荧光检测器
    63.
    发明授权

    公开(公告)号:CN101995399B

    公开(公告)日:2012-10-17

    申请号:CN201010255284.0

    申请日:2010-08-13

    Inventor: 军司昌秀

    Abstract: 本发明涉及荧光检测器,以改善样品浓度高时浓度和荧光强度之间关系的非线性,由此提高测量的动态范围。如果已知待测样品的浓度高,则使用在激励光(Lex)的通过方向上孔径(6b)短的光束限制单元(6),使得仅从靠近激励光入射侧的区域发出的荧光被聚光透镜(7)会聚并导入荧光侧分光仪(4)且被检测。在这种情况下,因为从通过样品溶液(S)并且被样品溶液(S)强吸收的激励光之后的区域发出的荧光不反映在测量结果中,所以尽管荧光数量有所减小,但是浓度和荧光强度之间关系的线性得到改善,因而改善了在高浓度下的量化准确性。如果样品浓度低,则使用具有长度在激励光(Lex)的通过方向上长的孔径(6a)的光束限制单元(6)来改善灵敏度。

    监测来自不同区域的光
    66.
    发明公开

    公开(公告)号:CN102124815A

    公开(公告)日:2011-07-13

    申请号:CN200980131793.8

    申请日:2009-08-06

    Abstract: 用于监测来自不同区域的光(2)的设备(1)包括用于选择来自特定区域的光的第一部件(10),用于对所选择的光进行滤波的第二部件(20),用于感测经滤波的光的第三部件(30),和用于响应第三部件(30)的输出信号而确定感测的光的频谱并用于根据频谱计算颜色参数的第四部件(40),颜色参数诸如色点和/或显色指数。第一部件(10)可以包括光角度选择器和转向器(11)以及光角度限制器(12),光角度选择器和转向器(11)例如旋转镜(110)和旋转装置(112),光角度限制器(12)例如具有吸收壁(120)或圆形孔(121)的高纵横比结构。第二部件(20)可以包括滤波器阵列(21)。第三部件(30)可以包括传感器阵列(31)。第四部件(40)可以包括控制器(43),该控制器(43)用于基于光源(6)的先验知识或通过使用伪逆矩阵技术确定频谱。存储器(44)可以存储用于颜色度量计算的设备信息、颜色匹配函数、反射曲线和标准化的数据。

    微分数值孔径方法及装置
    70.
    发明公开

    公开(公告)号:CN1468367A

    公开(公告)日:2004-01-14

    申请号:CN01816801.9

    申请日:2001-10-03

    CPC classification number: G01J3/02 G01J3/0229 G01N21/47 G01N2021/214

    Abstract: 一种利用由可变照射(30)或观测数值孔径(40)或二者产生的入射角的测量结果,用于样品微分数值孔径分析的方法和装置。本发明提供了一种计量学的应用,特别是包括散射仪、椭圆仪及类似的分析方法,包括双向反射或透射分布函数的测量。本发明提供的装置和方法能利用最少的活动件,通过可变数值孔径或者孔径(30、40)在变化的投射或散射角度范围对样品的临界尺寸进行分析。

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