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公开(公告)号：CN101939659A
公开(公告)日：2011-01-05
申请号：CN200880126262.5
申请日：2008-02-07
Applicant: 爱德万测试株式会社
Inventor： 宫田健
IPC: G01R31/26
CPC classification number: G01R1/07371 , G01R1/0483 , G01R1/06772
Abstract: 提供一种测试装置中信号衰减较小的种类更换单元。该种类更换单元根据被测试设备的种类安装在测试装置上，插在被测试设备及测试装置之间的信号通道上，包括：插口板，其具有表面及背面并在表面侧接近及隔离被测试设备；以及多个弹簧针，其与被测试设备的连接端子同样配置由插口板支持，且其前端突出于插口板的表面并与被测试设备的连接端子搭接。
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公开(公告)号：CN101027566B
公开(公告)日：2010-10-27
申请号：CN200580032272.9
申请日：2005-09-21
Applicant: 爱德万测试株式会社
IPC: G01R31/28
CPC classification number: G06F17/5022 , G01R31/3183 , G01R31/318357 , G06F11/263
Abstract: 本发明提供一种测试模拟器，其用来模拟半导体装置的测试，此测试模拟器包括：测试图样(pattern)保持组件，其保持着应施加至半导体装置的既存的测试图样；装置输出保持组件，其在施加既存的测试图样至半导体装置中时预先保持着应由半导体装置所得到的输出；测试图样产生组件，其产生应施加至半导体装置中的新的测试图样；测试图样判断组件，其判断“新的测试图样是否与既存的测试图样相同”；以及模拟跳过(skip)组件，在新的测试图样与既存的测试图样相同的情况下，不对半导体装置施加新的测试图样，借由装置输出保持组件中的输出被读出，以作为由半导体装置对新的测试图样所发出的输出，以跳过此模拟测试的至少一部份。
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公开(公告)号：CN101283283B
公开(公告)日：2010-09-29
申请号：CN200580051804.3
申请日：2005-10-13
Applicant: 爱德万测试株式会社
IPC: G01R31/26
CPC classification number: G01R31/2893
Abstract: 一种插入件，在半导体测试装置内，收容被测试半导体器件(100)，其配置有：框部(520)；支持被测试半导体器件(100)的IC收容部(530)；在能够改变框部(520)以及IC收容部(530)的相对位置的状态下，彼此连接框部(520)以及IC收容部(530)的连接部；在特定期间内把IC收容部(530)引导到与框部(520)对应的相对性规定位置的导向部。
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公开(公告)号：CN1842716B
公开(公告)日：2010-08-18
申请号：CN200580000296.6
申请日：2005-07-12
Applicant: 爱德万测试株式会社
Inventor： 村田清志
IPC: G01R31/28
CPC classification number: G01R31/31928 , G01R31/31924
Abstract: 本发明的测试待测设备的测试装置包括指令执行部，其在每个指令循环中依次执行待测设备的测试程序中所含有的指令；测试图像存储器，其执行各指令，存储对执行此指令的指令循环期间中所输出的测试图像列的图像长度进行识别的图像长度识别信息以及此测试图像列；测试图像存储器读取部，其在执行一个指令的情形时，将长度与通过执行一个指令而存储在测试图像存储器的图像长度识别信息相对应的测试图像列自测试图像存储器中读取；以及测试图像输出部，其在执行一个指令的指令循环期间中，对应于一个指令将测试图像存储器读取部所读取的测试图像列输出到待测设备的端子中。
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公开(公告)号：CN101006353B
公开(公告)日：2010-08-11
申请号：CN200580027678.8
申请日：2005-08-15
Applicant: 爱德万测试株式会社
IPC: G06F17/50
CPC classification number: G06F11/24 , G01R31/31703 , G06F11/261 , G06F11/277
Abstract: 一种测试模拟器，模拟半导体元件的测试，包括：测试图案供给装置，对模拟半导体元件的动作的元件模拟器供给测试图案；期望值储存装置，把依测试图案从元件模拟器输出的输出信号与预定的期望值相比较的比较时点，对应到比较时点的期望值而储；边缘判断装置，在比较时点中输出信号与期望值一致的场合时，判断输出信号与期望值一致的边缘的大小；以及通知装置，当边缘的大小比基准值还要小时，把比较时点的边缘小的标题通知给使用者。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN101128742B
公开(公告)日：2010-05-19
申请号：CN200680006066.5
申请日：2006-02-22
Applicant: 爱德万测试株式会社
Inventor： 桥本好弘
IPC: G01R31/28
CPC classification number: G01R31/31924 , G01R19/0092 , G01R31/3008
Abstract: 本发明提供一种电流测量装置，测量电子器件由输入端子所接受的电流，该电流测量装置包括第1电容，用于蓄积在电流测量中作为供给所述电子器件的电压基准的基准供给电压、第1开关，在电流测量前，将电源连接到所述第1电容上，使其蓄积所述基准供给电压，在电流测量中从所述第1电容断开所述电源、电流供给部，在电流测量中，向所述电子器件提供依据所述第1电容上蓄积的所述基准供给电压及所述输入端子的端电压的电流、第1电流测量部，测量供给所述电子器件的供给电流。
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公开(公告)号：CN101689886A
公开(公告)日：2010-03-31
申请号：CN200880023911.9
申请日：2008-07-09
Applicant: 爱德万测试株式会社
CPC classification number: G01R31/31924 , G01R31/3191
Abstract: 提供一种修正电路，其包括第1检测部、放大部、修正信号生成部与输出信号生成部。第1检测部检测输入信号的波形。放大部将第1检测部所检测的波形进行放大。修正信号生成部提取放大部所放大的波形的交流成分而生成修正信号。输出信号生成部在输入信号的波形上重叠修正信号而生成输出信号。第1检测部检测输入信号的波形及反转波形；放大部放大输入信号的波形及反转的波形；修正信号生成部，分别提取放大部所放大的输入信号的波形及反转的波形的交流成分而生成修正信号及反转修正信号；输出信号生成部在输入信号的波形上重叠修正信号、在输入信号的反转波形上重叠反转修正信号，而生成输出信号的差动信号对。
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公开(公告)号：CN101646954A
公开(公告)日：2010-02-10
申请号：CN200880010198.4
申请日：2008-03-21
Applicant: 爱德万测试株式会社
IPC: G01R31/28 , H01L21/822 , H01L27/04
CPC classification number: G01R31/31813 , G01R31/318385 , G01R31/318544
Abstract: 本发明提供一种测试装置，是测试具有外部接口电路的被测试器件的测试装置，所述外部接口电路在该器件内部的内部电路和该器件外部之间进行信号传输，所述测试装置包括：接口控制部，使在所述外部接口电路中折回输出所述测试图形；接口判断部，根据所述外部接口电路折回输出的所述测试图形，判定所述外部接口电路的好坏。
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公开(公告)号：CN100582803C
公开(公告)日：2010-01-20
申请号：CN200510125937.2
申请日：2005-11-28
Applicant: 爱德万测试株式会社
Inventor： 小林信一
IPC: G01R31/3183 , G06F11/00
CPC classification number: G01R31/31813 , G01R31/31919
Abstract: 本发明是提供一种测试装置，该测试装置包含指令执行部，其依次执行测试程序中所含有的指令；既定图像存储器，其相应于既定图像识别信息存储既定图像列；测试图像存储器，其相应于各指令，存储对指令循环期间中所输出的测试图像列或者此指令循环期间中所输出的既定图像列加以识别的既定图像识别信息；测试图像存储器读取部，其读取相应于一个指令而存储在测试图像存储器中的测试图像列或者既定图像识别信息；既定图像读取部，其在读取既定图像识别信息后，读取相应于此既定图像识别信息的既定图像列；测试图像输出部，其在指令循环期间中，将测试图像存储器读取部所读取的测试图像列或者既定图像读取部所读取的既定图像列输出到待测设备的端子中。
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公开(公告)号：CN101542305A
公开(公告)日：2009-09-23
申请号：CN200780043245.0
申请日：2007-11-15
Applicant: 爱德万测试株式会社
Inventor： 三桥尚史
CPC classification number: G01R31/31917 , G01R31/31928
Abstract: 本发明提供一种测试装置，用于测试被测试设备，该测试装置包括：对被测试设备供给测试信号的信号供给部；将按照所述测试信号，从所述被测试设备输出的输出信号作为被测量信号而输入的输入部；根据指定对被测量信号取样的时限的取样时钟，生成具有与被测量信号的1周期对应的脉冲宽度的周期脉冲的周期脉冲生成部；输出与周期脉冲的宽度对应的电压的变换部；将电压变换成数字电压值的AD转换器；从数字电压值算出表示周期脉冲的脉冲宽度的数字脉冲宽度的脉冲宽度计算部；调整从数字电压值向数字脉冲宽度变换的变换参数的调整部。
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