-
公开(公告)号：CN102436060B
公开(公告)日：2014-02-26
申请号：CN201110418572.8
申请日：2011-12-15
Applicant: 北京振兴计量测试研究所
Abstract: 本发明提出一种无热化的可见光变焦镜头，依次由胶合透镜组I、透镜I、胶合透镜组II、胶合透镜组III、透镜II和透镜III，胶合透镜组和透镜采用铝合金镜筒联结。本发明通过采用被动无热化设计、变焦距光学设计及合理匹配透镜的材料、半径、距离和厚度参数，使镜头既能实现焦距从20mm到80mm之间变化又能在-40℃～60℃温度范围内实现被动无热化，省却了测温调焦机构，提高了系统可靠性。另外本发明通过采用被动无热化设计、变焦距设计技术及合理匹配透镜的材料、半径、距离和厚度参数，还减小了像差(球差、彗差、象散、场曲、色差及畸变)，提高了镜头光学传递函数，使得镜头可以在-40℃～60℃温度范围内对景物进行变焦距成像。该镜头用于远距离可见光景物的摄取。
-
公开(公告)号：CN103175677A
公开(公告)日：2013-06-26
申请号：CN201310065833.1
申请日：2013-03-04
Applicant: 北京振兴计量测试研究所
Abstract: 本发明涉及紫外光参数校准技术领域，具体的讲是一种紫外多参数校准装置，旋转平台内置于所述真空仓内，单色仪与真空仓相连接，紫外探测器通过单色仪测量真空仓内的紫外光源的辐射，或者紫外光源通过单色仪向真空仓提供紫外光源的辐射；标准紫外光源，待校准光源，标准紫外探测器，待校准探测器，紫外成像器和紫外成像参数校准系统均置于所述旋转平台之上，所述旋转平台根据控制信号沿着所述旋转平台的圆心旋转，其中，所述紫外成像器和紫外成像参数校准系统处于同一光路。通过上述实施例，能够在一个共用校准装置上实现紫外光源光谱辐射度校准、紫外探测器光谱响应度和紫外成像器参数的校准，节省了试验成本，提高了试验效率。
-
公开(公告)号：CN103148939A
公开(公告)日：2013-06-12
申请号：CN201310062603.X
申请日：2013-02-28
Applicant: 北京振兴计量测试研究所
IPC: G01J3/28
Abstract: 本发明涉及光学测试技术领域，具体的讲是一种抑制二级光谱的紫外光谱测量方法及系统，其中包括当进行110nm-200nm波段的紫外光谱测量时，将真空仓抽真空，紫外辐射透过所述真空仓的氟化镁窗口进入到检测设备，其中所述氟化镁窗口用于吸收波段在110nm以下的紫外辐射；当进行200nm-400nm波段的紫外光谱测量时，向所述真空仓中注入气体，所述紫外辐射通过所述真空仓中的空气和所述氟化镁窗口进入到检测设备，其中所述空气吸收波段在200nm以下的紫外辐射。通过本发明的实施例，在紫外光谱测量时光源光谱辐射度校准和探测器响应度校准中，将二级光谱的杂散辐射有效滤除，减少测量误差，提升测量精度。
-
-
公开(公告)号：CN120027920A
公开(公告)日：2025-05-23
申请号：CN202311562234.0
申请日：2023-11-22
Applicant: 北京振兴计量测试研究所
IPC: G01J5/46
Abstract: 本发明涉及一种材料辐射特性的测量方法，解决了现有技术中在较高温度下材料辐射特性测量精度低的问题。包括如下步骤：将被测材料置于温控装置中，被测材料的中心正对温控装置的辐射口，并设置到设定温度；所述被测材料为结构材料或窗口材料；调整被测材料、标准黑体与傅立叶光谱辐射计位置，使得被测材料和标准黑体发出的辐射信号能够分别被所述傅立叶光谱辐射计接收并测量得到光谱辐射量值；基于被测材料和标准黑体发出的光谱辐射量值，使用处理器计算得到材料的辐射特性；包括：结构材料的法向光谱发射率、窗口材料的辐射透射率和基于所述辐射透射率计算的窗口材料的法向光谱发射率。实现了高温下材料辐射特性的精确测量。
-
Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN115493705B
公开(公告)日：2024-08-06
申请号：CN202110672172.3
申请日：2021-06-17
Applicant: 北京振兴计量测试研究所
IPC: G01J5/12
Abstract: 本发明提供了一种弥散条件下高温物体表面温度测量装置及方法，装置包括光收集模块、分光模块、n个探测器、反演模型模块、温度获取模块和温度处理模块；光收集模块用于收集被测高温物体辐射的光，并将辐射的光入射至分光模块；分光模块用于将入射光分为n路不同波段的光，并分别投影至对应的探测器；反演模型模块用于获取被测高温物体对应的反演系数；温度获取模块用于获取n个探测器上每个像素点位置对应的辐射亮温，得到n个探测器上每个像素点位置对应的修正后的辐射亮温；温度处理模块用于获取被测高温物体的表面温度。本发明能解决现有测温方法无法满足航空航天热试验和冶金铸造生产等领域对水雾等弥散介质条件下的红外辐射测温需求的问题。
-
公开(公告)号：CN114688990B
公开(公告)日：2023-11-03
申请号：CN202011576170.6
申请日：2020-12-28
Applicant: 北京振兴计量测试研究所
IPC: G01B11/24
Abstract: 本发明提供了一种基于光场相机的多参数三维测量装置、系统及方法，所述装置包括：脉冲激光组件、滤光组件、光场相机以及处理单元；其中，所述脉冲激光组件发出脉冲光束以对待测目标进行周期性的照明，且所述待测目标能够在脉冲激光组件发出脉冲光束时，根据脉冲光束形成反射光；滤光组件用于根据脉冲光束对反射光进行滤光，以及对待测目标的自发光进行滤光；光场相机基于滤光后的反射光以及自发光采集待测目标的图像以分别获得速度光场图像以及温度光场图像；处理单元用于根据所述速度光场图像获取待测目标的速度，以及根据温度光场图像获取待测目标的温度。上述装置既可以获取温度，也可以获取速度，适用于发动机试车试验中开展多参数测量工作。
-
公开(公告)号：CN114303686B
公开(公告)日：2023-10-20
申请号：CN202011055301.6
申请日：2020-09-30
Applicant: 北京振兴计量测试研究所
IPC: A01G7/06
Abstract: 本发明提供了一种农作物顶端优势去除装置及方法，所述装置包括：光纤激光器组件、传输光纤、扩束准直组件以及F‑θ镜；所述光纤激光器组件通过所述传输光纤将激光束传入所述扩束准直组件；所述扩束准直组件依据所述F‑θ镜与农作物顶芽之间的距离调整所述激光束的发散角、腰斑半径及腰斑位置，使所述激光束经过F‑θ镜后聚焦到所需去除的农作物顶芽所在的区域去除农作物顶芽。本发明的农作物顶端优势去除装置及方法，通过高能量的激光进行精准切割，不会对切割区域外的农作物植株造成损伤，精准控制激光的作用范围和强度，提高了打顶效率，保护农作物等植株，增加农作物的产量和品质。
-
公开(公告)号：CN114323061A
公开(公告)日：2022-04-12
申请号：CN202011055701.7
申请日：2020-09-30
Applicant: 北京振兴计量测试研究所
IPC: G01C25/00
Abstract: 本发明公开了一种星光模拟器几何参数现场校准装置及系统，装置包括光学元件、平移机构、图像采集装置及数据处理装置；所述光学元件安装于所述平移机构上，所述图像采集装置安装于所述平移机构的一端；所述光学元件用于将待校准星光模拟器的出射光进行折转，所述平移机构用于带动所述光学元件和所述图像采集装置进行平移，平移过程中所述图像采集装置用于采集出射光经所述光学元件转折后形成的星光图像并发送至所述数据处理装置，所述数据处理装置用于根据所述星光图像计算所述待校准星光模拟器的平行度；该装置无需使用准直仪，避免人眼对准和读书误差，提高星光模拟器平行度校准的准确性和可靠性。
-
公开(公告)号：CN113916386A
公开(公告)日：2022-01-11
申请号：CN202010644796.X
申请日：2020-07-07
Applicant: 北京振兴计量测试研究所
IPC: G01J9/00
Abstract: 一种基于气体电离室的真空紫外波长校准装置，包括：真空紫外光源为气体放电光源，前端窗口为氟化镁窗口，用来提供覆盖120nm～200nm波段范围的光谱能量；真空紫外单色分光系统包括入射狭缝、分光光栅、出射狭缝，真空紫外光源的光经入射狭缝进入，经分光光栅分光形成单色光，经出射狭缝出射；真空紫外准直系统包括多片光学镜片，使得真空紫外准直系统的焦面位置与真空紫外单色分光系统的出射狭缝位置重合，对真空紫外单色分光系统的出射光进行准直，形成平行光出射；真空紫外漫射系统为长方形，铝基底材料进行打磨制成，其表面为漫反射表面；真空紫外切换机构为圆形转台或平移导轨，可将漫射系统移入移出。
-
-
-
-
-
-
-
-
-
Search Results
128
records
(took 0.04 seconds)
