光谱分析系统
    62.
    发明公开

    公开(公告)号:CN103592025A

    公开(公告)日:2014-02-19

    申请号:CN201310525282.2

    申请日:2013-10-30

    Applicant: 清华大学

    Inventor: 陈文聪 蒲以康

    CPC classification number: G01J3/443 G01J3/021 G01J3/0218 G01J3/1804

    Abstract: 本发明公开了一种光谱分析系统,包括:切尼-特纳光路结构;光电倍增管阵列,光电倍增管阵列包括N个光电倍增管,N为正整数;光纤阵列,光纤阵列包括N组光纤,各组光纤的第一端排成与入射狭缝平行方向的一列安装在切尼-特纳光路结构的聚焦平面上,其中各组光纤的第一端收集不同波长单色光,N组光纤的第二端与N个光电倍增管一一对应地相连以将不同波长的光信号传导到不同的光电倍增管;多通道时间门控计数器;高压电源;和温度控制模块,温度控制模块与光电倍增管阵列相连,用于在进行光谱测量时将光电倍增管阵列维持在恒定的低温环境。该系统的优点在于同时具有高灵敏度和高时间分辨能力,可用于采集微弱的快速变化且不重复的光谱信号。

    分光光度计
    66.
    发明公开

    公开(公告)号:CN103221802A

    公开(公告)日:2013-07-24

    申请号:CN201180054895.1

    申请日:2011-11-14

    Abstract: 在单光束方式的分光光度计,即使光源的光量随时间变动,也能得到高S/N且能长时间抑制漂移的高稳定透过光谱及吸收光谱。分光光度计具备:光源;试样池;多色仪,其通过将来自上述光源的光中的透过上述试样池内的试样的光分光为多个波长成分,来生成上述试样的透过光谱;图像传感器,其检测上述试样的透过光谱;光源监视用光检测器,其检测来自上述光源的光中的没有透过上述试样池的光;以及运算部,其使用上述光源监视用光检测器的输出信号修正上述试样的透过光谱。

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