公开(公告)号：CN102308196B

公开(公告)日：2014-02-05

申请号：CN200980154882.4

申请日：2009-12-18

Applicant: 百维吉伦特系统有限公司

Inventor： 约翰·Y·巴比特 ,  梁晨

IPC: G01N15/02

CPC classification number: G01J3/4406 ,  G01J3/02 ,  G01J3/0216 ,  G01J3/0229 ,  G01N15/1436 ,  G01N15/1459 ,  G01N21/53 ,  G01N21/645 ,  G01N21/6486 ,  G01N2015/0088 ,  G01N2015/1493 ,  G01N2021/6469

Abstract: 公开了一种粒子检测和分类系统。该系统通过测量粒子散射的光来确定所测粒子的尺寸。同时，该系统通过测量来自粒子的荧光来确定所测粒子是生物的还是非生物的。该系统使用抛物面反射器并且可选择地使用球面反射器来收集荧光。

公开(公告)号：CN102438511A

公开(公告)日：2012-05-02

申请号：CN201080022242.0

申请日：2010-03-23

Applicant: 密苏里大学董事会

Inventor： 徐智

IPC: A61B5/00

CPC classification number: A61B5/1455 ,  A61B5/14532 ,  G01J3/02 ,  G01J3/0216 ,  G01J3/10 ,  G01J3/18 ,  G01J3/42 ,  G01J2003/1239 ,  G01N21/359

Abstract: 公开了一种用于会聚光的装置和相关使用方法。该装置包括具有前端、后端、内表面和外表面的第一外壁，所述内表面限定内部部分，所述内部部分具有前端和后端，并且光源被置于所述内部部分之内。第一外壁具有在所述后端内的开口，所述开口具有开口直径。所述内部部分大致具有截头圆锥形，在所述开口处具有等于所述开口直径的横截面直径而在前端附近具有小于所述开口直径的第二横截面直径，并且所述内表面是光反射性的。光通过一孔径穿过样本，并穿过聚光透镜或第二外壁。可以利用透射衍射光栅。

公开(公告)号：CN101443647B

公开(公告)日：2012-02-29

申请号：CN200780016961.X

申请日：2007-05-10

Applicant: 睿励科学仪器(上海)有限公司

Inventor： 吕彤欣 ,  王笑寒

IPC: G01N21/55

CPC classification number: G01J3/02 ,  G01J3/0216 ,  G01J3/0224 ,  G01J3/0243 ,  G01J3/10 ,  G01N21/8806

Abstract: 本发明揭示了一种光学测量和/或检测装置，该装置在一个应用中可被用来检测半导体器件。它包括：光源，用以提供入射光线；具有内反射面的半抛物面反射器，其中，所述反射器具有焦点和对称轴；和置于焦点附近的待测器件。和反射器的对称轴平行的入射光线进入反射器后，将被导向到焦点以及从待测器件上反射离开，从而产生表示该待测器件的指示信息，然后反射光线离开该反射器。探测器阵列接收反射出来的光线，该光线可被分析以确定待测器件的特征。

公开(公告)号：CN101424568B

公开(公告)日：2011-08-03

申请号：CN200810170559.3

申请日：2008-10-21

Applicant: 索尼株式会社

Inventor： 松浦康二

IPC: G01J1/00 ,  G01J1/04 ,  G01J3/06

CPC classification number: G01J1/04 ,  G01J1/0266 ,  G01J1/0403 ,  G01J1/0422 ,  G01J1/0425 ,  G01J3/02 ,  G01J3/0208 ,  G01J3/0216 ,  G01J3/0218 ,  G01J3/027 ,  G01J3/0289 ,  G01J3/06

Abstract: 本发明披露了一种光测量装置和扫描光学系统，光测量装置可以有效取入来自平面光源的不同部分的光以执行测量。用于测量来自平面光源的光的光测量装置包括被配置为执行用于连续取入来自平面光源的不同部分的光的操作的空间分割装置。光学聚集装置聚集通过空间分割装置的操作取入的来自平面光源的不同部分的光。检测器接收由光学聚集装置聚集的光并输出对应于所接收光的信号。

公开(公告)号：CN1886640B

公开(公告)日：2010-04-28

申请号：CN200480034089.8

申请日：2004-11-09

Applicant: 傲得安姆技术有限公司

Inventor： 何帆 ,  之浩林 ,  约姚

IPC: G01J3/50

CPC classification number: G01J3/02 ,  G01J3/0216 ,  G01J3/0264 ,  G01J3/0272 ,  G01J3/0291 ,  G01J3/10 ,  G01J3/462 ,  G01J3/50 ,  G01J3/501 ,  G01J3/524 ,  G01J2003/1286

Abstract: 本发明提供了光谱测量系统和方法。在一个实施方案中，光谱测量设备(100)包括：至少一个发射源，用于提供N(N≥2)个线性独立光源(220)，所述发射源具有在预定波长范围内的M(M≥2)个波长通道；包含至少一个传感器的传感器单元(240)，用于与发射源(220)和测试对象(280)光学连通；用于储存光源特征矩阵的存储器(124)，光源特征矩阵包括N个光源(220)在M个波长通道上的频谱特性并与传感器单元的感应特征无关；以及处理器(122)，其至少部分基于光源特征矩阵，提供在M个波长通道上测量对象的频谱响应。本发明的实施方案可用于构建一种新型的小型化光谱测量设备，例如手持式颜色测量设备。

公开(公告)号：CN101443647A

公开(公告)日：2009-05-27

申请号：CN200780016961.X

申请日：2007-05-10

Applicant: 睿励科学仪器(上海)有限公司

Inventor： 吕彤欣 ,  王笑寒

IPC: G01N21/55

CPC classification number: G01J3/02 ,  G01J3/0216 ,  G01J3/0224 ,  G01J3/0243 ,  G01J3/10 ,  G01N21/8806

Abstract: 本发明揭示了一种光学测量和/或检测装置，该装置在一个应用中可被用来检测半导体器件。它包括：光源，用以提供入射光线；具有内反射面的半抛物面反射器，其中，所述反射器具有焦点和概要轴；和置于焦点附近的待测器件。和反射器的对称轴平行的入射光线进入反射器后，将被导向到焦点以及从待测器件上反射离开，从而产生表示该待测器件的指示信息，然后反射光线离开该反射器。探测器阵列接收反射出来的光线，该光线可被分析以确定待测器件的特征。

公开(公告)号：CN101424568A

公开(公告)日：2009-05-06

申请号：CN200810170559.3

申请日：2008-10-21

Applicant: 索尼株式会社

Inventor： 松浦康二

IPC: G01J1/00 ,  G01J1/04 ,  G01J3/06

CPC classification number: G01J1/04 ,  G01J1/0266 ,  G01J1/0403 ,  G01J1/0422 ,  G01J1/0425 ,  G01J3/02 ,  G01J3/0208 ,  G01J3/0216 ,  G01J3/0218 ,  G01J3/027 ,  G01J3/0289 ,  G01J3/06

Abstract: 本发明披露了一种光测量装置和扫描光学系统，光测量装置可以有效取入来自平面光源的不同部分的光以执行测量。用于测量来自平面光源的光的光测量装置包括被配置为执行用于连续取入来自平面光源的不同部分的光的操作的空间分割装置。光学聚集装置聚集通过空间分割装置的操作取入的来自平面光源的不同部分的光。检测器接收由光学聚集装置聚集的光并输出对应于所接收光的信号。

公开(公告)号：CN1849499A

公开(公告)日：2006-10-18

申请号：CN200480021725.3

申请日：2004-05-26

Applicant: 金伯利有限公司

Inventor： 马库斯·罗特迈尔 ,  马克斯·埃里克·布塞-格拉维茨 ,  托马斯·施米丁格

IPC: G01J3/02

CPC classification number: G01N21/4738 ,  G01J3/02 ,  G01J3/0216 ,  G01J3/10 ,  G01N21/645 ,  G01N21/78 ,  G01N2201/024

Abstract: 本发明涉及一种用于对物质执行连续测定的装置，其包括一发生化学反应的传感元件(21)，其被布置在容有所述物质的容积(22)的限界壁中或附近，其中，在模块化装置(1)的壳体(2)中，设置了用于对传感元件(21)进行读取的光学元件，其包括：至少一个光源(35)，其对传感元件(21)进行照射；以及至少一个试样检测器(29)，其对由传感元件(21)散射来的光线进行检测，其中，壳体(2)的前侧包括一个用于传感元件(21)的联接器，从而，传感元件(21)能被互换地、模块化地联接到壳体(2)的前侧上。在联接器的附近设置有玻璃体(24)，以使其与传感元件(21)直接接触，且在玻璃体(24)的后方为照射光和散射光设置了分开的导管(34、31)。模块化装置(1)使得模块化传感元件(21)易于实现互换，并在传感元件(21)与检测器(29)之间形成了稳定且能完成高质量测量的光学连接。

公开(公告)号：CN103261950B

公开(公告)日：2018-08-21

申请号：CN201180011548.0

申请日：2011-02-23

Applicant: 佳能株式会社

Inventor： 尾内敏彦

IPC: G02F1/035 ,  G02F1/39 ,  G01J3/42 ,  G01N21/35

CPC classification number: G02F1/3544 ,  G01J3/0216 ,  G01J3/42 ,  G01N21/3586 ,  G01N21/4795 ,  G01N2201/06113 ,  G02F1/0356 ,  G02F1/377 ,  G02F1/395 ,  G02F2001/3546 ,  G02F2001/374 ,  G02F2203/13

Abstract: 一种太赫兹波生成元件包括：电光晶体，其包括光学波导；光学耦合构件(7)，其将作为光传播通过所述波导的结果而从所述电光晶体生成的太赫兹波提取到空间；和至少两个电极(6a、6b)，其通过将电场施加于所述波导(4)来引起所述电光晶体(1)中的一阶电光效应，以便改变传播通过所述波导的光的传播状态。所述电光晶体(1)的晶轴被设置为使得通过二阶非线性光学过程生成的太赫兹波和传播通过所述波导(4)的光相位匹配。

公开(公告)号：CN103727880B

公开(公告)日：2017-09-08

申请号：CN201310478380.5

申请日：2013-10-14

Applicant: 横河电机株式会社

Inventor： 辻井敦 ,  千田直道 ,  西田和史

IPC: G01B11/02 ,  G01J3/42 ,  G01J3/46

CPC classification number: G01B11/14 ,  G01B11/026 ,  G01B11/0608 ,  G01B2210/50 ,  G01J3/0205 ,  G01J3/0208 ,  G01J3/021 ,  G01J3/0216 ,  G01J3/027 ,  G01J3/0291 ,  G01J3/10 ,  G01J3/18 ,  G01J3/2803 ,  G01J3/42 ,  G01J3/50

Abstract: 本发明公开了光谱特性测量设备、颜色测量设备、平面测量对象质量监控设备、位移测量方法、光谱特性测量方法和颜色测量方法。位移传感器包括：光源单元，其被构造为将具有不同的多个波长的光以倾斜的方向施加于平面测量对象的测量区域；分光镜，其被构造为测量被测量区域反射的光的光谱分布；特征量提取模块，其被构造为提取光谱分布的特征量；以及位移计算模块，其被构造为基于所提取的特征量以及预先获取的位移与特征量之间的关系来计算测量区域的位移。