中科微点-全球专利检索

  1. Login
  2. Sign Up

Search Results

64 records (took 0.017 seconds)

    PROBE FOR GAS SENSOR HAVING PURGE GAS PROTECTION
    51.
    发明公开
    PROBE FOR GAS SENSOR HAVING PURGE GAS PROTECTION 审中-公开
    具有净化气体保护的气体传感器探头

    公开(公告)号：EP3158319A1

    公开(公告)日：2017-04-26

    申请号：EP15730479.1

    申请日：2015-06-17

    Applicant: Danfoss IXA A/S

    Inventor： SKOUBOE, Allan ,  HOYER, Jesper ,  MOBERG, Carsten

    IPC: G01N21/15 ,  G01N21/27 ,  G01N21/85

    CPC classification number: G01N21/15 ,  G01N21/274 ,  G01N21/8507 ,  G01N2021/8578 ,  G01N2201/0233

    Abstract: A probe for an IR or UV sensor comprising a light emitter and detector is described comprising a lens. The detector detects the spectrums of the emitted light after it has passed a gas to be measured. The sensor of the present invention is especially suitable for such as harsh or aggressive environments measuring the exhaust gasses, for example in ships, vehicles, chimneys etc., and comprises purge gas protections for delicate optical parts to prevent particles etc. from the exhaust gas depositing on the optics. The sensor further has a flow of sample gas from the gas to be measured being adapted to prevent the purge gas from inferring with the measurements.

    Abstract translation: 描述了用于包括光发射器和检测器的IR或UV传感器的探测器，其包括透镜。 检测器在通过待测气体之后检测发射光的光谱。 本发明的传感器尤其适用于例如在船舶，车辆，烟囱等中测量废气的恶劣或恶劣环境，并且包括用于精密光学部件的净化气体保护以防止废气中的颗粒等 沉积在光学器件上。 传感器还具有来自待测气体的样本气体流，适合于防止吹扫气体随着测量而被推断。

    Testing of samples
    54.
    发明公开
    Testing of samples 有权
    机械材料

    公开(公告)号：EP1424547A2

    公开(公告)日：2004-06-02

    申请号：EP03256385.0

    申请日：2003-10-09

    Applicant: Instron Limited

    Inventor： Hayford, Paul D. ,  Long, David W.

    IPC: G01N3/00

    CPC classification number: G01N21/01 ,  G01N3/02 ,  G01N2201/0233 ,  G01N2203/0017 ,  G01N2203/0025 ,  G01N2203/0238 ,  G01N2203/0242 ,  G01N2203/0647

    Abstract: Test apparatus comprising means for holding a sample to be tested, means for altering the strain in the sample, an optical arrangement for monitoring the sample to be tested, and processing means for processing the signals resulting from the monitoring of the sample under test, wherein the environment between the optical arrangement and the sample under test is controlled, and wherein the sample to be tested is located in a position external to the controlled environment.

    Abstract translation: 测试装置，包括用于保持待测试样品的装置，用于改变样品中的应变的装置，用于监测待测试样品的光学装置，以及用于处理由待测试样品监测产生的信号的处理装置，其中 控制光学布置和被测试样品之间的环境，并且其中待测试样品位于受控环境外部的位置。

    Analyser
    55.
    发明公开
    Analyser 失效
    分析仪

    公开(公告)号：EP0368560A3

    公开(公告)日：1991-11-13

    申请号：EP89311338.1

    申请日：1989-11-02

    Applicant: BP OIL INTERNATIONAL LIMITED

    Inventor： Lapeyre, Jean-Louis ,  Verwaerde, Roger ,  Lambert, Didier Charles ,  Martens, Andre

    IPC: G01N21/35 ,  G12B17/08

    CPC classification number: G01N21/35 ,  G01N21/359 ,  G01N2201/0233

    Abstract: A continuous analyser comprises a spectrometer (2), suitably an NIR spectrometer, and a computer for automatic data processing, for operation in a classified safety area. The spectrometer (2), the central processing unit (3) of the computer, the video monitor (4) and the keyboard are enclosed in a leakproof pressurised cabinet (1) which also contains an air conditioner (9), the condenser (10) of which is located outside the cabinet (1). Purging of the atmosphere initally contained in the cabinet (1), the pressurisation of the cabinet (1) and the subsequent maintenance of this pressure are controlled by a pneumatic logic controller (13). This operates a purging phase during which the pneumatic logic controller (13) checks the escape of the minimum flow through an output module (16) for a specific time before permitting connection of the electrical equipment (2,3,4). This is followed by a pressure maintenance phase during which a desired pressure is maintained inside the cabinet (1) without appreciable escape through the output module (16).

    光源
    57.
    发明申请
    光源 审中-公开

    公开(公告)号：WO2008123196A1

    公开(公告)日：2008-10-16

    申请号：PCT/JP2008/055439

    申请日：2008-03-24

    Applicant: NUエコ・エンジニアリング株式会社 ,  株式会社片桐エンジニアリング ,  堀 勝 ,  加納 浩之 ,  田 昭治

    Inventor： 堀 勝 ,  加納 浩之 ,  田 昭治

    IPC: H05H1/00 ,  G01N21/01 ,  G01N21/31 ,  H01L21/3065

    CPC classification number: H05H1/0025 ,  G01N21/15 ,  G01N21/3103 ,  G01N2021/158 ,  G01N2201/023 ,  G01N2201/0233 ,  G01N2201/061

    Abstract: 【課題】プラズマの状態を乱すことなく、粒子密度を正確に測定できる光源を実現すること。 【解決手段】本光源は、管状の筐体１２と、筐体の内壁に沿って設けられた、冷却媒体を流通させる冷却媒体流通路３０と、筐体の先端に配設されたレンズ５０と、レンズの手前であって、筐体内部において、その筐体の軸に垂直に、相互に平行に、配設された第１電極４４及び第２電極４６と、その間に配設された絶縁スペーサ４６とを有する。第１電極、絶縁スペーサ及び第２電極の中央部を軸の方向に貫通する孔４７を有する。冷却媒体流通路の内壁に沿って、放電ガスを、レンズの裏面に向かって導入し、レンズで反射させて、孔を通して、流通させる放電ガス流通路を設けた。

    Abstract translation: [问题]实现能够精确测量颗粒密度而不干扰等离子体条件的光源。 解决问题的手段光源具有管状壳体（12），沿着壳体的内壁设置的允许冷却介质在通道中流动的冷却介质通道（30），设置有透镜（50） 在壳体的前端处设置有第一电极（44）和第二电极（45），所述第一电极（44）和第二电极（45）设置在位于透镜的该侧面上且位于壳体内的位置，以垂直于壳体的轴线并平行于每个 以及设置在第一和第二电极之间的绝缘间隔物（46）。 一个孔（47）轴向延伸穿过第一电极，绝缘垫片和第二电极的中心。 光源还具有放电气体通道，用于沿着冷却介质通道的内壁朝向透镜的后表面引入放电气体，并使放电气体被透镜反射，以允许气体流过 那个洞。

    PURGE GAS FLOW CONTROL FOR HIGH-PRECISION FILM MEASUREMENTS USING ELLIPSOMETRY AND REFLECTOMETRY
    58.
    发明申请
    PURGE GAS FLOW CONTROL FOR HIGH-PRECISION FILM MEASUREMENTS USING ELLIPSOMETRY AND REFLECTOMETRY 审中-公开
    用ELLIPSOMETRY和REFLECTOMETRY进行高精度薄膜测量的净化气体流量控制

    公开(公告)号：WO2008092121A3

    公开(公告)日：2008-09-25

    申请号：PCT/US2008052118

    申请日：2008-01-25

    Applicant: KLA TENCOR CORP ,  KWAK HIDONG ,  KRISHNAN SHANKAR

    Inventor： KWAK HIDONG ,  KRISHNAN SHANKAR

    IPC: H01H27/00 ,  G01J4/00

    CPC classification number: G01B11/0625 ,  G01B11/0633 ,  G01B11/0641 ,  G01J3/02 ,  G01J3/0224 ,  G01J3/0294 ,  G01J3/447 ,  G01N21/211 ,  G01N21/33 ,  G01N2021/213 ,  G01N2201/0233

    Abstract: A method and system for measuring sample characteristics using a broadband metrology tool in a purge gas flow environment are disclosed. A beam path for the tool is purged with gas at a first flow rate. The sample surface is illuminated by source radiation having a vacuum ultraviolet (VUV) and/or ultraviolet-visible (UV-Vis) component. The gas flow rate is adjusted between the first flow rate for measurements made with VUV radiation and a second flow rate for measurements made UV-Vis radiation. The system includes a light source, illumination optics, collection optics, detector, gas source and a controller. The gas source can supply gas to a beam path in the light source and/or illumination optics and/or sample and/or collection optics and/or detector. The controller can control a flow rate of the gas in response to an output signal from the detector.

    Abstract translation: 公开了一种用于在吹扫气体流动环境中使用宽带度量工具来测量样本特性的方法和系统。 用第一流速的气体吹扫工具的光束路径。 样品表面由具有真空紫外（VUV）和/或紫外 - 可见（UV-Vis）组分的源辐射照射。 气体流速在用VUV辐射进行测量的第一流速与用于进行UV-Vis辐射测量的第二流速之间调整。 该系统包括光源，照明光学器件，收集光学器件，检测器，气源和控制器。 气体源可将气体供应到光源和/或照明光学器件和/或样品和/或收集光学器件和/或检测器中的光束路径。 控制器可以响应于来自检测器的输出信号来控制气体的流量。

    ABSORPTION SPECTROSCOPY METHOD FOR CONTROLLING THE FORMING OF FLAT GLASS AND A CONTROL DEVICE
    59.
    发明申请
    ABSORPTION SPECTROSCOPY METHOD FOR CONTROLLING THE FORMING OF FLAT GLASS AND A CONTROL DEVICE 审中-公开
    用于控制平板玻璃形成和控制装置的吸收光谱法

    公开(公告)号：WO2007017616A3

    公开(公告)日：2007-03-29

    申请号：PCT/FR2006050794

    申请日：2006-08-09

    Applicant: AIR LIQUIDE ,  DOCQUIER NICOLAS

    Inventor： DOCQUIER NICOLAS

    IPC: G01N21/31 ,  C03B18/20 ,  C03B18/22 ,  G01N21/39

    CPC classification number: G01N21/3504 ,  C03B18/20 ,  C03B18/22 ,  G01N21/15 ,  G01N2021/151 ,  G01N2021/3513 ,  G01N2201/0231 ,  G01N2201/0233

    Abstract: The invention relates to a method for controlling flat glass forming by flowing a molten glass over a liquid tin layer contained in a forming vat wherein a forming characteristic quantity is measured above the glass surface during forming by means of beams generated by at least one absorption spectroscopy-based analyser, wherein the light beams generated by said analyser form a net above the glass surface. A device for carrying out the inventive method comprising an arm for supporting a vessel which comprises a retroreflecting means for receiving a light beam and transmitting it in an opposite direction parallel to an incident optical path is also disclosed.

    Abstract translation: 本发明涉及一种用于通过使熔融玻璃流过包含在成形槽中的液体锡层上来控制平板玻璃形成的方法，其中在成形期间通过至少一个吸收光谱产生的光束在玻璃表面上测量成形特征量 其中由所述分析器产生的光束在玻璃表面上形成网。 还公开了一种用于实施本发明的方法的装置，其包括用于支撑容器的臂，该臂包括用于接收光束并沿与入射光路平行的相反方向透射的后向反射装置。

    VERFAHREN ZUM NACHWEIS VON HELICOBACTER PYLORI
    60.
    发明申请
    VERFAHREN ZUM NACHWEIS VON HELICOBACTER PYLORI 审中-公开
    检测方法的幽门螺杆菌

    公开(公告)号：WO2016116257A1

    公开(公告)日：2016-07-28

    申请号：PCT/EP2016/000035

    申请日：2016-01-12

    Applicant: KIBION GMBH

    Inventor： WAGNER, Grischa ,  SILVESTRIC-SCHEEL, Marko

    IPC: G01N33/497 ,  G01N21/35

    CPC classification number: G01N33/497 ,  G01N21/3504 ,  G01N21/61 ,  G01N2033/4977 ,  G01N2201/0233

    Abstract: Der 13 C-Harnstoff-Atemtest hat sich zum Nachweis von Helicobacter Pylori Infektionen für die klinische Diagnostik etabliert. Bekannte Verfahren zum Nachweis von Helicobacter Pylori sehen es vor, dass jeder Verfahrensschritt einer festen, vorgegebenen Zeit entspricht. Dies gestaltet sich jedoch, insbesondere für die Durchführung einer großen Anzahl derartiger Untersuchungen als unvorteilhaft. Der Erfindung sieht es daher vor, ein Verfahren zu schaffen, durch das ein schneller Nachweis von Helicobacter Pylori in einer gasförmigen Probe realisierbar ist. Erfindungsgemäß wird der 13 C-Gehalts nur so lange gemessen, bis eine Mindestanzahl von Messwerten des 13 C-Gehalts einer vorzugebenden Standardabweichung genügt.

    Abstract translation: 的13C尿素呼气试验是用于临床诊断建立的检测幽门螺旋杆菌感染。 用于检测幽门螺旋杆菌的已知方法提供了有可能，每个工艺步骤固定的预定时间段对应于。 然而，这样的设计是特别为大量此类调查的实施是不利的。 因此本发明提供提供一种通过其可以实现幽门螺杆菌的气态样品中的更快的检测的方法。 根据13C内容的本发明仅作为长测量直到可预定的标准偏差的13C含量的测量值的最小数目是足够的。

Patent Agency Ranking