Abstract:
주가스 유로와 복수의 분지 가스 유로와의 가스 컨덕턴스의 비를 크게한다. 플라즈마 처리 장치(100)는, 가스를 여기시켜 비처리체를 플라즈마 처리하는 장치이며, 처리 용기(100)와, 소망하는 가스를 공급하는 가스 공급원(905)과, 가스 공급원(905)으로부터 공급된 가스를 분류시키는 주가스 유로(330)와, 주가스 유로(330)의 하류측에 접속되는 복수의 분지 가스 유로(나사(325))와, 복수의 분지 가스유로에 형성되고, 분지가스 유로를 좁히는 복수의 조임부(세관(細管; 335))와, 복수의 분지 가스 유로에 형성된 복수의 조임부를 통과한 가스를 처리 용기(100)의 내부에 방출하는, 분지 가스 유로당 1 또는 2 이상의 가스 방출 구멍(345)을 갖는다.
Abstract:
(과제) 도체 표면파의 전파를 억제한다 (해결 수단) 플라즈마 처리 장치(10)는, 금속에 의해 형성된 처리 용기(100)와, 마이크로파를 출력하는 마이크로파원(900)과, 처리 용기(100)의 내벽에 면하고, 마이크로파원(900)으로부터 출력된 마이크로파를 처리 용기 내에 투과하는 유전체판(305)과, 처리 용기의 내면에 형성된 전파 장해부로서 기능하는 홈(300a)을 갖는다. 저주파수의 마이크로파를 공급한 경우, 홈(300a)에 의해 도체 표면파의 전파가 억제된다.
Abstract:
마이크로파 플라즈마 처리 장치(10)는, 마이크로파에 의해 가스를 여기시켜 기판(G)을 플라즈마 처리하기 위한 처리 용기(100)와, 마이크로파를 출력하는 마이크로파원(900)과, 마이크로파원(900)으로부터 출력된 마이크로파를 전송하는 전송 선로와, 처리 용기(100)의 내면에 설치되어, 마이크로파를 처리 용기(100) 내로 방출하는 복수의 유전체판(305)과, 복수의 유전체판(305)에 인접하여, 마이크로파를 복수의 유전체판(305)으로 전송하는 복수의 제1 동축관(610)과, 전송 선로를 전송해 온 마이크로파를 복수의 제1 동축관(610)에 분배하여 전송하는 동축관 분배기(600)를 갖는다. 동축관 분배기(600)는, 입력부(In)를 갖는 제2 동축관(620)과, 복수의 제1 동축관(610)에 연결되는 상이한 구성의 분기 구조(B1, B2)를 포함한다.
Abstract:
주가스 유로와 복수의 분지 가스 유로와의 가스 컨덕턴스의 비를 크게한다. 플라즈마 처리 장치(100)는, 가스를 여기시켜 비처리체를 플라즈마 처리하는 장치이며, 처리 용기(100)와, 소망하는 가스를 공급하는 가스 공급원(905)과, 가스 공급원(905)으로부터 공급된 가스를 분류시키는 주가스 유로(330)와, 주가스 유로(330)의 하류측에 접속되는 복수의 분지 가스 유로(나사(325))와, 복수의 분지 가스유로에 형성되고, 분지가스 유로를 좁히는 복수의 조임부(세관(細管; 335))와, 복수의 분지 가스 유로에 형성된 복수의 조임부를 통과한 가스를 처리 용기(100)의 내부에 방출하는, 분지 가스 유로당 1 또는 2 이상의 가스 방출 구멍(345)을 갖는다.
Abstract:
마이크로파를 직사각형 도파관(rectangular waveguide)의 하면(下面)에 복수 형성된 슬롯을 통하여 처리실의 상면(上面)에 배치된 유전체 내에 전파시키고, 유전체 표면에서 형성시킨 전자계에서의 전계 에너지에 의해 처리실 내에 공급된 소정의 가스를 플라즈마화시켜, 기판에 플라즈마 처리를 실시하는 플라즈마 처리 장치로서, 직사각형 도파관의 상면 부재가 도전성을 갖는 비자성 재료로 구성되고, 또한, 그 상면 부재가 하면에 대하여 승강 이동된다. 가스 종류, 압력, 마이크로파 공급 장치의 파워 출력 등이라고 하는 처리실 내에서 행해지는 플라즈마 처리의 조건에 따라, 직사각형 도파관의 상면 부재가 하면에 대하여 승강 이동되는 것에 의해, 관 내 파장이 변화된다.
Abstract:
도파관에 도입된 마이크로파를 슬롯에 통과시켜서 유전체에 전파시키고, 처리 용기 내에 공급된 소정의 가스를 플라즈마화시켜서, 기판에 플라즈마 처리를 실시하는 플라즈마 처리장치에 있어서, 도파관을 복수 개로 나란히 배치하고, 그들 도파관마다 복수의 유전체를 각각 설치하며, 또 각 유전체마다 1개 또는 2개 이상의 슬롯을 설치했다. 각 유전체의 면적을 현저하게 작게 할 수 있어, 유전체의 표면 전체에 마이크로파를 확실히 전파시킬 수 있다. 또한, 유전체를 지지하는 지지 부재도 가늘게 완성되므로, 기판의 위쪽 전체에 균일한 유전 자계를 형성할 수 있어, 처리실 내에 균일한 플라즈마를 발생시킬 수 있다.
Abstract:
마이크로파 플라즈마 처리 장치(100)는, 슬롯에 통과시킨 마이크로파를 투과시키는 복수 매의 유전체 파트(31)와, 각 유전체 파트(31)보다 아래쪽에 위치하는 가스 노즐(27)을 갖고 있다. 유전체 파트(31) 및 가스 노즐(27)은 포러스(다공질체(多孔質體))와 벌크(치밀질체(緻密質體))로 형성되어 있다. 제 1 가스 공급부는 아르곤 가스를 각 유전체 파트(31)로 포러스(31P)로부터 처리실 내로 공급한다. 제 2 가스 공급부는 실란 가스 및 수소 가스를 가스 노즐(27)의 포러스(27P)로부터 처리실 내로 공급한다. 가스는 각 포러스를 통과할 때에 감속되고, 이것에 의해, 가스의 지나친 교반을 억지할 수 있다. 이 결과, 균일한 플라즈마를 생성하여, 이에 따라 양질의 비정질(amorphous) 실리콘막을 형성할 수 있다.
Abstract:
A plasma processing apparatus and a driving method thereof, and a plasma processing method, and a manufacturing method of an electronic device are provided to activate cleaning gas by utilizing the power of microwave. A plasma processing apparatus, which includes a space part(66) and a cleaning gas path(61), executes a plasma process on an objective processing member disposed in a processing chamber by utilizing microwaves through a waveguide(35). The space part is surrounded by a wall formed dielectrics in the waveguide. The cleaning gas path is used to supply cleaning gas into the processing chamber through the space part.
Abstract:
A microwave plasma processing device, a manufacturing method of a dielectric window, and a processing method of a microwave plasma are provided to uniformly generate the plasma through a uniformly and slowly supplied gas to a predetermined position. A microwave plasma processing device includes a slot antenna, a dielectric window, a gas supply unit, and a processing chamber. The slot antenna propagates a microwave. The dielectric window transmits the propagated microwave. The gas supply unit supplies a predetermined gas. The processing chamber processes a subject by converting the predetermined gas into plasma with the microwave transmitted through the dielectric window. The dielectric window includes a first porous material(31Ph) and a second porous material(31Pl). The first porous material has first porosity. The second porous material is connected to the first porous material and has second porosity lower than the first porosity. The gas supply unit induces the predetermined gas in the processing chamber from the second porous material through the first porous material.
Abstract:
A plasma processing apparatus and a plasma processing method are provided to form uniformly plasma by decreasing a flow rate of gas injected into a process chamber. A process chamber(U) is used for processing a target by using plasma. A gas supply unit supplies a gas to the process chamber. A microwave supply unit supplies a microwave through a slot(37) of an antenna(30) and a dielectric member to the process chamber. The gas is converted to the plasma by the microwave. The dielectric member includes at least partially a porous member. The gas is introduced into the process chamber through the porous member. The dielectric member is composed of the porous member and a dense member. The porous member and the dense member are integrally sintered to form the dielectric member.