公开(公告)号：CN101287984A

公开(公告)日：2008-10-15

申请号：CN200580029515.3

申请日：2005-07-08

Applicant: 护照系统公司

Inventor： R·J·勒杜瓦 ,  W·伯托兹

IPC: G01N23/04 ,  G01N23/201

CPC classification number: G01N23/20 ,  G01N23/04 ,  G01N23/20083 ,  G01N23/201

Abstract: 这里公开了一种针对潜在威胁扫描目标的方法和系统，其利用自目标散射的光子的能量谱确定目标中平均原子序数和/或质量的空间分布。示范的方法包含：利用光子束照亮目标的多个体元的每一个；确定入射到每个体元上的入射通量；测量自体元散射的光子的能量谱；利用能量谱确定体元中的平均原子序数；以及利用入射通量、体元中材料的平均原子序数、能量谱、以及与体元对应的散射核确定体元中的质量。示范的系统可基于若干体元的平均原子序数和/或质量利用威胁检测试探法来确定是否触发进一步的动作。

公开(公告)号：CN101256160A

公开(公告)日：2008-09-03

申请号：CN200810095161.8

申请日：2008-01-17

Applicant: 帕纳科有限公司

Inventor： V·科根

IPC: G01N23/207

CPC classification number: G01N23/20025 ,  G01N23/201 ,  G01N23/207

Abstract: 本发明公开了一种包括壳体(14)的X射线散射腔室(12)，其可安装在位于X射线源(2)与X射线检测器(4)之间的X射线衍射装置中，例如安装在测角器臂(6)上。该壳体(14)包括样品架(16)和射线束调节光学器件(22、24)，而且该系统还使用壳体外部的初级光学器件(10)。该装置适用于SAXS和/或SAXS－WAXS。

公开(公告)号：CN1520513A

公开(公告)日：2004-08-11

申请号：CN02812998.9

申请日：2002-06-17

Applicant: 理学电机株式会社

Inventor： 表和彦

IPC: G01N23/201

CPC classification number: G01N23/20 ,  G01N23/201 ,  G01N23/203

Abstract: 在本发明的解析密度不均匀实验材料内的颗粒状物的分布状态的密度不均匀实验材料解析方法中，实际测量X射线散射曲线是基于面内衍射测量的面内X射线散射曲线，进行该面内X射线散射曲线和模拟X射线散射曲线的拟合，将模拟X射线散射曲线和面内X射线散射曲线一致时的拟合参数的值作为密度不均匀实验材料内的颗粒状物的面内方向的分布状态。同时通过上述方法，还能够提供能够简单并且高精度地解析具有各向异性的密度不均匀实验材料内的颗粒状物的面内方向的分布状态的密度不均匀实验材料解析装置和系统。

公开(公告)号：CN103837556B

公开(公告)日：2018-02-16

申请号：CN201310414907.8

申请日：2013-09-12

Applicant: 住友橡胶工业株式会社

Inventor： 间下亮 ,  岸本浩通 ,  增井友美

IPC: G01N23/201 ,  G01N23/202

CPC classification number: G01N23/202 ,  G01N23/201 ,  G01N2223/1006 ,  G01N2223/1016 ,  G01N2223/106 ,  G01N2223/623

Abstract: 本发明提供用于评估聚合物材料中能量损耗的方法，其中所述方法能以出色的测量精度对试样之间的性能差异进行充分评估；用于评估聚合物材料耐崩裂性的方法，其中所述方法在短时间内以低成本提供具有出色测量精度的评估；以及用于评估聚合物材料耐磨性的方法，其中，所述方法能以出色的测量精度对试样之间的性能差异进行充分评估。本发明涉及用于评估聚合物材料的能量损耗、耐崩裂性、和耐磨性的方法，所述方法包括用X射线或中子辐照聚合物材料以进行X射线散射测量或中子散射测量。

公开(公告)号：CN104321805B

公开(公告)日：2017-12-15

申请号：CN201380025354.5

申请日：2013-05-13

Applicant: 皇家飞利浦有限公司

Inventor： T·克勒 ,  B·J·布伦德尔 ,  E·勒斯尔 ,  U·范斯特文达勒

IPC: G06T11/00

CPC classification number: G06T11/005 ,  A61B6/42 ,  A61B6/48 ,  G01N23/046 ,  G01N23/20083 ,  G01N23/201 ,  G01N2021/8822 ,  G01N2021/8825 ,  G01N2223/054 ,  G01T1/2907 ,  G06T11/006 ,  G06T2207/10081

Abstract: 一种方法包括获得从目标的暗场CT扫描生成的暗场信号，其中，所述暗场CT扫描至少是360度扫描。所述方法还包括对所述暗场信号进行加权。所述方法还包括对所述360度扫描上的经加权的暗场信号执行锥形束重建，从而生成体积图像数据。对于轴向锥形束CT扫描，在一个非限制性实例中，所述锥形束重建是全扫描FDK锥形束重建。对于螺旋锥形束CT扫描，在一个非限制性实例中，将所述暗场信号重新分箱到楔形几何结构，并且所述锥形束重建是全扫描孔径加权的楔形重建。对于螺旋锥形束CT扫描，在另一非限制性实例中，将所述暗场信号重新分箱到楔形几何结构，并且所述锥形束重建是全扫描角度加权的楔形重建。

公开(公告)号：CN107238615A

公开(公告)日：2017-10-10

申请号：CN201710413072.2

申请日：2017-06-05

Applicant: 上海交通大学

Inventor： 兰小红 ,  王正武 ,  吴金鸿 ,  谢凡 ,  龚盛祥 ,  张维 ,  杨迎 ,  张莉 ,  许蓓 ,  杨承钰

IPC: G01N23/201 ,  G01N1/28

CPC classification number: G01N23/201 ,  G01N1/28

Abstract: 本发明涉及一种评估马铃薯主食化产品是否掺假的方法，具体为：针对马铃薯主食化产品中的淀粉进行小角X射线散射(SAXS)数据片层结构拟合，获得淀粉特征结构参数，基于此预测马铃薯添加比例。与现有技术相比，本发明通过结合数学建模和SAXS分析手段对马铃薯掺假进行评估以及马铃薯添加比例进行预测，具有快捷、高效等特点。马铃薯主食化产品掺假的最低检测限为5％，该方法适合于面条、饺子等主食化产品中的马铃薯添加掺假鉴定。

公开(公告)号：CN107207970A

公开(公告)日：2017-09-26

申请号：CN201680009449.1

申请日：2016-02-09

Applicant: 耐斯特公司

Inventor： P.林德奎斯特 ,  T.勒迪马亚 ,  V.斯波拉 ,  O-P.勒廷恩 ,  G.发艾

IPC: C10G3/00 ,  C11B1/02 ,  C11C3/12 ,  C11B3/00

CPC classification number: C10G3/46 ,  B01D3/14 ,  C10G3/50 ,  C10G2300/1014 ,  C10G2300/1018 ,  C11B1/04 ,  G01N23/201 ,  Y02P30/20 ,  C11B1/02 ,  C11B3/00 ,  C11C3/12

Abstract: 本发明涉及可再生油组合物领域并且特别涉及可再生油组合物用于生产烃组合物的用途，所述烃组合物可用于交通用燃料和其它溶液。特别地，本发明涉及包含游离脂肪酸和甘油三酯的组合物，游离脂肪酸的浓度为15重量%至80重量%并且剩余主要是甘油三酯。本发明还涉及从可再生油原料生产烃的方法，其中包含15重量%至80重量%的游离脂肪酸并且剩余主要是甘油三酯的所述原料经受预处理过程、随后加氢处理过程以获得烃。

公开(公告)号：CN104603603B

公开(公告)日：2017-03-01

申请号：CN201280075529.9

申请日：2012-12-06

Applicant: 韩国原子力研究院

Inventor： 河长镐 ,  金暎洙 ,  金汉洙 ,  余淳穆

IPC: G01N23/04 ,  G01N23/20

CPC classification number: G01N23/201 ,  G01N23/04 ,  G01N23/06 ,  G01N23/083 ,  G01N23/087 ,  G01N23/20 ,  G01N23/202

Abstract: 本发明涉及一种能够获取物元信息以及基于图像的选择的放射线成像装置，本发明的目的在于提供一种能够获取物元信息以及基于图像的选择的放射线成像装置，其利用放射线和物质之间相互作用方式来获取图像，从而提高图像分辨率以及检测效率。本发明的另一目的在于提供一种能够获取物元信息以及基于图像的选择的放射线成像装置，尤其利用单一光子三维跟踪技术，从而只用单一能量的放射源能够获取三维图像的同时能够区分被摄物体的元素。

公开(公告)号：CN102890095B

公开(公告)日：2015-11-18

申请号：CN201210333501.2

申请日：2005-07-08

Applicant: 护照系统公司

Inventor： R.J.勒杜瓦 ,  W.伯托兹

IPC: G01N23/04 ,  G01N23/201

CPC classification number: G01N23/20 ,  G01N23/04 ,  G01N23/20083 ,  G01N23/201

Abstract: 本发明涉及用于确定材料的平均原子序数和质量的方法和系统。这里公开了一种针对潜在威胁扫描目标的方法和系统，其利用自目标散射的光子的能量谱确定目标中平均原子序数和/或质量的空间分布。示范的方法包含：利用光子束照亮目标的多个体元的每一个；确定入射到每个体元上的入射通量；测量自体元散射的光子的能量谱；利用能量谱确定体元中的平均原子序数；以及利用入射通量、体元中材料的平均原子序数、能量谱、以及与体元对应的散射核确定体元中的质量。示范的系统可基于若干体元的平均原子序数和/或质量利用威胁检测试探法来确定是否触发进一步的动作。

公开(公告)号：CN104132954A

公开(公告)日：2014-11-05

申请号：CN201410167870.8

申请日：2014-03-14

Applicant: 布鲁克AXS有限公司

Inventor： J·S·皮德森

IPC: G01N23/20

CPC classification number: G01N23/201 ,  G01N2223/314 ,  G21K1/04 ,  G21K1/046 ,  G21K2201/062

Abstract: 本发明涉及用于X射线散射分析的X射线分析系统。该X射线分析系统包括：X射线源，用于产生沿透射轴(3)传播的X射线的射束；至少一个具有孔隙的混合狭缝(5b)，该孔隙限定射束的横截面的形状；样品，由混合狭缝(5b)成形的射束照射到该样品上；X射线检测器，用于检测来自于该样品的X射线，其中混合狭缝(5b)包括至少三个混合狭缝元件(7)，每个混合狭缝元件(7)包括以锥角α≠0与基底(9)结合的单晶基板(8)，混合狭缝元件(7)的单晶基板(8)限制该孔隙，该X射线分析系统的特征在于，混合狭缝元件(7)沿透射轴(3)以一定偏移量交错布置。本发明的X射线分析系统表现出改进的分辨率和信噪比。