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公开(公告)号：CN111735828A
公开(公告)日：2020-10-02
申请号：CN202010190202.2
申请日：2020-03-18
Applicant: 株式会社理学
IPC: G01N23/00 , G01N23/201 , G01N23/207
Abstract: 本发明提供一种以简单的结构实现小型并能够进行微小部测定的X射线分析装置。一种X射线分析装置具备：测角仪，其具有沿着第一方向延伸的入射侧臂、固定部和接收侧臂；X射线源部，其配置在所述入射侧臂上，用于产生沿着与所述第一方向交叉的第二方向延伸的X射线源；支撑台，其配置在所述固定部上，用于支撑样品；平行狭缝，其配置在所述固定部上，用于限制由所述X射线源部所产生的X射线源沿着所述第二方向的线宽；以及检测器，其配置在所述接收侧臂上，用于检测由所述样品所产生的散乱X射线。
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公开(公告)号：CN111033246A
公开(公告)日：2020-04-17
申请号：CN201880050768.6
申请日：2018-05-18
Applicant: 株式会社理学
IPC: G01N23/2055 , G01N23/207
Abstract: 本发明提供一种晶相定量分析装置，能够更简便地进行包含多个晶相的样品的定量分析。该晶相定量分析装置包括：取得样品的粉末衍射图的单元；取得多个晶相的信息的单元；取得分别针对多个晶相的拟合函数的单元；使用这些拟合函数，对粉末衍射图执行全图拟合，取得其结果的单元；以及基于其结果计算多个晶相的重量比的单元，其中，各拟合函数从由第一拟合函数、第二拟合函数、第三拟合函数构成的组中选择，第一拟合函数使用通过全图分解得到的积分强度，第二拟合函数使用根据观察或计算的积分强度，第三拟合函数使用根据观察或计算的峰形强度。
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公开(公告)号：CN106796298B
公开(公告)日：2020-01-21
申请号：CN201580045810.1
申请日：2015-07-10
Applicant: 株式会社理学
IPC: G01T1/17
Abstract: 本发明提供一种能够省去对校正表格进行重新设定的劳力和时间，使用户能立刻在期望的条件下测定X射线强度数据的数据处理装置、求取各像素的特性的方法、以及数据处理的方法及程序。对由像素检测器测定到的X射线强度数据进行校正的数据处理装置(100)具备：存储特定的检测器的各像素的特性的特性存储部(130)；将作为利用特定的检测器进行测定时的条件来输入的测定条件以及表示各像素的特性的值应用于表示各像素处的计数值的近似表达式，使用近似表达式的计算结果来生成针对特定的检测器的校正表格的校正表格生成部(120)；和使用所生成的校正表格，对由特定的检测器测定到的X射线强度数据进行校正的校正部(160)。
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公开(公告)号：CN108885186B
公开(公告)日：2019-11-12
申请号：CN201880001141.1
申请日：2018-02-22
Applicant: 株式会社理学
Inventor： 栗田清逸
IPC: G01N23/223 , G01N23/2202
Abstract: 本发明公开了一种荧光X射线分析装置。该荧光X射线分析装置包括：回收单元，随着向表面上存在被测量物的基板上滴下液滴，使滴下的所述液滴在所述基板表面上移动，将所述被测量物取入至所述液滴中；干燥单元，使所述液滴干燥，使所述被测量物保持在所述基板的表面上；分析单元，向所述被测量物照射X射线，基于从所述被测量物出射的荧光X射线对所述被测量物中包含的元素进行定量分析；光束传感器，在回收所述被测量物后，使所述液滴干燥前，出射带状的激光，所述带状的激光检测从所述回收单元离开的所述液滴的量；以及运算单元，根据所述光束传感器的检测结果计算用于校正所述液滴的量或所述被测量物的定量分析值的校正系数。
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公开(公告)号：CN109891589A
公开(公告)日：2019-06-14
申请号：CN201780066527.6
申请日：2017-07-05
Applicant: 株式会社理学
IPC: H01L27/146 , G01T7/00 , H01L27/144 , H04N5/32
Abstract: 本发明提供一种检测器，能够通过计数电路的设计在相邻的读出芯片的边缘附近确保像素配置的空间。检测器是检测放射线的二维混合像素阵列型的检测器，具备：检测部，通过各像素(115)对入射到区域内的放射线进行检测；以及多个读出芯片(120)，包含与每个像素(115)连接的计数电路(121)，沿着检测面上的固定方向，计数电路(121)的设定间距比像素(115)的设定间距小，像素和与像素对应的计数电路彼此所占据的区域至少部分地重叠，在重叠的区域内进行连接。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN109073574A
公开(公告)日：2018-12-21
申请号：CN201680082737.X
申请日：2016-12-22
Applicant: 株式会社理学
IPC: G01N23/207
Abstract: 本发明提供一种能够让用户容易地理解所选择的X射线光学系的测量的X射线分析的操作导向系统、操作导向方法、以及操作导向程序。具备：定性分析结果取得单元，其取得试样中所含有的多个结晶相的信息；重量比计算单元，其基于多个结晶相中的、进行了对洛伦兹偏振因子的补正后的衍射强度之和、化学式量、化学式单位中所包含的原子各自所属的电子的个数的平方和，来对所述多个结晶相的重量比进行计算。
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公开(公告)号：CN109073570A
公开(公告)日：2018-12-21
申请号：CN201780017067.8
申请日：2017-02-20
Applicant: 国立大学法人东北大学 , 株式会社理学
Abstract: 获取强度分布图像(10)的第1关注区域(101)中的第1ROI像素值和第2关注区域(102)中的第2ROI像素值。在第1和第2的关注区域的其中一方相对于另一方，被设定在强度分布图像中的强度调制的周期中相位差为π/2的位置或者其附近。接着，决定将第1和第2ROI像素值按每个强度分布图像进行绘制而得到的椭圆轨迹。接着，使用按每个规定角度分割椭圆轨迹而得到的至少k个角度区域所对应的强度分布图像来获取k张角度区域图像。接着，使用k张角度区域图像来生成放射线图像。在这里，k为3以上的整数。
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公开(公告)号：CN108885186A
公开(公告)日：2018-11-23
申请号：CN201880001141.1
申请日：2018-02-22
Applicant: 株式会社理学
Inventor： 栗田清逸
IPC: G01N23/223 , G01N23/2202
Abstract: 本发明公开了一种荧光X射线分析装置。该荧光X射线分析装置包括：回收单元，随着向表面上存在被测量物的基板上滴下液滴，使滴下的所述液滴在所述基板表面上移动，将所述被测量物取入至所述液滴中；干燥单元，使所述液滴干燥，使所述被测量物保持在所述基板的表面上；分析单元，向所述被测量物照射X射线，基于从所述被测量物出射的荧光X射线对所述被测量物中包含的元素进行定量分析；光束传感器，在回收所述被测量物后，使所述液滴干燥前，出射带状的激光，所述带状的激光检测从所述回收单元离开的所述液滴的量；以及运算单元，根据所述光束传感器的检测结果计算用于校正所述液滴的量或所述被测量物的定量分析值的校正系数。
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公开(公告)号：CN104656114B
公开(公告)日：2018-08-10
申请号：CN201410641399.1
申请日：2014-11-13
Applicant: 株式会社理学
IPC: G01T1/00
CPC classification number: G01T1/18 , G01N23/04 , G01N23/207 , G01N2223/643 , G01T1/026 , G01T1/171 , G01T1/24
Abstract: 本发明提供一种辐射线检测器、使用其的X射线分析装置及辐射线检测方法，能够维持辐射线连续入射的曝光状态而不会产生空载时间地检测辐射线。辐射线检测器(100)与外部设备(200)同步地检测辐射线，具备：在辐射线的粒子被检测到时产生脉冲的传感器(110)；被设置成能计数脉冲的多个计数器(140a、140b)；以及在从外部设备(200)接受了同步信号时切换多个计数器(140a、140b)之中对脉冲进行计数的计数器的控制电路(160)。
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公开(公告)号：CN107764847A
公开(公告)日：2018-03-06
申请号：CN201710699213.1
申请日：2017-08-16
Applicant: 株式会社理学
IPC: G01N23/20 , G01N23/207
Abstract: 本发明公开了X射线衍射装置。对计数器臂(52)搭载板状的X射线遮挡部件(60)，与X射线检测器(40)一起转动。X射线遮挡部件(60)相对从试样(S)衍射来的向X射线检测器(40)入射的衍射X射线，配置于其高角度侧。另外，通过X射线遮挡部件(60)的前端缘(60a)，规定衍射X射线可通过的高角度侧的边界，并且相对连接试样(S)的表面中的X射线照射区域的中心和该前端缘(60a)的直线倾斜地配置表面部分(60b)，用该表面部分(60b)遮挡要从衍射X射线的高角度侧入射到X射线检测器(40)的散射X射线。
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