公开(公告)号：CN111735828B

公开(公告)日：2024-12-20

申请号：CN202010190202.2

申请日：2020-03-18

Applicant: 株式会社理学

Inventor： 刑部刚 ,  小泽哲也 ,  尾本和树

IPC: G01N23/00 ,  G01N23/201 ,  G01N23/207

Abstract: 本发明提供一种以简单的结构实现小型并能够进行微小部测定的X射线分析装置。一种X射线分析装置具备：测角仪，其具有沿着第一方向延伸的入射侧臂、固定部和接收侧臂；X射线源部，其配置在所述入射侧臂上，用于产生沿着与所述第一方向交叉的第二方向延伸的X射线源；支撑台，其配置在所述固定部上，用于支撑样品；平行狭缝，其配置在所述固定部上，用于限制由所述X射线源部所产生的X射线源沿着所述第二方向的线宽；以及检测器，其配置在所述接收侧臂上，用于检测由所述样品所产生的散乱X射线。

公开(公告)号：CN111735828A

公开(公告)日：2020-10-02

申请号：CN202010190202.2

申请日：2020-03-18

Applicant: 株式会社理学

Inventor： 刑部刚 ,  小泽哲也 ,  尾本和树

IPC: G01N23/00 ,  G01N23/201 ,  G01N23/207

Abstract: 本发明提供一种以简单的结构实现小型并能够进行微小部测定的X射线分析装置。一种X射线分析装置具备：测角仪，其具有沿着第一方向延伸的入射侧臂、固定部和接收侧臂；X射线源部，其配置在所述入射侧臂上，用于产生沿着与所述第一方向交叉的第二方向延伸的X射线源；支撑台，其配置在所述固定部上，用于支撑样品；平行狭缝，其配置在所述固定部上，用于限制由所述X射线源部所产生的X射线源沿着所述第二方向的线宽；以及检测器，其配置在所述接收侧臂上，用于检测由所述样品所产生的散乱X射线。