行光谱测量,因此光谱成像的空间分辨率较高。与传统成像光谱仪相比,本发明所公开的成像光谱仪体积较小,成本较低,性能较高。
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公开(公告)号:CN104713646B
公开(公告)日:2016-08-17
申请号:CN201510066648.3
申请日:2015-02-09
Applicant: 南京邮电大学
IPC: G01J3/28
Abstract: 本发明公开了一种宽频光谱仪及其光谱复原方法。该光谱仪包括分光器件、阵列式探测芯片,以及数据采集与分析系统;分光器件可令不同频率的入射光经过后在阵列式探测芯片表面形成不同的光强分布,且相同频率的入射光经过分光器件的不同部位所产生的光强角分布也不同;该光谱仪还包括设置于所述分光器件之前或之后的光波长转换部件,所述光波长转换部件包括波长转换层,所述波长转换层中包含至少一种波长转换光学材料;波长转换光学材料的部分或全部吸收光谱超出所述阵列式探测芯片的探测范围,而其发射光谱全部在所述阵列式探测芯片的探测范围内。相比现有技术,其具有结构简单、价格低廉、灵敏度高、光谱测量范围宽等优点。
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公开(公告)号:CN105651385A
公开(公告)日:2016-06-08
申请号:CN201610022137.6
申请日:2016-01-13
Applicant: 南京邮电大学
IPC: G01J3/45
Abstract: 本发明公开了一种基于干涉效应的太赫兹波谱测量装置及其测量方法。该测量装置包括干涉器件、干涉控制器、探测器和计算处理单元。待测太赫兹波经由干涉器件后形成两束或两束以上太赫兹波,之后再次相遇发生干涉,干涉控制器使得探测器在干涉控制器不同控制条件作用下可以测得不同的太赫兹波干涉强度;计算处理单元用来接收探测器的测量结果,并进行数据分析和处理。本发明的太赫兹波谱测量装置相比现有的太赫兹时域波谱测量装置具有体积较小、易于制作、成本相对低廉,且频率分辨率高、光谱测量范围宽等优点。
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公开(公告)号:CN103759831B
公开(公告)日:2015-06-10
申请号:CN201410001178.8
申请日:2014-01-03
Applicant: 南京邮电大学
IPC: G01J3/45
Abstract: 本发明公开了一种基于弹光效应的光谱测量装置,属于光学测量技术领域。该装置包括沿入射光依次设置的第一偏振片、光弹性材料、第二偏振片、光探测器,以及可对所述光弹性材料施加一系列不同压力的施压装置,第一偏振片的偏振方向与所述光弹性材料的光轴方向既不平行也不垂直。本发明还公开了一种基于弹光效应的光谱测量方法,利用弹光效应改变在介质中所传播入射光的折射率,使得光弹性材料在相同的外力下,不同波长的光通过光弹性材料后两束双折射光之间的相位差不同,结合偏振片从而达到改变出射光强的目的;通过测量不同外力下的光强度,并求解线性方程组获得待测入射光的频谱。本发明具有成本较低、分辨率高、光谱测量范围宽等优点。
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公开(公告)号:CN104660344A
公开(公告)日:2015-05-27
申请号:CN201510068163.8
申请日:2015-02-09
Applicant: 南京邮电大学
IPC: H04B10/50 , H04B10/60 , H04B10/116
Abstract: 本发明公开了一种多输入多输出的光通信系统及其信号复原方法。包括光信号发射端和光信号接收端;光信号发射端包括相互连接的光强调制单元、光信号发送单元,光信号发送单元包括相互之间频谱互有重叠但又不完全相同的n个宽带光源,光强调制单元将n路信号分别调制至n个宽带光源生成相应的光调制信号;光信号接收端包括分光器件、光信号接收器、信号处理单元;所述分光器件可令不同频率的入射光经过后形成不同的光强分布,且相同频率的入射光经过分光器件的不同部位所产生的光强角分布也不同;光信号接收器为具有相同频谱响应的n个光探测器所组成的光探测器阵列。本发明能在照明的同时实现大容量信号的传输,且结构简单、实现容易。
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公开(公告)号:CN104166249A
公开(公告)日:2014-11-26
申请号:CN201410349829.2
申请日:2014-07-22
Applicant: 南京邮电大学
IPC: G02F1/015
Abstract: 本发明公开了一种太赫兹波的光学调制器件,用于对太赫兹波进行调制。该光学调制器件包括由金属层以及附着于所述金属层一侧表面的本征半导体层所构成的复合层,该本征半导体在照射其表面的光强调制下的最大等离子体频率小于调制范围内的太赫兹波的频率;复合层上设置有亚波长孔阵列结构。本发明还公开了一种太赫兹波的光学调制方法,令太赫兹波由光学调制器件的本征半导体层一侧向另一侧发射;通过改变照射在光学调制器件的本征半导体层表面的光强,使得穿过光学调制器件后的太赫兹波的强度随之变化,实现太赫兹波的调制。本发明可在正常温度下实现太赫兹波的强度调制,且调制的频率和幅度范围大、调制速度快,实现成本低。
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公开(公告)号:CN102564586A
公开(公告)日:2012-07-11
申请号:CN201210004166.1
申请日:2012-01-09
Applicant: 南京邮电大学
Abstract: 本发明提供一种衍射孔阵列结构微型光谱仪及其高分辨率光谱复原方法,衍射孔阵列结构微型光谱仪基本结构包括:一个构建在基底表面挡光层上的孔径大小不等的微型衍射孔二维阵列;基底材料采用透明材料;在基底的下方对应设有探测阵列芯片,一个衍射孔对应一个探测阵列芯片的像素元;在基底和探测阵列芯片中间有一层遮光板,遮光板把每个CCD像素元的大部分面积遮住,遮光板上有一系列孔径相同的透光孔;每一个衍射孔都正对着一个透光孔,其下是每个CCD像素元。由于入射光通过基底上方的衍射孔后会发生衍射现象,因此下方所对应的CCD像素元能探测到一定的衍射光光功率。因为阵列上的各个衍射孔孔径大小不等,其下方所对应的各个CCD像素元所测得的衍射光光功率大小也不同,对各个CCD像素元所测得数据进行反演就可以得到入射光的光谱信息。
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公开(公告)号:CN101866060B
公开(公告)日:2012-02-29
申请号:CN200910259937.X
申请日:2009-12-23
IPC: G02B27/58
Abstract: 本发明公布了一种超分辨率光学成像的装置与方法,该成像装置由基底构成,所述基底上设置凹槽(台阶),凹槽的深度(台阶的高度)设计,使得通过凹槽(台阶)与通过凹槽边缘(台阶外面)的光程差为成像物体发出光波长的一半。位于凹槽(台阶)正上方的光束投射到凹槽底面(台阶表面);其它光束一半通过凹槽底面(台阶表面),一半通过基底边缘,经由凹槽底面(台阶表面)与基底边缘的光束在基底发生自混合干涉相消,取得位于凹槽正上方的光束信息,从而突破衍射极限。本发明体积小,结构简单,实现了超分辨率成像。
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公开(公告)号:CN102096269A
公开(公告)日:2011-06-15
申请号:CN201110009521.X
申请日:2011-01-18
Applicant: 南京邮电大学
IPC: G02F1/355 , H04B10/155
Abstract: 本发明公布了一种太赫兹表面等离子体波光学调制器及其调制方法,所述调制器包括一个本征半导体晶片、两个平行放置的刀片或者光栅、连续波激光器和调制准直系统以及一个温度控制装置。所述方法采用连续波激光器和调制准直系统发出激光调制信号照射在本征半导体晶片从而改变该本征半导体晶片表面各处的光生载流子数量;通过改变激光调制信号的光强对本征半导体晶片表面所传输的太赫兹表面等离子体波进行调制;两个平行放置的刀片或光栅用于将太赫兹波耦合为太赫兹表面等离子体波以及将调制后的太赫兹表面等离子体波耦合为太赫兹波。本发明制作成本低、能量损耗小,调制频率范围宽,可以实现归零调制,可以实现快速调制。
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公开(公告)号:CN109347557B
公开(公告)日:2021-12-10
申请号:CN201811422463.1
申请日:2018-11-27
Applicant: 南京邮电大学
IPC: H04B10/116 , H04B10/114 , H04B10/112
Abstract: 本发明公开了一种基于滤波效应的多输入多输出光通信系统,包括发射端和接收端。发射端包括光强调制器和与之相连的光信号发送阵列,接收端包括前置器件、滤波器件、探测器以及信号处理单元。其中,前置器件使光信号发送阵列内各信号发送区域光源所发出的其中一束光以固定角度分别入射到滤波器件表面的不同部位。本发明通过将光信号发送阵列分成许多个不同信号发送区域,各区域内光源所发射的信号光在经过滤波之后分别投射在探测器不同信号接收区域内的像素元,从而利用多个光源发出的调制光进行多路信号并行传输。最终,通过将不同区域内像素元所测数据分别代入到多个矩阵方程复原信号。该技术可在实现照明功能的同时实现大容量信号的传输。
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