公开(公告)号：EP0263621A3

公开(公告)日：1990-01-10

申请号：EP87308443.8

申请日：1987-09-24

Applicant: Weiser, Sidney

Inventor： Weiser, Sidney

IPC: G01N21/55

CPC classification number: G01N21/55 ,  G01N2201/1045 ,  G01N2201/1087

Abstract: A specific small area of a crystal sample (11) is scanned by a laser beam in a spiral pattern (2a, 2b). The laser beam is reflected different amounts for different beam positions to produce a reflectance pattern indicative of crystallographic orientation. The reflected beam radiation may be determined with a photodetector (12) and the reflectance pattern may be interpreted with circuitry (13) which also controls steering of the beam.

公开(公告)号：EP0333561A1

公开(公告)日：1989-09-20

申请号：EP89400656.8

申请日：1989-03-08

Applicant: CHEMUNEX

Inventor： van Hoegaerden, Michel

IPC: G01N21/64

CPC classification number: G01N21/6456 ,  G01N15/1468 ,  G01N15/1475 ,  G01N21/6428 ,  G01N2021/0162 ,  G01N2201/1053 ,  G01N2201/1087

Abstract: La présente invention est relative à un appa­reil de détection et de numération de particules fluores­centes ou rendues fluorescentes, portées par un support so­lide et à un procédé de détection desdites particules, à l'aide dudit appareil.
L'appareil de détection et de numération de particules, présentes normalement, ou éventuellement conte­nues en tant que contaminants, dans un fluide liquide ou gazeux, ou dans un produit notamment alimentaire ou d'hygiène, par fluorimétrie, comprend une source lumineuse (10), des moyens de focalisation (12) du faisceau issu de ladite source lumineuse et au moins un moyen de détection (40) de la lumière fluorescente émise par les particules (60) présentes, et comprend en outre :
- un support (50) approprié à la collecte des particules naturellement fluorescentes ou rendues fluo­rescentes à l'aide d'au moins un colorant approprié choisi dans le groupe qui comprend les colorants vitaux, les colo­rants de viabilité positive et des substances fluorescentes portées par des anticorps et/ou des sondes nucléiques,
- des moyens de balayage (21, 31, 35) de la totalité de la surface du support à analyser, par ledit faisceau lumineux,
- et, un microprocesseur (45) de traitement pourvu d'au moins un moyen d'enregistrement et de comptage simultané des signaux électriques transmis par le/les dispositifs de détection (40) et le système de balayage (21, 31, 35).

Abstract translation: 设备，用于检测和计数颗粒，其荧光或荧光制成，由固体载体携带，并用于通过所述设备的方式检测所述颗粒的方法。 用于检测和计数粒子通常存在或可以包含在液体或气体流体中的污染物的形式的装置，或在尤其是产物的食品或卫生型产品，通过荧光，包括：光源（10） 装置，用于聚焦（12）从所述光源和用于检测至少一个装置（40）的荧光由存在的颗粒（60）所发射的，因此，一个梁包括：一个支撑件（50）适合于收集颗粒，其自然 荧光或通过从包括重要的污渍，以积极的活力和通过抗体和/或核酸探针携带荧光物质上的污渍的组中选择至少一种合适的染色剂的手段已经进行了荧光; 装置，用于扫描（21，31，35），所述支撑表面的整体由所述光束来分析; 并设置有至少一个微处理器（45）装置，用于记录和计数同时电信号反式由检测装置（一个或多个）（40）和扫描系统（21，31，35）mitted。

公开(公告)号：EP0503236A2

公开(公告)日：1992-09-16

申请号：EP92100744.9

申请日：1992-01-17

Applicant: International Business Machines Corporation

Inventor： Batchelder, John Samuel ,  Hobbs, Philip Charles Danby ,  Taubenblatt, Marc Alan

IPC: G01N21/55 ,  G02B21/00 ,  H01L21/66 ,  G01N21/88 ,  G02B3/00

CPC classification number: G01N21/9505 ,  G01J3/44 ,  G01J2003/421 ,  G01J2009/0207 ,  G01N21/3563 ,  G01N21/359 ,  G01N2021/1725 ,  G01N2021/1782 ,  G01N2021/8822 ,  G01N2201/0638 ,  G01N2201/1087 ,  G02B3/00 ,  G02B21/0016

Abstract: Apparatus and a method for performing high resolution optical imaging in the near infrared of internal features of semiconductor wafers (110) uses an optical device (112) made from a material having a high index of refraction and held in very close proximity to the wafer (110). The optical device (112) may either be a prism (130) or a plano-convex lens (112). The plano-convex lens (112) may be held in contact with the wafer (110) or separated from the wafer via an air bearing (112') or an optical coupling fluid (214) to allow the sample to be navigated beneath the lens (112). The lens (112) may be used in a number of optical instruments such as a bright field microscope, a Schlieren microscope, a dark field microscope, a Linnik interferometer, a Raman spectroscope and an absorption spectroscope.

Abstract translation: 装置和用于在半导体的内部特征的近红外执行高分辨率光学成像（晶片（110）的方法，使用从具有折射指数高的材料制成并保持在非常靠近晶片光学装置（112） 110）。 所述光学装置（112）可以是任一棱镜（130）或一个平凸透镜（112）。 的平凸透镜（112）可以在与晶片（110）保持接触或经由空气轴承（112“）上或在光学耦合流体（214）从该晶片分离，以允许样品被导航透镜下方 （112）。 所述透镜（112）可以以多种光学仪器的使用：诸如亮视野显微镜，一个纹影显微镜，暗场显微镜，林尼克干涉仪，拉曼光谱仪，并吸收分光。

公开(公告)号：EP0163466B1

公开(公告)日：1990-09-05

申请号：EP85303510.3

申请日：1985-05-20

Applicant: THERMA-WAVE INC.

Inventor： Rosencwaig, Allan ,  Opsal, Jon

IPC: G01B11/06 ,  G01N21/17 ,  G01N25/00 ,  G01B17/00 ,  G01N29/00

CPC classification number: G01N21/1702 ,  G01B11/0658 ,  G01N21/21 ,  G01N21/55 ,  G01N25/72 ,  G01N2201/1087

公开(公告)号：EP0319797A3

公开(公告)日：1990-05-23

申请号：EP88119684.4

申请日：1988-11-25

Applicant: MITSUI MINING & SMELTING CO., LTD.

Inventor： Moriya, Kazuo

IPC: G01N21/88 ,  G06T7/60

CPC classification number: G06T7/0004 ,  G01N21/9505 ,  G01N2021/1785 ,  G01N2021/4735 ,  G01N2021/8887 ,  G01N2201/102 ,  G01N2201/1087 ,  G06T2207/10056 ,  G06T2207/30148

Abstract: A method and apparatus for measuring a defect distribution comprising introducing a narrowed laser beam into an object to be observed, receiving scattering lights generated at the defect portions of the object by a photoelectric conversion element, and measuring automatically the density and density distribution of the defects inside the object on the basis of the output image data of the photoelectric conversion element.

公开(公告)号：EP0163466A3

公开(公告)日：1987-11-04

申请号：EP85303510

申请日：1985-05-20

Applicant: THERMA-WAVE INC.

Inventor： Rosencwaig, Allan ,  Opsal, Jon

IPC: G01B11/06 ,  G01N21/17 ,  G01N25/00 ,  G01B17/00 ,  G01N29/00

CPC classification number: G01N21/1702 ,  G01B11/0658 ,  G01N21/21 ,  G01N21/55 ,  G01N25/72 ,  G01N2201/1087

Abstract: Two independent detection systems are provided for measuring thermal waves generated in a sample (22) by a periodic, localized heating cause by a laser beam (34) modulated by a modulator (32). One detection system generates output signals that are primarily a function of the surface temperature of the sample. The other detection system generates signals that are primarily a function of the integral of the temperature beneath the sample surface. The two independent thermal wave measurements permit analysis of both thickness and compositional variables. Both detection systems are implemented efficiently by one apparatus consisting of an He-Ne laser (50) directing a probe beam (52) through a polarising splitter (54) and a dichroic mirror (36) and the objective (38) of the heating beam (34) onto a spot at the heated spot of the sample (22). The probe beam (52) is reflected at an intensity that depends on the surface temperature and is deflected by an angle that depends on the integral of temperature beneath the surface. The reflected beam passes back to the splitter (54) where it is reflected to a split photodetector (80) from which the differential output indicates integral of temperature and sum output indicates surface temperature to a processor (58) determining thickness and compositional variables therefrom.

公开(公告)号：EP0163466A2

公开(公告)日：1985-12-04

申请号：EP85303510.3

申请日：1985-05-20

Applicant: THERMA-WAVE INC.

Inventor： Rosencwaig, Allan ,  Opsal, Jon

IPC: G01B11/06 ,  G01N21/17 ,  G01N25/00 ,  G01B17/00 ,  G01N29/00

CPC classification number: G01N21/1702 ,  G01B11/0658 ,  G01N21/21 ,  G01N21/55 ,  G01N25/72 ,  G01N2201/1087

Abstract: Two independent detection systems are provided for measuring thermal waves generated in a sample (22) by a periodic, localized heating cause by a laser beam (34) modulated by a modulator (32). One detection system generates output signals that are primarily a function of the surface temperature of the sample. The other detection system generates signals that are primarily a function of the integral of the temperature beneath the sample surface. The two independent thermal wave measurements permit analysis of both thickness and compositional variables. Both detection systems are implemented efficiently by one apparatus consisting of an He-Ne laser (50) directing a probe beam (52) through a polarising splitter (54) and a dichroic mirror (36) and the objective (38) of the heating beam (34) onto a spot at the heated spot of the sample (22). The probe beam (52) is reflected at an intensity that depends on the surface temperature and is deflected by an angle that depends on the integral of temperature beneath the surface. The reflected beam passes back to the splitter (54) where it is reflected to a split photodetector (80) from which the differential output indicates integral of temperature and sum output indicates surface temperature to a processor (58) determining thickness and compositional variables therefrom.

Abstract translation: 提供了用于通过由调制器（32）调制的激光束的原因（34）测量由周期性的，局部加热的样品（22）中产生的热波的两个独立的检测系统。 一个检测系统基因率输出信号并主要是样品的表面温度的函数。 其他检测系统基因率信号并主要是在样品表面下的温度的积分的函数。 在两个独立的热波的测量允许两者的厚度和组成变量的分析。 两个检测系统是由加热束中的一个设备，它包括一个氦氖激光器（50）通过一个极性伊辛分离器（54）和一个二向色镜（36）引导探测光束（52）和所述物镜（38）高效地实现 （34）到设置在样品（22）的加热的点的光点。 探测光束（52）被反射在强度确实取决于表面温度，并且通过在角度偏转那样依赖于温度的积分表面之下。 反射光束传递回在那里被反射到分裂光电检测器（80），从该差分输出指示积分温度和总和输出的分离器（54）指示表面温度到处理器（58）确定的采矿厚岬和组成变量那里从。

公开(公告)号：WO2012039352A1

公开(公告)日：2012-03-29

申请号：PCT/JP2011/071196

申请日：2011-09-16

Applicant: オリンパス株式会社 ,  田邊 哲也

Inventor： 田邊　哲也

IPC: G01N21/64

CPC classification number: G01N21/85 ,  G01N15/1434 ,  G01N21/6452 ,  G01N21/6458 ,  G01N2021/6419 ,  G01N2021/6421 ,  G01N2201/1087 ,  G02B21/0052 ,  G02B21/0076 ,  G02B21/008

Abstract: 　共焦点顕微鏡又は多光子顕微鏡による光計測を用いた走査分子計数法に於いて、光検出領域内に複数の発光粒子が一時に包含されることにより起因して、発光粒子の検出数の精度が悪化することを回避する方法が提供される。本発明の光分析技術では、共焦点顕微鏡又は多光子顕微鏡の光学系の光路を変更することにより試料溶液内に於いて光検出領域の位置を移動させながら光の強度を測定して生成された光強度データに於いて、閾値を超える強度を有する信号を発光粒子の光を表す信号として選択的に検出する態様にて発光粒子の光を表す信号を個別に検出する際に、閾値が光検出領域内の該光検出領域よりも狭い領域に包含された発光粒子からの光を表す信号が選択的に検出されるよう設定される。

Abstract translation: 本发明提供一种扫描分子计数法，其使用共聚焦显微镜或多光子显微镜进行光测量，其中由于多个发光粒子的暂时包含引起的检测出的发光粒子的数量的精度降低 在光检测区域被避免。 在本发明的光度分析技术中，对于通过改变共聚焦显微镜的光学系统的光路或多光子来移动样品溶液中的光检测区域的位置而测量光强而产生的光强度数据 显微镜，当以选择性地检测出具有阈值超过强度的信号的模式分别检测显示发光粒子的光的信号作为显示发光粒子的光的信号时，将阈值设定为 选择性地检测出显示来自比光检测区域窄的光检测区域内的区域中的发光粒子的光的信号。

公开(公告)号：WO2009020479A2

公开(公告)日：2009-02-12

申请号：PCT/US2008005345

申请日：2008-04-25

Applicant: UNIV CALIFORNIA ,  MEINHART CARL D ,  PIOREK BRIAN ,  LEE SEUNG JOON ,  MOSKOVITS MARTIN ,  BANERJEE SANJOY ,  SANTIAGO JUAN G

Inventor： MEINHART CARL D ,  PIOREK BRIAN ,  LEE SEUNG JOON ,  MOSKOVITS MARTIN ,  BANERJEE SANJOY ,  SANTIAGO JUAN G

IPC: G01N21/65

CPC classification number: G01N21/658 ,  G01N21/0332 ,  G01N21/05 ,  G01N33/0057 ,  G01N2021/0346 ,  G01N2201/06113 ,  G01N2201/1087 ,  Y10S977/902

Abstract: Provided are methods, devices and systems that utilize free- surface fluidics and SERS for analyte detection with high sensitivity and specificity. The molecules can be airborne agents, including but not limited to explosives, narcotics, hazardous chemicals, or other chemical species. The free-surface fluidic architecture is created using an open microchannel, and exhibits a large surface to volume ratio. The free-surface fluidic interface can filter interferent molecules, while concentrating airborne analyte molecules. The microchannel flow enables controlled aggregation of SERS-active probe particles in the flow, thereby enhancing the detector's sensitivity.

Abstract translation: 提供了以高灵敏度和特异性利用自由表面流体学和SERS进行分析物检测的方法，装置和系统。 分子可以是空气传播剂，包括但不限于爆炸物，麻醉剂，危险化学品或其他化学物质。 自由表面流体结构使用开放的微通道产生，并且表现出大的表面与体积比。 自由表面流体界面可以过滤干扰分子，同时浓缩空气中的分析物。 微通道流动使SERS活性探针颗粒在流动中受控聚集，从而提高检测器的灵敏度。

公开(公告)号：WO1994016543A1

公开(公告)日：1994-07-21

申请号：PCT/EP1994000090

申请日：1994-01-13

Applicant: SCHÜTZE, Raimund

IPC: H05H03/04

CPC classification number: G01N15/0205 ,  C12M41/46 ,  G01N2201/103 ,  G01N2201/1087

Abstract: The description relates to a device for handling, treating and observing small particles, especially biological particles. A first laser (4) generates light beams in a first wavelength range which are focussed by a first optical device (12, 13; 14, 15) and form an optical trap. A slide (22) holds corresponding particles. There is also a light source (17) for observation purposes and observation and recording devices for observing the particles and recording their behaviour. A second laser (3) generates light beams in a second wavelength range which are focussed so that particles on the slide may be treated. The optical devices for the light beams can be positioned and adjusted independently of each other and thus the light beams can be focussed in the same object plane of the slide at the start of treatment and observation independently of their wavelengths.