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公开(公告)号:CN104296884B
公开(公告)日:2017-12-12
申请号:CN201410567490.3
申请日:2014-10-22
Applicant: 上海交通大学
IPC: G01J11/00
Abstract: 本发明涉及一种超高速时间‑波长交织光脉冲序列通道失配测量和补偿方法,包括待测超高速时间‑波长交织光脉冲产生模块,光频谱测量模块,电频谱测量模块以及数据分析与处理模块。本发明通过对超高速时间‑波长交织光脉冲序列的频域测量与分析,得到了各个通道脉冲序列的失配信息,克服了通过示波器进行时域观测方法中采样率不足的瓶颈。本发明得到的通道失配信息可进一步作为超高速时间‑波长交织光脉冲序列通道失配补偿和校正的依据。
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公开(公告)号:CN106664759A
公开(公告)日:2017-05-10
申请号:CN201580036326.2
申请日:2015-06-19
Applicant: 奥斯兰姆施尔凡尼亚公司
IPC: H05B33/08
CPC classification number: H05B33/0869 , G01J1/0228 , G01J1/0238 , G01J1/16 , G01J1/58 , G01J2001/1673
Abstract: 公开了用于随时间经过而维持照明组件的一致的流明输出的技术。通过维持一致的流明输出,可能的是在使用多个输出的色彩混合的情况下维持可接受的色彩稳定性。照明组件可以是可能随时间经过而遭受流明降落和/或色彩漂移的任何照明配置,并且可以包括可以被相应地监控并驱动的任何(多个)类型的(多个)光源。除了(多个)光源之外,照明组件包括光电检测器和诸如激光器的被引导光源。被引导光源提供用于在对光电检测器进行校准中使用的标准样本,光电检测器进而监控(多个)光源的流明输出。驱动信号被调整以计及所监控的(多个)光源的流明降落。
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公开(公告)号:CN103597522B
公开(公告)日:2016-10-05
申请号:CN201280027817.7
申请日:2012-06-01
Applicant: 锡克拜控股有限公司
IPC: G07D7/1205 , G01N21/64
CPC classification number: G01N21/6408 , G01J1/58 , G01N2201/062 , G07D7/1205
Abstract: 所公开的扫描仪允许在配送/生产线上甚至以高速传送的项目上的发光标记发射的光的衰减时间特性。扫描仪的光传感器的检测带具有沿着移动项目的路径伸长的形状,并且在发射的发光的波长范围内的光传感器的响应在检测带上方是均匀的。扫描仪的控制单元进一步可操作以适应驱动电流或驱动电压,对其激发光源供电以因此适应被发送到标记的激发光的强度以便其光传感器可以可靠地测量相应的发光响应,并且因此准确地确定相应的衰减时间值。
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公开(公告)号:CN103124990B
公开(公告)日:2016-08-03
申请号:CN201180034141.X
申请日:2011-05-10
Applicant: 詹姆斯·辛克莱尔·波佩尔
Inventor: 詹姆斯·辛克莱尔·波佩尔
IPC: G08B17/12
Abstract: 一种火灾探测器,包括传感器(4),其在使用中用于探测由火焰放射出的电磁辐射,并且产生电子信号,电子信号对应于所探测到的电磁辐射。火灾探测器还包括处理设备(2),处理设备(2)被配置为选择与第一时段相对应的电子信号的一部分,并且将所选择的信号部分与至少一个参数进行比较,以确定火焰的初步存在或不存在,处理设备被进一步配置为,一旦确定火焰的初步存在,则选择与另一时段相对应的电子信号的另一部分,并且将所选择的另一信号部分与至少一个参数进行比较,以确定火焰的确切存在或不存在。
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公开(公告)号:CN103229042B
公开(公告)日:2016-06-29
申请号:CN201180057025.X
申请日:2011-11-14
Applicant: 奥林巴斯株式会社
IPC: G01N21/64
CPC classification number: G01J1/16 , G01C21/02 , G01J1/58 , G01N15/1463 , G01N21/6452 , G01N21/6458 , G01N2021/6421 , G02B21/0032 , G02B21/0076 , G02B21/26
Abstract: 按照本发明的使用利用共焦显微镜或多光子显微镜进行光计量的扫描分子计数法对来自发光粒子的光进行检测并分析的技术的特征在于,一边通过变更显微镜的光学系统的光路来使光学系统的光检测区域的位置在样本溶液内移动,一边检测来自光检测区域的光的多个波长频带的成分的强度,在检测出的光的多个波长频带的成分的强度中个别地检测来自各个发光粒子的光的信号,根据检测出的发光粒子的光的信号的多个波长频带的成分的强度来识别发光粒子的种类。
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公开(公告)号:CN105393143A
公开(公告)日:2016-03-09
申请号:CN201480040904.5
申请日:2014-07-15
Applicant: 佳能株式会社
Inventor: 铃木正隆
CPC classification number: G01J1/44 , G01J1/0214 , G01J1/0271 , G01J1/42 , G01J1/58 , G01J2001/0276 , G01T1/24 , G21F1/00
Abstract: 放射线成像装置包括被配置为检测由放射线产生单元辐射的放射线的放射线检测面板、布置在该放射线的入射方向侧的第一部件和第二部件、及布置在与该放射线的入射方向相对的一侧的第三部件和第四部件。第二部件被布置在第一部件和放射线检测面板之间,并且第三部件被布置在放射线检测面板和第四部件之间。第二部件和第三部件在弹性模量上低于第一部件和第四部件,并且第二部件的弹性模量等于或低于第三部件的弹性模量。
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公开(公告)号:CN103487139B
公开(公告)日:2015-07-29
申请号:CN201210192083.X
申请日:2012-06-12
Applicant: 清华大学 , 鸿富锦精密工业(深圳)有限公司
IPC: G01J1/04
CPC classification number: G01J1/42 , G01J1/0411 , G01J1/08 , G01J1/4228 , G01J1/4257 , G01J1/58 , G01J2001/4247
Abstract: 一种光强分布的测量方法,包括以下步骤:提供一设置于基底一表面的碳纳米管阵列,并将该设置于基底的碳纳米管阵列放置于一惰性环境或真空环境中,所述碳纳米管阵列具有一远离基底的第一表面;用一待测光源照射所述碳纳米管阵列的第一表面,使该碳纳米管阵列辐射出可见光;提供一反射镜,使该碳纳米管阵列所辐射的可见光经该反射镜反射;以及利用一成像元件对反射镜所反射的可见光成像,并读出待测光源的光强分布。
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公开(公告)号:CN104412330A
公开(公告)日:2015-03-11
申请号:CN201380036275.4
申请日:2013-05-16
Applicant: 西门子公司
IPC: G21K4/00
CPC classification number: G01T1/20 , C23C14/0694 , G01J1/58 , G01T1/2012 , G21K4/00 , G21K2004/04 , G21K2004/10
Abstract: 本发明涉及一种闪烁器板,该闪烁器板包括基板、缓冲层、布置在缓冲层上的闪烁器层,还包括保护层。缓冲层和/或保护层被着色。本发明还涉及一种闪烁器板的制造方法。
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公开(公告)号:CN104296884A
公开(公告)日:2015-01-21
申请号:CN201410567490.3
申请日:2014-10-22
Applicant: 上海交通大学
IPC: G01J11/00
Abstract: 本发明涉及一种超高速时间-波长交织光脉冲序列通道失配测量和补偿方法,包括待测超高速时间-波长交织光脉冲产生模块,光频谱测量模块,电频谱测量模块以及数据分析与处理模块。本发明通过对超高速时间-波长交织光脉冲序列的频域测量与分析,得到了各个通道脉冲序列的失配信息,克服了通过示波器进行时域观测方法中采样率不足的瓶颈。本发明得到的通道失配信息可进一步作为超高速时间-波长交织光脉冲序列通道失配补偿和校正的依据。
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公开(公告)号:CN102192786B
公开(公告)日:2014-10-29
申请号:CN201110069976.0
申请日:2011-03-18
Applicant: 大*电子株式会社
CPC classification number: G01N21/645 , G01J1/58 , G01J3/0254 , G01J2001/0481 , G01J2001/4247 , G01N2021/6417 , G01N2021/6469 , G01N2201/0655
Abstract: 本发明提供一种量子效率测量方法、量子效率测量装置和积分器。该量子效率测量方法包括以下步骤:步骤(S10),将试样配置在具有积分空间的积分器内的规定位置;步骤(S12),向试样照射激发光,并且经由第2窗将积分空间内的光谱作为第1光谱进行测量;步骤(S20),将激发光入射部分构成为使透过试样后的激发光不向积分空间内反射;步骤(22),向试样照射激发光,并且经由第2窗将积分空间内的光谱作为第2光谱进行测量;步骤(S40、S42、S46),基于第1光谱中的与激发光的波长范围相对应的成分和第2光谱中的与试样受到激发光的照射而发出的光的波长范围相对应的成分算出试样的量子效率。
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