-
公开(公告)号:DE102014119300A1
公开(公告)日:2016-06-23
申请号:DE102014119300
申请日:2014-12-19
Applicant: LEICA MICROSYSTEMS
Inventor: BIRK HOLGER , SEYFRIED VOLKER
Abstract: Ein Verfahren zum Erhöhen des dynamischen Bereichs eines Silizium-Photomultipliers (SiPM), insbesondere in Bezug auf die Detektion großer Strahlungsintensitäten, wobei einzelne Avalanche-Photodioden üblicherweise mit einer Vorspannung VR über eine Durchbruchspannung VBR hinaus vorgespannt werden, mit der Folge einer Lawinenentladung an Elektronen, die das Ausgangssignal definieren, ist dadurch gekennzeichnet, dass die aus einer einfallenden Strahlungsintensität resultierenden Ausgangssignale durch Veränderung der Vorspannung VR eingestellt wird, wobei die Ausgangssignale im Integrationsmodus ausgewertet werden.
-
公开(公告)号:LU92622B1
公开(公告)日:2016-06-20
申请号:LU92622
申请日:2014-12-19
Applicant: LEICA MICROSYSTEMS
Inventor: BIRK HOLGER , SEYFRIED VOLKER
-
公开(公告)号:DE102013227105A1
公开(公告)日:2015-03-05
申请号:DE102013227105
申请日:2013-12-23
Applicant: LEICA MICROSYSTEMS
Inventor: KRISHNAMACHARI VISHNU VARDHAN , SEYFRIED VOLKER
Abstract: Die Erfindung betrifft einen Strahlvereiniger für ein Mikroskop, insbesondere ein Scanmikroskop, der wenigstens ein erstes Beleuchtungslichtbündel und ein zweites Beleuchtungslichtbündel empfängt und zu einem koaxialen Ausgangslichtbündel vereinigt, wobei das erste Beleuchtungslichtbündel und das zweite Beleuchtungslichtbündel dieselbe Beleuchtungslichtwellenlänge, jedoch eine unterschiedliche Polarisation, insbesondere Linearpolarisation, aufweisen. Der Strahlvereiniger ist als akustooptischer Strahlvereiniger ausgebildet und derart aufgebaut und betrieben, dass durch Welchselwirkung mit wenigstens einer mechanischen Welle sowohl das erste Beleuchtungslichtbündel, als auch das zweite Beleuchtungslichtbündel gebeugt und dadurch auf eine gemeisame optische Achse gelenkt werden.
-
公开(公告)号:DE102013227103A1
公开(公告)日:2015-03-05
申请号:DE102013227103
申请日:2013-12-23
Applicant: LEICA MICROSYSTEMS
Inventor: KRISHNAMACHARI VISHNU VARDHAN , SEYFRIED VOLKER
Abstract: Die Erfindung betrifft ein Mikroskop mit einer akustooptischen Vorrichtung, die mit einer mechanischen Welle, die durch eine, vorzugsweise einstellbare, Frequenz charakterisiert ist, aus einem polychromatischen und kollinearen Detektionslichtbündel Anteile von an einer Probe gestreutem und/oder reflektiertem Beleuchtungslicht einer der Frequenz zugeordneten Beleuchtungslichtwellenlänge entfernt. Das Mikroskop zeichnet sich dadurch aus, dass ein Kristall der akustooptischen Vorrichtung, in dem die mechanische Welle propagiert, und die Ausbreitungsrichtung der mechanischen Welle zu dem in den Kristall einfallenden Detektionslichtbündel derart ausgerichtet sind, dass die akustooptische Vorrichtung mit der mechanischen Welle sowohl den die Beleuchtungswellenlänge und eine erste Linearpolarisationsrichtung aufweisenden Anteil des Detektionslichtbündels, als auch den die Beleuchtungswellenlänge und eine zweite, zur ersten Linearpolarisationsrichtung senkrechten Linearpolarisationsrichtung aufweisenden Anteil des Detektionslichtbündels ablenkt und dadurch aus dem Detektionslichtbündel entfernt.
-
65.
公开(公告)号:DE102009022394A1
公开(公告)日:2010-11-25
申请号:DE102009022394
申请日:2009-05-22
Applicant: LEICA MICROSYSTEMS
Inventor: BIRK HOLGER , SEYFRIED VOLKER , MOSCHEL ROLAND , WEBSTER DEREK , BRUEGGEMANN HARALD , BELZER MARIO
IPC: G02B21/00
Abstract: Die Erfindung betrifft ein Verfahren und ein System zum zentralen computergesteuerten Durchführen mindestens eines Testablaufs bei einem Scanmikroskop insbesondere einem konfokalen Mikroskop, bei dem mindestens ein erstes Softwaremodul einer Anwendungssoftware getestet wird. Die Erfindung löst die Aufgabe durch ein Netzwerk bestehend aus einzelnen Scanmikroskop-Clients und einem zentralen Server. Die Clients sind über eine Netzwerkschnittstelle ansprechbar und werden in einem zentralen Verzeichnis in dem Server verwaltet. Die Anwendungssoftware für die einzelnen Komponenten eines Scanmikroskops besteht aus einzelnen Softwaremodulen, die jeweils einem möglichen Test zugeordnet sind. Um die verschiedenen Tests durchführen zu können, wurden auf der Hardwareseite die Scanmikroskop-Clients mit zusätzlichen Sensoren und Komponenten ausgestattet, die es ermöglichen, verschiedene Betriebsparameter zu ermitteln.
-
公开(公告)号:AT484001T
公开(公告)日:2010-10-15
申请号:AT04725288
申请日:2004-04-02
Applicant: LEICA MICROSYSTEMS
Inventor: BIRK HOLGER , STORZ RAFAEL , SEYFRIED VOLKER
-
公开(公告)号:DE102007024074A1
公开(公告)日:2008-11-27
申请号:DE102007024074
申请日:2007-05-22
Applicant: LEICA MICROSYSTEMS
Inventor: BIRK HOLGER , SEYFRIED VOLKER
IPC: G02B21/00
Abstract: A light detector for use in a line scanning microscope and a microscope comprising such a light detector are described. The light detector comprises a line array of avalanche semiconductor detectors; and an electronic trigger circuit that is adapted to operate the avalanche semiconductor detectors in at least one of a Geiger mode with internal charge amplification and in a linear mode. The trigger circuit further comprises a parallel counter that is designed to read out in parallel light pulses detected by the avalanche semiconductor detectors. The parallel counter is adapted to accumulate the light pulses detected by the avalanche semiconductor detectors over a preset counting time.
-
公开(公告)号:DE102004044626B4
公开(公告)日:2008-11-20
申请号:DE102004044626
申请日:2004-09-13
Applicant: LEICA MICROSYSTEMS
Inventor: SEYFRIED VOLKER
IPC: G01N33/483 , G01N21/64
Abstract: A method for investigating transport processes in a preferably biological specimen, a laser light beam (2, 3) being guided by means of a scanning apparatus line by line over the specimen within definable specimen regions, and the light proceeding from the specimen being detected by means of a detection apparatus, is characterized, in the interest of the capability of investigating, with high accuracy, processes within the specimen that proceed on a short time scale, in that both an image production light beam (5) for the purpose of observing the specimen and a manipulation light beam (4) for the purpose of manipulating the specimen are used as the laser light beam (2, 3), the image production light beam (5) preceding the manipulation light beam (4) in such a way that pixels of the specimen not yet manipulated by the manipulation light beam (4) are illuminated with the image production light beam (5).
-
公开(公告)号:DE102007011305A1
公开(公告)日:2008-09-11
申请号:DE102007011305
申请日:2007-03-06
Applicant: LEICA MICROSYSTEMS
Inventor: BIRK HOLGER , DYBA MARCUS , GUGEL HILMAR , SEYFRIED VOLKER
-
公开(公告)号:DE102006039803A1
公开(公告)日:2008-03-20
申请号:DE102006039803
申请日:2006-08-25
Applicant: LEICA MICROSYSTEMS
Inventor: REMER LUCIUS , SEYFRIED VOLKER
-
-
-
-
-
-
-
-
-