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公开(公告)号：CN1677164B
公开(公告)日：2010-04-28
申请号：CN200510062742.8
申请日：2005-03-28
Applicant: 朗迅科技公司
Inventor： 克利斯托弗尔·A·弗奇 , 迈克尔·瓦瑟尔耶夫 , 博尔纳德·尤克
CPC classification number: G01J4/04 , G02B5/3066 , G02B27/28
Abstract: 本发明公开一种基本上同时地将在光输入处接收的光分离成在光输出上的三个或更多输出光束的被动光系统。输出光束可以具有与接收光在斯托克斯空间的四面体基集的三个或更多基向量上的光投影的强度成正比的强度。该系统包括多个部分偏振分光器或多个光干涉仪。
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公开(公告)号：CN1841030A
公开(公告)日：2006-10-04
申请号：CN200610068280.5
申请日：2006-03-27
Applicant: 欧姆龙株式会社 , 国立大学法人北海道大学
IPC: G01J3/447
Abstract: 本发明提供一种分光偏振测定法。在该沟槽分光偏振测定法中，有效消除了表示试样分光偏振特性的参数的测量误差，该误差是由于延迟器基于试样状态的各种延迟变化而引起的。关注的焦点是通过稳定透射过延迟器的光的入射方向可保持延迟器的延迟恒定；相对于该试样，该延迟器设置在光源这一侧，从而可有效消除与测量误差相关的影响，例如由于试样引起的光线方向变化。
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公开(公告)号：CN1192745C
公开(公告)日：2005-03-16
申请号：CN01818611.4
申请日：2001-09-28
Applicant: 西铁城时计株式会社
CPC classification number: A61B5/14558 , A61B5/0031 , A61B5/0088 , A61B5/411 , G01J4/04 , G01N21/21 , G01N21/211
Abstract: 为了在不和溶液接触的情况下测量溶液中的旋光性物质的浓度，本发明的浓度测量设备包括：一个用于输出线性偏振光的光源；一个位于该光源的对面的光强检测元件，二者之间设置着一个样本；一个位于该光源和该光强检测电路之间的旋光性液晶元件；一个用于控制施加给该旋光性液晶元件的电压的控制电路，从而事实上会使该光强检测元件的一个输出值取极值；一个浓度计算电路，用于根据该控制电路的输出计算该样本内一旋光性物质的浓度。
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公开(公告)号：CN1571918A
公开(公告)日：2005-01-26
申请号：CN02820533.2
申请日：2002-10-16
Applicant: 海因兹仪器公司
Inventor： 王宝良
IPC: G01J4/00
Abstract: 提供采用Soleil－Babinet补偿器(101)作为校准双折射测量系统的标准的系统和方法。通过这里描述的方法可以实现高精度和可重复的校准，因为除了其它优点外，该具有创造性的方法可以计算Soleil－Babinet补偿器(101)整个表面的不同双折射。这里描述的校准技术可以用于具有测量双折射水平范围的各种光学装置和各种频率的光源的双折射测量系统中。
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公开(公告)号：CN1473021A
公开(公告)日：2004-02-04
申请号：CN01818611.4
申请日：2001-09-28
Applicant: 西铁城时计株式会社
CPC classification number: A61B5/14558 , A61B5/0031 , A61B5/0088 , A61B5/411 , G01J4/04 , G01N21/21 , G01N21/211
Abstract: 为了在不和溶液接触的情况下测量溶液中的旋光性物质的浓度，本发明的浓度测量设备包括：一个用于输出线性偏振光的光源；一个位于该光源的对面的光强检测元件，二者之间设置着一个样本；一个位于该光源和该光强检测电路之间的旋光性液晶元件；一个用于控制施加给该旋光性液晶元件的电压的控制电路，从而事实上会使该光强检测元件的一个输出值取极值；一个浓度计算电路，用于根据该控制电路的输出计算该样本内一旋光性物质的浓度。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN1340152A
公开(公告)日：2002-03-13
申请号：CN00803726.4
申请日：2000-10-06
Applicant: 图南系统株式会社
CPC classification number: G01J4/04
Abstract: 本发明涉及一种探测极化状态(SOP)的方法和装置。本发明中介绍的装置包括一个相位延迟器和一个极化器,他们都以不同的速度旋转。用本发明中介绍的方法,可探测到穿过旋转的相位延迟器和旋转的极化器的光信号,同时对与相位延迟器和极化器的旋转频率相关的谐波分量进行分析,通过频率分量分析可获得相位延迟器上的相位延迟量以及极化状态,减少了测量误差。目前的发明的优势在于可对更大波长范围内的SOP进行测量,增加了测量的准确性。
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公开(公告)号：CN107271041A
公开(公告)日：2017-10-20
申请号：CN201710605331.1
申请日：2017-07-24
Applicant: 河南师范大学
IPC: G01J4/04
CPC classification number: G01J4/04
Abstract: 本发明公开了一种激光偏振态测量仪，待测光源的传输光路上依次设有光源状态改变模块、光源状态检测模块和第一分光棱镜，第一分光棱镜分出的两条传输光路上分别设有第一偏振分光棱镜和第二分光棱镜，第一偏振分光棱镜分出的两条传输光路上分别设有第一光电探测器和第二光电探测器，第二分光棱镜分出的两条传输光路上分别设有相位延迟器和第三分光棱镜，相位延迟器的传输光路上设有第二偏振分光棱镜，第二偏振分光棱镜分出的两条传输光路上分别设有第三光电探测器和第四光电探测器，第三分光棱镜分出的两条传输光路上分别依次设有第一偏振片和第五光电探测器及第二偏振片和第六光电探测器。本发明检测更加精确且测量过程更加便利。
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公开(公告)号：CN107117579A
公开(公告)日：2017-09-01
申请号：CN201710331925.8
申请日：2017-05-11
Applicant: 烟台睿创微纳技术股份有限公司
CPC classification number: B81B7/02 , B81B7/0009 , B81C1/00103 , B81C1/00476 , G01J4/04 , G01J5/0825 , G01J5/20 , G01J2005/204
Abstract: 本发明涉及一种双层偏振非制冷红外探测器结构，包括半导体基座和探测器本体，所述探测器本体包括绝缘介质层、金属反射层、第一支撑层、金属电极层、第一保护层、第二支撑层、电极金属层、热敏层和第二保护层，所述第一支撑层和绝缘介质层之间形成第一谐振腔，所述第一保护层和第二支撑层之间形成第二谐振腔，所述电极金属层上设有热敏层，双层结构提高了像元的红外吸收效率，在第二保护层上设有偏振结构，可以实现偏振敏感型红外探测器的单片集成，而且极大的降低了光学设计的难度；还涉及上述探测器结构的制备方法，包括制备双层非制冷红外探测器的步骤，还包括在双层非制冷红外探测器上制备偏振结构的步骤。
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公开(公告)号：CN106662485A
公开(公告)日：2017-05-10
申请号：CN201580046292.5
申请日：2015-06-26
Applicant: 索尔福德大学企业有限公司
IPC: G01J4/04
CPC classification number: G01J4/04 , G01J2004/004 , G02F1/0136
Abstract: 公开了一种用于测量电磁照明的偏振的方法和装置。该方法包括以下步骤：调制从目标对象接收到的照明的偏振状态以生成经过调制的强度照明；通过以第一选通频率周期性地选通成像设备对经过调制的强度照明的曝光来选择性地测量经过调制的强度照明的强度；响应于所测得的强度，确定所接收到的照明的偏振参数；以及利用多个偏振参数生成与目标对象相对应的图像数据，其中根据第一频率来调制来自目标对象的照明并且第一选通频率至少与第一频率相关联且同步。
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公开(公告)号：CN106525242A
公开(公告)日：2017-03-22
申请号：CN201611093398.3
申请日：2016-12-02
Applicant: 中国科学院光电技术研究所
IPC: G01J4/04
CPC classification number: G01J4/04
Abstract: 本发明提供一种可用于太阳偏振斯托克斯矢量实时测量的装置，包括光谱滤光器，波片阵列，偏振片阵列和光强采集相机。太阳磁场是太阳活动爆发的驱动力和能量来源，而太阳偏振斯托克斯矢量测量是太阳磁场探测的唯一途径。本发明的一种可用于太阳偏振斯托克斯矢量实时测量的新型装置，采用微光学技术原理制作微波片阵列，在此基础上加工微偏振片阵列，并与光强采集相机光敏面贴合，仅需要一次曝光即可获取太阳偏振斯托克斯矢量信息。相对于传统装置，本发明装置结构紧凑，实时性强，无需精确调试和人为调制，光谱响应范围宽，成本低且可批量化生产，同时避免了相机不均匀响应、像差等因素引入的探测误差，并可方便扩展于其他应用领域。
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