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公开(公告)号：CN106706131A
公开(公告)日：2017-05-24
申请号：CN201710037344.3
申请日：2017-01-19
Applicant: 中国科学院上海技术物理研究所
CPC classification number: G01J3/2823 , G01J3/021 , G01J3/0297 , G01J3/04
Abstract: 本发明公开了一种双缝入射高分辨率成像光谱系统,它由双入射缝、分光子系统以及探测子系统构成，其中分光子系统包含主反射镜、凸面光栅、次反射镜以及校正透镜，探测子系统包含滤光片以及面阵探测器。系统具有高分辨率、快速重访时间、较低成本以及空间系统高集成化。双缝结构使系统实现一次观测同时获得两个目标区域的光谱信息，缩短重访时间；通过主反射镜、凸面光栅、次反射镜同心的设计方法，可以减小系统像差，提高系统分辨率。
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公开(公告)号：CN106644082A
公开(公告)日：2017-05-10
申请号：CN201611235177.5
申请日：2016-12-28
Applicant: 江苏师范大学
CPC classification number: G01J3/44 , G01J3/0202 , G01J3/04
Abstract: 凸轮，具有外接触面、内腔、内接触面、旋转轴；内腔为圆形盲孔，开口于凸轮的下表面，内腔的轴线与旋转轴的轴线重合；内接触面与内腔的腔界面的柱面重合；外接触面为圆柱面，外接触面的轴线与旋转轴的轴线不重合；外接触面的轴线与旋转轴的轴线平行；外接触面的直径大于内接触面的直径；外接触面与内接触面之间为限位壁；凸轮的上表面具有刻度线，刻度线为直线，刻度线的延迟线穿过旋转轴的轴线，刻度线不穿越旋转轴的轴线；刻度线上标有限位壁的壁厚值。狭缝装置、微型拉曼散射光谱装置，具有前述的凸轮。本发明可以防止磨损，还可以防止因为轴承磨损导致轴承不均匀而出现精度变化，本发明保持精度一直不变。
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公开(公告)号：CN106382985A
公开(公告)日：2017-02-08
申请号：CN201610966802.7
申请日：2016-10-28
Applicant: 中国科学院西安光学精密机械研究所
IPC: G01J3/04
CPC classification number: G01J3/04 , G01J2003/045
Abstract: 本发明属于光学领域，尤其涉及一种利用多狭缝实现的光谱成像方法及其使用装置。本发明利用通过在前置成像镜一次像面处设置多狭缝组件，同时得到多个目标的光谱图像。利用推扫，对同一目标多次成像，可以将多帧数据中对同一目标的光谱信息进行叠加，成倍提高提高目标有效能量，进而提高图像信噪比。有效的解决了高分辨率成像光谱仪能量不足、信噪比低的缺点。
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公开(公告)号：CN104956192A
公开(公告)日：2015-09-30
申请号：CN201380070495.9
申请日：2013-12-03
Applicant: 康宁股份有限公司
Inventor： L·E·康斯托克二世 , R·L·威金斯 , K·S·伍达得
CPC classification number: G01J3/04 , G01J3/0229 , G01J3/2823 , G01J2003/042 , G01J2003/045
Abstract: 本文中公开了用于提供远程目标(例如，感兴趣的场景104)的一区域的高光谱图像的高光谱成像系统(100b)和方法。在一个方面，高光谱成像系统包括至少一个光学器件(106)、可旋转的盘(302)(其具有形成在其中的多个直缝(304))、光谱仪(110)、二维图像传感器(112)和控制器(114)。在另一个方面，高光谱成像系统包括至少一个光学器件、可旋转的盘(其具有形成在其中的至少一个螺旋狭缝)、光谱仪、二维图像传感器和控制器。在又一方面，高光谱成像系统包括至少一个光学器件、可旋转的鼓(其具有形成在其外表面上的多个狭缝以及位于其中的折叠镜)、光谱仪、二维图像传感器和控制器。
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公开(公告)号：CN102869962B
公开(公告)日：2014-05-07
申请号：CN201080064500.1
申请日：2010-04-28
Applicant: 台湾超微光学股份有限公司
Inventor： 柯正浩
CPC classification number: G01J3/04 , G01J3/02 , G01J3/0256 , G01J3/1804
Abstract: 一种适用于光谱仪（200）的狭缝座模块（100），包括底板（110）、狭缝座（120）、狭缝片（130）、固定装置（140）和球状物（150）。狭缝座（120）设置在底板（110）上。狭缝片（130）具有一狭缝（131），狭缝片（130）固定到狭缝座（120）上，以使光线可以穿越狭缝（131）。球状物（150）设置在狭缝座（120）与固定装置（140）之间，并且球状物（150）与狭缝座（120）具有接触点（151），外力通过固定装置（140）施加在球状物（150）上，从而使狭缝座（120）固定在底板（110）上。还提供了一种包括该狭缝座模块（100）的光谱仪（200）。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN103308161A
公开(公告)日：2013-09-18
申请号：CN201310269979.8
申请日：2013-06-28
Applicant: 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
Abstract: 航天遥感大相对孔径宽视场高分辨率成像光谱仪光学系统，属于航天遥感光学领域，解决了现有光学系统相对孔径小、集光能力弱、视场覆盖范围小的问题，该系统中的折叠Schmidt望远镜包括双胶合校正板、平面折转镜、球面反射镜和双胶合场镜；Dyson光谱仪包括入射狭缝、双胶合Dyson透镜、非球面校正透镜、凹面衍射光栅和探测器像面；目标光束依次经双胶合校正板、平面折转镜、球面反射镜和双胶合场镜成像在入射狭缝上，成像光束再依次经双胶合Dyson透镜、非球面校正透镜和凹面衍射光栅衍射后再经非球面校正透镜和双胶合Dyson透镜成像在探测器像面上。本发明集光能力强，分辨率高，相对孔径1/1.2，视场覆盖宽度4°。
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公开(公告)号：CN103292901A
公开(公告)日：2013-09-11
申请号：CN201310057156.9
申请日：2013-02-22
Applicant: 索尼公司
CPC classification number: G01J3/18 , G01J3/0208 , G01J3/021 , G01J3/0213 , G01J3/0224 , G01J3/10 , G01J3/44 , G02B5/1814 , G02B27/0905 , G02B27/0927 , G02B27/0933
Abstract: 本发明涉及光谱测定光学系统和使用该光谱测定光学系统的光谱测定仪。所述光谱测定光学系统包括：反射部件，其具有沿第一圆形形成的凹面；衍射光栅，其具有边缘部和沿第二圆形形成的凸面，所述第二圆形与所述第一圆形同心地布置，在所述反射部件的所述凹面处被反射的光入射到所述衍射光栅上；以及输入元件，其相对于所述反射部件及所述衍射光栅布置在预定位置处，使得衍射光在输入至所述光谱测定光学系统的输入光与所述衍射光栅的所述边缘部之间穿过。所述衍射光自所述衍射光栅射出、具有不小于600nm且不超过1100nm的波长区域、并且在所述凹面处被反射。根据本发明的光谱测定光学系统和光谱测定仪，能够用于检测具有特定波长范围的光。
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公开(公告)号：CN102944307A
公开(公告)日：2013-02-27
申请号：CN201210534435.5
申请日：2012-12-12
Applicant: 重庆大学
Abstract: 一种可变分辨率微镜阵列复用型光谱仪，包括光源、准直透镜、微镜阵列、分光成像系统和单点探测器；通过对微镜阵列进行区域划分，软件数控微镜阵元的开关，使得微镜阵列分别完成光谱仪器的入射狭缝控制与光谱调制功能；光源出射的光经准直透镜后到达微镜阵列构造狭缝区Ⅰ，选通的光经固定闪耀光栅分光后由第一成像透镜将色散光速成像到微镜阵列编码调制区Ⅱ，最后经第二成像透镜成像到单点探测器完成光谱的探测；通过软件数控微镜阵列两个区域，实现构造入射狭缝和光谱调制功能，使得光谱仪光学分辨率与象元分辨率均可通过软件编程调节，具有高精度、高可靠性、易于调节、结构紧凑、集成化高，微型化等特点。
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公开(公告)号：CN101915613B
公开(公告)日：2011-12-28
申请号：CN201010242597.2
申请日：2010-08-02
Applicant: 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所
IPC: G01J3/04
Abstract: 一种可双向调节缝宽的狭缝调整装置，涉及光学精密机械技术领域，它解决了现有可调狭缝装置的机械结构复杂、加工工艺性不好、尺寸较大，并且组装困难，同时存在成本较高的问题，本发明装置包括调节螺杆、两个狭缝刀片、带主体基座、上盖、导向叶片、拉紧弹簧、止推轴承、支撑板；采用对称布置的导向叶片保证狭缝刀片的直线运动；采用绕过小滑轮的细钢丝连接两个刀片，保证两个刀片做相反方向运动时的对称性；采用拉紧弹簧对两刀片施加预紧力保证钢丝张紧并消除螺杆爬行和空回误差。本发明易于加工制造、成本低、并保证双向调节、安装简便、缝宽调整范围大。本发明适用于精密机械加工领域。
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公开(公告)号：CN101010574A
公开(公告)日：2007-08-01
申请号：CN200580028717.6
申请日：2005-08-23
Applicant: 皇家飞利浦电子股份有限公司
Inventor： W·伦森
CPC classification number: G01J3/36 , G01J3/04 , G01J2003/047 , G01J2003/1278
Abstract: 本发明提供一种用于确定光信号的主分量的振幅的光学分析系统。该主分量表示经历光谱分析的物质的各个化合物中特殊化合物的浓度。该光信号经历波长选择加权。优选借助于空间光操纵装置与色散光学元件相结合来进行光谱加权。本发明的校准机构和方法有效地允许空间光操纵装置的精确定位。校准是基于在空间光操纵装置上的校准段与参考光源和检测器的结合。
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