반도체 소자 제조방법
    51.
    发明公开

    公开(公告)号:KR1019990086523A

    公开(公告)日:1999-12-15

    申请号:KR1019980019538

    申请日:1998-05-28

    Abstract: 본 발명에 의한 반도체 소자 제조방법은, 반도체 기판 상에 패드 산화막과 산화방지막 및 고온산화막을 순차적으로 형성하는 공정과; 비활성영역의 상기 고온산화막과 상기 산화방지막 및 상기 패드 산화막의 일부를 순차적으로 식각하여 비활성영역에 패드 산화막을 소정 두깨 잔존시키는 공정과; 상기 고온산화막과 상기 산화방지막 측벽에 산화가능막 재질의 스페이서를 형성하고, 이를 마스크로 이용하여 상기 잔존 패드 산화막을 제거하는 공정과; 상기 스페이서가 산화될 때까지 산화 공정을 실시하여 상기 기판의 표면 노출부에 열산화막을 형성하는 공정과; 상기 고온산화막과 상기 산화방지막을 마스크로 이용한 이방성 식각 공정으로 비활성영역의 상기 열산화막과 상기 고온산화막을 동시에 제거하는 공정과; 상기 산화방지막을 마스크로 이용하여 상기 기판을 소정 두께 식각하여 트랜치를 형성하는 공정과; 상기 트랜치의 내부 계면을 따라 제 1 절연막을 형성하는 공정과; 상기 트랜치 내부를 포함한 상기 산화방지막 상에 제 2 및 제 3 절연막을 순차적으로 형성하는 공정과; 에치백 공정과 CMP 공정을 이용하여 상기 산화방지막이 소정 두께 잔존되도록 상기 제 2 및 제 3 절연막을 평탄화하는 공정으로 이루어져, STI의 양 에지부를 활성영역의 기판 표면보다 높게 가져갈 수 있게 되므로, 활성영역과 비활성영역의 경계면에서 발생되는 반도체 소자의 특성 열화를 막을 수 있게 된다.

    반도체 소자 제조방법
    52.
    发明公开

    公开(公告)号:KR1019990084622A

    公开(公告)日:1999-12-06

    申请号:KR1019980016526

    申请日:1998-05-08

    Abstract: 본 발명에 의한 반도체 소자 제조방법은, 반도체 기판의 표면이 소정 부분 노출되도록, 상기 기판 상의 활성영역에 패드 산화막과 산화방지막 및 감광막 패턴을 순차적으로 형성하는 공정과; 열처리 공정을 이용하여 상기 감광막 패턴을 상기 산화방지막과 상기 패드 산화막의 측벽에 플로우시키는 공정과; 열처리 공정에 의해 플로우된 상기 감광막 패턴을 마스크로 이용하여 상기 기판의 표면 노출부를 소정 두께 식각하여 트랜치를 형성하는 공정과; 상기 트랜치 내부의 계면을 따라 절연막을 형성하는 공정과; 상기 트랜치 내부를 포함한 상기 산화방지막 상에 제 1 및 제 2 USG를 순차적으로 형성하는 공정과; 상기 산화방지막의 표면이 노출될 때까지 상기 제 1 및 제 2 USG를 CMP 처리하는 공정; 및 활성영역의 상기 산화방지막과 상기 패드 산화막을 제거하는 공정으로 이루어져, STI의 양 에지부를 활성영역의 기판 표면보다 높게 가져가는 것이 가능하게 되므로, 활성영역과 비활성영역의 경계면에서 발생되는 반도체 소자의 특성 열화(예컨대, 강한 전계 집중으로 인한 게이트 절연막의 열화와 잔존 폴리실리콘으로 인한 반도체 소자의 원하지 않는 특성 유발)를 막을 수 있게 된다.

    전자 장치 및 그 컨텐츠 제공 방법
    54.
    发明公开
    전자 장치 및 그 컨텐츠 제공 방법 审中-实审
    电子装置及其内容提供方法

    公开(公告)号:KR1020160095541A

    公开(公告)日:2016-08-11

    申请号:KR1020150016935

    申请日:2015-02-03

    Abstract: 본발명의다양한실시예에따른전자장치는, 전자장치와통신가능한범위에위치하는적어도하나의주변전자장치로장치정보를요청하여수신하는통신모듈및 컨텐츠제공이벤트가발생하면컨텐츠정보를이용하여컨텐츠의속성을분석하고, 장치정보를이용하여주변전자장치의속성을분석하며, 컨텐츠의속성분석결과및 주변전자장치의속성분석결과에기초하여사용자에게컨텐츠를제공할적어도하나의장치를결정하는제어모듈을포함할수 있다. 또한, 다른실시예도가능하다.

    Abstract translation: 电子设备技术领域本发明涉及一种电子设备。 根据实施例,本发明包括:通信模块,用于向位于其可以与电子设备通信的范围内的至少一个关闭电子设备请求设备信息,并且接收该设备信息; 以及控制模块,用于通过使用内容信息来分析内容的特征,当创建内容提供事件时,通过使用设备信息来分析相邻电子设备的特征,以及基于所述设备信息确定至少一个设备为用户提供内容 内容和相邻电子设备特征的分析结果。 其他实施例也可以是可用的。 本发明的目的是通过使用由多个电子装置收集的各种信息,在提供某些内容的情况下彼此互锁,以更方便和可识别的方式为用户提供内容。

    비직교 송신 신호를 사용하는 다중 반송파 시스템에서 신호를 송수신하는 방법 및 장치
    56.
    发明公开
    비직교 송신 신호를 사용하는 다중 반송파 시스템에서 신호를 송수신하는 방법 및 장치 审中-实审
    一种使用非正交传输信号在多媒体系统中调制和接收信号的方法和装置

    公开(公告)号:KR1020160052070A

    公开(公告)日:2016-05-12

    申请号:KR1020140151840

    申请日:2014-11-04

    CPC classification number: H04L27/26 H04L27/34

    Abstract: 본발명은비직교송신신호를사용하는다중반송파시스템에관한것으로, 보다구체적으로비직교송신신호를사용하는다중반송파시스템에서높은차수의직교진폭변조를이용해신호를송수신하는하는방법및 장치에관한것이다. 송신기는하나이상의송신필터중 데이터를전송하기위한송신필터를결정하고데이터심볼에결정된송신필터를적용해데이터신호를생성하고데이터신호를수신기로전송한다. 수신기는송신기가전송한데이터신호를수신하고하나이상의수신필터중 데이터신호를수신하기위해이용할수신필터를결정하고, 수신한데이터신호에상기결정된수신필터를적용해데이터심볼을생성한다.

    Abstract translation: 本发明涉及一种使用非正交传输信号的多载波系统,更具体地涉及一种使用非正交传输信号在多载波系统中通过高阶正交振幅调制发射和接收信号的方法和装置。 发送机确定用于在一个或多个发送滤波器之间发送数据的发送滤波器,将确定的发送滤波器应用于数据符号,生成数据信号,并将数据信号发送到接收机。 接收器接收从发送器发送的数据信号,确定用于在一个或多个接收滤波器之间接收数据信号的接收滤波器,并将所确定的接收滤波器应用于所接收的数据信号以产生数据符号。

    서비스 정보를 제공하는 전자 장치 및 방법
    57.
    发明公开
    서비스 정보를 제공하는 전자 장치 및 방법 审中-实审
    电子设备和提供服务信息的方法

    公开(公告)号:KR1020150126495A

    公开(公告)日:2015-11-12

    申请号:KR1020140053441

    申请日:2014-05-02

    Inventor: 조준호

    Abstract: 본개시는전자장치를이용하여서비스정보를제공하는방법에있어서, 서비스정보패킷을수신하는과정과, 상기수신된서비스정보패킷에포함된서비스아이디가등록된서비스아이디인지확인하는과정과, 상기서비스아이디에대응되는서비스조건과등록된조건의매핑여부를확인하고, 매핑된조건에대응되는정보를표시하는과정을포함한다.

    Abstract translation: 使用本公开的电子设备提供服务信息的方法包括以下步骤:接收服务信息包; 验证所接收的服务信息包中包含的服务ID是否为注册服务ID; 以及验证与服务ID相对应的服务条件的注册条件的映射状态,以及显示与映射条件相对应的信息。

    반도체 메모리 장치에서의 테스트 모드 제어회로 및 테스트 모드 진입 방법
    59.
    发明公开
    반도체 메모리 장치에서의 테스트 모드 제어회로 및 테스트 모드 진입 방법 无效
    半导体存储器件的测试模式控制电路及其测试方法

    公开(公告)号:KR1020120003675A

    公开(公告)日:2012-01-11

    申请号:KR1020100064407

    申请日:2010-07-05

    CPC classification number: G11C29/46

    Abstract: PURPOSE: A test mode control circuit in semiconductor memory device and a test mode entering method thereof are provided to prevent the entrance of a test mode even if noise or user fault exists in normal usage. CONSTITUTION: In a test mode control circuit in semiconductor memory device and a test mode entering method thereof, a latch unit(120) latches a test command. A real entrance signal detection unit(130) detects the supply of a real entrance signal which secure whether a test command is normal or not. An entrance determination unit(140) generates an entrance determination signal. The entrance determination signal indicates the entrance of a test mode correspond to the test command. A mode control signal generator(150) generates a test mode control signal when the entrance determination signal is activated.

    Abstract translation: 目的:提供半导体存储器件中的测试模式控制电路和测试模式输入方法,以防止即使在正常使用中存在噪声或用户故障时测试模式的进入。 构成:在半导体存储装置的测试模式控制电路及其测试模式的输入方法中,锁存单元(120)锁存测试命令。 实际入口信号检测单元(130)检测确保测试命令是否正常的实际入口信号的供应。 入口确定单元(140)产生入口确定信号。 入口确定信号表示与测试命令对应的测试模式的入口。 当入口确定信号被激活时,模式控制信号发生器(150)产生测试模式控制信号。

    스킵 모드에 기초한 영상을 복호화하는 방법 및 장치
    60.
    发明公开
    스킵 모드에 기초한 영상을 복호화하는 방법 및 장치 有权
    基于跳跃模式解码图像的方法和装置

    公开(公告)号:KR1020110011505A

    公开(公告)日:2011-02-08

    申请号:KR1020100010483

    申请日:2010-02-04

    Abstract: PURPOSE: A method and a device for decoding an image based on a skip mode are provided to easily decode the same block as a previously decoded block using a pixel value of the previously decoded block. CONSTITUTION: A skip mode decoding unit sets pixel values(1322) about color component#1 among pixel values of a current block equal to pixel values(1312) of color component#1 of a previously decoded block. The decoding unit sets pixel values(1324) about color component#2 among the pixel values of the current block equal to pixel values(1314) of color component#2 of the previously decoded block. The decoding unit sets pixel values(1326) about color component#3 among the pixel values of the current block equal to pixel values(1316) of color component#3 of a previously decoded block.

    Abstract translation: 目的:提供一种基于跳过模式对图像进行解码的方法和装置,以便使用先前解码的块的像素值容易地解码与先前解码的块相同的块。 构成:跳过模式解码单元在等于先前解码块的颜色分量#1的像素值(1312)的当前块的像素值之间设置关于颜色分量#1的像素值(1322)。 解码单元将当前块的像素值中的颜色分量#2的像素值(1324)设置为等于先前解码块的色彩分量#2的像素值(1314)。 解码单元将当前块的像素值等于先前解码块的颜色分量#3的像素值(1316)的颜色分量#3的像素值(1326)进行设置。

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