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公开(公告)号：DE102004014025A1
公开(公告)日：2005-10-13
申请号：DE102004014025
申请日：2004-03-19
Applicant: LEICA MICROSYSTEMS
Inventor： SIECKMANN FRANK
Abstract: The method involves attaining and subsequently evaluating data from several microscopic samples, where the data is introduced for indication on various media. A compound is scanned by an electronically controlled compound table, by initially recording an individual microscopic image with a charge coupled device (CCD) camera and storing the image to any data medium. An independent claim is also included for a microscope for analyzing and recording the image.
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公开(公告)号：DE102004051508A1
公开(公告)日：2005-06-16
申请号：DE102004051508
申请日：2004-10-21
Applicant: LEICA MICROSYSTEMS
Inventor： SIECKMANN FRANK , JOHANNSEN GERHARD
IPC: G01N1/28 , G01N33/48 , G01N33/483
Abstract: The micro-dissection method has a required separation line marked for a microscopic object to be separated out in a biological preparation, with subsequent cutting along the separation line via relative movement of a laser beam. An electronic image of the preparation is recorded and analyzed for automatic identification of an object to be separated out and marking of the separation line.
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公开(公告)号：DE10324329A1
公开(公告)日：2004-12-23
申请号：DE10324329
申请日：2003-05-29
Applicant: LEICA MICROSYSTEMS
Inventor： SIECKMANN FRANK , EIJSACKERS MARCEL JOHAN
Abstract: A microscope object (2) carrier (3) unit has a wide temperature range, reusable, read writable programmable chip module (5) secure memory (4) fitting a recess in the carrier and with gold plated electrical contact mechanical interface (7) to a computer data processing system containing planning and investigation step information. Includes INDEPENDENT CLAIMs for the procedures used with the object carrier.
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公开(公告)号：DE102019218705A1
公开(公告)日：2021-06-02
申请号：DE102019218705
申请日：2019-12-02
Applicant: LEICA MICROSYSTEMS
Inventor： SIECKMANN FRANK
Abstract: Gezeigt ist eine Befestigungsanordnung (1) zur Ausrichtung und Halterung eines Bauteils (200) an einer optischen Apparatur (100), mit einem apparaturseitigen Abschnitt (10) und einem wiederholt lösbar mit dem apparaturseitigen Abschnitt (10) verbindbaren bauteilseitigen Abschnitt (20), wobei der apparaturseitige Abschnitt (10) eine erste magnetische Halteanordnung (30) aufweist und der bauteilseitige Abschnitt (20) eine zweite magnetische Halteanordnung (40) aufweist, wobei eine magnetische Halteanordnung (30, 40) einen Magneten (39, 49) und die andere magnetische Halteanordnung (40, 30) einen Magneten (49, 39) oder ein ferromagnetisches Element aufweist. Ferner gezeigt ist eine optische Apparatur (100) oder ein Bauteil (200) zur Anbringung an einer optischen Apparatur (100), wobei die optische Apparatur (100) oder das Bauteil (200) eine magnetische Halteanordnung (30, 40) zur Befestigung am jeweils anderen Element (200, 100) mittels eines Magneten (39, 49) umfasst.
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公开(公告)号：DE102018219867A1
公开(公告)日：2020-05-20
申请号：DE102018219867
申请日：2018-11-20
Applicant: LEICA MICROSYSTEMS
Inventor： SIECKMANN FRANK , KAPPEL CONSTANTIN
Abstract: Die Erfindung betrifft ein Verfahren (500) und eine Vorrichtung (130; 210, 220, 230) zur Bestimmung einer Fokusposition mittels trainierter Modelle. Die Lösungen aus dem Stand der Technik haben den Nachteil, dass die Bestimmung einer Fokusposition langsam oder fehleranfällig ist. Das erfindungsgemäße Verfahren (500) und die erfindungsgemäße Vorrichtung (130; 210, 220, 230) verbessern Lösungen aus dem Stand der Technik durch Aufnehmen (510) mindestens eines ersten Bildes (310, 320), wobei Bilddaten des mindestens einen aufgenommenen ersten Bildes (310, 320) von mindestens einer ersten Fokusposition bei der Aufnahme des mindestens einen ersten Bildes abhängen, und Bestimmen (520) einer zweiten Fokusposition (340) basierend auf einer Analyse des mindestens einen aufgenommenen ersten Bildes (310, 320) mittels eines trainierten Modells (136)..
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：DE102018217903A1
公开(公告)日：2020-04-23
申请号：DE102018217903
申请日：2018-10-18
Applicant: LEICA MICROSYSTEMS
Inventor： SIECKMANN FRANK , KAPPEL CONSTANTIN
Abstract: Die Erfindung betrifft ein Verfahren (1300) und eine Vorrichtung (100) zur Optimierung von Arbeitsabläufen mindestens eines Mikroskops oder Mikroskopsystems (210; 330, 350; 500; 1050; 1212, 1214, 1216). Die Lösungen aus dem Stand der Technik haben den Nachteil, dass Arbeitsabläufe nur mit großem Aufwand optimiert werden können. Das erfindungsgemäße Verfahren (1300) und die erfindungsgemäße Vorrichtung (100) verbessern Lösungen aus dem Stand der Technik durch die folgenden Schritte: a) Ausführen (1310) eines Arbeitsablaufes durch ein oder mehrere Komponenten (260, 270) mindestens eines Mikroskops und/oder Mikroskopsystems (210; 330, 350; 500; 1050; 1212, 1214, 1216), wobei der Arbeitsablauf ein Erfassen von ersten Daten (510, 520) umfasst, b) Anwenden (1330) eines trainierten Modells (420, 430, 440; 530; 1220) auf die erfassten ersten Daten (510, 520), und c) Treffen (1340) mindestens einer Entscheidung den Arbeitsablauf betreffend basierend auf dem Anwenden des trainierten Modells (420, 430, 440; 530; 1220).
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公开(公告)号：LU100024B1
公开(公告)日：2018-07-30
申请号：LU100024
申请日：2017-01-20
Applicant: LEICA MICROSYSTEMS
Inventor： SIECKMANN FRANK
Abstract: Es wird ein Verfahren zum sequentiellen Untersuchen einer Mehrzahl von Proben (10) mittels eines Lichtblattebenen-Mikroskops vorgeschlagen. Das Verfahren zeichnet sich durch eine Abfolge von Schritten aus, die es erlaubt, eine Mehrzahl von an vorgegebenen Positionen angeordneten Proben (10) nacheinander zu untersuchen. Weiterhin werden eine Probentragereinheit (22) und eine Aufnahmeeinheit (34) vorgeschlagen, die insbesondere in Kombination besonders zur Durchfuhrung des Verfahrens geeignet sind.
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公开(公告)号：DE102017116892A1
公开(公告)日：2018-02-01
申请号：DE102017116892
申请日：2017-07-26
Applicant: LEICA MICROSYSTEMS
Inventor： KNEBEL WERNER , SIECKMANN FRANK
Abstract: Es wird eine Lichtquellenmodul zur Erzeugung einer Lichtblattebene vorgeschlagen, mit einem Lichtquellenmodulgehäuse, einem innerhalb des Lichtquellenmodulgehäuses angeordneten Lichtblattebenengenerator zur Beeinflussung eines Lichtstrahls derart, dass außerhalb des Lichtquellenmodulgehäuses eine Lichtblattebene erzeugt wird, und einer Austrittsfläche des Lichtquellenmodulgehäuses, aus der der Lichtstrahl austritt. Das Lichtquellenmodul kann so äußerst kompakt hergestellt werden und eröffnet neue Möglichkeiten zur Anwendung der Lichtblattebenenmikroskopie einzeln oder in Kombination mit anderen Mikroskopiemethoden.
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公开(公告)号：LU92695B1
公开(公告)日：2016-10-18
申请号：LU92695
申请日：2015-04-17
Applicant: LEICA MICROSYSTEMS
Inventor： KNEBEL WERNER , SIECKMANN FRANK , FAHRBACH FLORIAN
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公开(公告)号：LU92695A1
公开(公告)日：2016-10-18
申请号：LU92695
申请日：2015-04-17
Applicant: LEICA MICROSYSTEMS
Inventor： KNEBEL WERNER , SIECKMANN FRANK , FAHRBACH FLORIAN
CPC classification number: G02B21/18 , G01N21/47 , G02B21/0052 , G02B21/0064 , G02B21/06 , G02B21/10 , G02B21/362 , G02B21/367
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