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公开(公告)号：CN113260835A
公开(公告)日：2021-08-13
申请号：CN201980087508.0
申请日：2019-12-11
Applicant: 光谱MD公司
Abstract: 总体而言，本申请的一个或多个方面对应于用于使用具有位于每个孔径上方的弯曲的多带通滤波器的多孔径系统的光谱成像的系统和技术。本公开还涉及用于使用从这样的成像系统接收的图像信息来实现光谱解混和图像配准以生成光谱数据立方体的技术。本公开的各方面涉及使用这样的数据立方体来分析被成像物体，例如在临床环境中分析组织、执行生物特征识别或执行材料分析。
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公开(公告)号：CN113227729A
公开(公告)日：2021-08-06
申请号：CN202080007486.5
申请日：2020-01-27
Applicant: 松下知识产权经营株式会社
Abstract: 有关本发明的一形态的光检测装置具备：滤波器阵列，包括以二维排列的多个滤波器；以及图像传感器；上述多个滤波器包括第1滤波器及第2滤波器；上述第1滤波器及上述第2滤波器分别具有共振结构，该共振结构包括第1反射层、第2反射层以及上述第1反射层与上述第2反射层之间的中间层，并且具有模数互不相同的多个共振模；从由上述第1滤波器的上述中间层的折射率及厚度构成的组中选择的至少1个与从由上述第2滤波器的上述中间层的折射率及厚度构成的组中选择的上述至少1个不同；上述图像传感器包括：第1光检测元件，配置在接受透射了上述第1滤波器的光的位置；以及第2光检测元件，配置在接受透射了上述第2滤波器的光的位置。
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公开(公告)号：CN113167649A
公开(公告)日：2021-07-23
申请号：CN201980081721.0
申请日：2019-12-11
Applicant: 松下知识产权经营株式会社
Abstract: 有关本发明的一形态的光检测装置具备滤光器阵列和图像传感器；所述滤光器阵列是包括二维排列的多个滤光器的滤光器阵列，包含在上述多个滤光器中的第1及第2滤光器各自包括第1反射层、第2反射层及在它们之间的中间层，并且具有共振构造，该共振构造具有等级相互不同的多个共振模式，上述第1及第2滤光器的上述中间层的折射率及/或厚度根据滤光器而不同，上述第1及第2滤光器各自的透射光谱在包含于某个波段中的多个波长处具有透射率的极大值，上述多个波长与上述多个共振模式分别对应；所述图像传感器包括各自被配置在接受透射过上述多个滤光器中的1个滤光器的光的位置、对于上述波段的光具有感度的多个光检测元件。
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公开(公告)号：CN112985603A
公开(公告)日：2021-06-18
申请号：CN202110242820.1
申请日：2016-08-29
Applicant: 苹果公司
Abstract: 本公开涉及用于非接触式感测物质的基准开关架构。本发明涉及用于在采样界面处测量样本(620)中的物质的浓度和类型的系统(600)和方法。所述系统(600)包括光源(602)、一个或多个光学器件(606,610,612)、一个或多个调制器(634,636)、基准(608)、检测器(630)以及控制器(640)。所公开的所述系统和所述方法能够通过在不同的测量光路之间共享一个或多个部件来考虑源自所述光源、一个或多个光学器件和所述检测器的漂移。另外，通过在所述光源与所述样本或基准之间放置一个或多个调制器，所述系统能够区分不同类型的漂移并且消除因杂散光导致的错误测量。此外，通过将检测器像素和微光学器件映射到所述样本中的位置和深度，所述系统能够沿着所述样本内的各种位置和深度检测所述物质。
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公开(公告)号：CN108449957B
公开(公告)日：2021-03-09
申请号：CN201680049893.6
申请日：2016-08-29
Applicant: 苹果公司
Abstract: 本发明涉及用于在采样界面处测量样本(620)中的物质的浓度和类型的系统(600)和方法。所述系统(600)包括光源(602)、一个或多个光学器件(606,610,612)、一个或多个调制器(634,636)、基准(608)、检测器(630)以及控制器(640)。所公开的所述系统和所述方法能够通过在不同的测量光路之间共享一个或多个部件来考虑源自所述光源、一个或多个光学器件和所述检测器的漂移。另外，通过在所述光源与所述样本或基准之间放置一个或多个调制器，所述系统能够区分不同类型的漂移并且消除因杂散光导致的错误测量。此外，通过将检测器像素和微光学器件映射到所述样本中的位置和深度，所述系统能够沿着所述样本内的各种位置和深度检测所述物质。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN112161947A
公开(公告)日：2021-01-01
申请号：CN202011025684.2
申请日：2016-02-23
Applicant: CI系统(以色列)股份有限公司
Abstract: 一种减少由改变至少一环境特征引起的漂移的方法，包含将自场景的辐射通过成像形成光学部件聚焦至检测器的第一区域，以产生第一像素信号，所述成像形成光学部件定位在第一外壳体积内；定位辐射源靠近所述成像形成光学部件；从所述辐射源投射辐射至所述检测器的第二区域，以产生第二像素信号，所述检测器的第一区域及第二区域是非重叠区域，在所述场景的辐射聚焦在所述检测器的第一区域上的持续时间内，从所述辐射源的辐射连续投射至所述检测器的第二区域；及基于预定函数修改所述第一像素信号，以产生修改像素信号，所述预定函数定义通过变化环境特征引起第二像素信号的变化及第一像素信号的变化之间的关系。本发明可以克服现有技术中的缺点。
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公开(公告)号：CN111164394A
公开(公告)日：2020-05-15
申请号：CN201880062990.8
申请日：2018-08-30
Applicant: AMS有限公司
Inventor： 休伯特·叶尼切尔迈尔 , 格哈德·艾尔姆施泰纳
Abstract: 光学感测装置(10)包括光电探测器阵列(11)，包括至少一个第一光电探测器(12)和至少一个第二光电探测器(13)，光电探测器阵列(11)设置在半导体衬底(14)上。光学感测装置(10)还包括滤波叠层(15)，设置在衬底(14)上，并且覆盖光电探测器阵列(11)。滤波叠层(15)包括至少两个第一下部电介质镜(16)和至少两个第二下部电介质镜(17)，其中第一和第二下部镜(16、17)设置在第一光电探测器(12)上，并且第一和第二下部镜(16、7)设置在第二光电探测器(13)之上，并且其中第一下部镜(16)在垂直于衬底(14)延伸的主平面的垂直方向(z)上的厚度与第二下部镜(17)不同。滤波叠层(15)还包括设置在第一和第二下部镜(16、17)上的间隔叠层(18)，以及设置在间隔叠层(18)上并且覆盖光电探测器阵列(11)的上部电介质镜(19)。此外，提供了制造光学感测装置(10)的方法。
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公开(公告)号：CN110865431A
公开(公告)日：2020-03-06
申请号：CN201910789353.7
申请日：2019-08-26
Applicant: 瑞士CSEM电子显微技术研发中心
Abstract: 滤光器、滤光器系统、光谱仪及其制造方法根据本发明的实施例，提供了一种纳米结构化光学波长透射过滤器。滤光器包括图案化基底，在所述图案化基底上布置高折射率介质波导。低折射率介电层布置在高折射率介质波导上，在所述低折射率介电层上布置金属纳米结构的阵列。滤光器的各层具有由基底的图案化表面限定的共形形状。本发明还涉及滤光器系统，包括光学透射过滤器和固定到基底的检测器阵列。本发明还涉及包括至少一个光学透射过滤器和/或至少一个所述光学透射过滤器系统的光谱仪，并且对于具有波长在300nm与790nm之间的入射光具有低于30nm的光谱分辨率。本发明还涉及制造滤光器、滤光器系统和光谱仪的方法。
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公开(公告)号：CN107024443B
公开(公告)日：2019-12-10
申请号：CN201610849383.9
申请日：2016-09-26
Applicant: 德尔格制造股份两合公司
Abstract: 本发明题为“用于气体分析系统的信号检测的方法”。表示并且描述一种用于分析测量气体的气体分析系统(1，1')中的信号检测的方法，其具有辐射源(3)，具有气体测量段(9)，在所述气体测量段中包含测量气体，具有法布里‑珀罗干涉仪(13)，具有热传感器(17)，其中所述热传感器(17)设计成，使得落在其上的电磁辐射造成其上设置的电极之间的电压的改变，并且如此布置，使得通过法布里‑珀罗干涉仪(13)的第二镜子离开的辐射落在热传感器(17)上。
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公开(公告)号：CN106595854B
公开(公告)日：2019-08-13
申请号：CN201611139570.4
申请日：2012-06-12
Applicant: 科磊股份有限公司
CPC classification number: G01J3/0259 , G01J1/58 , G01J3/0205 , G01J3/021 , G01J3/0256 , G01J3/0262 , G01J3/36 , G01J2003/1213
Abstract: 本申请涉及晶片级光谱仪。本发明涉及一种用于测量光学辐射的特性的传感器设备，所述传感器设备具有衬底及位于所述衬底内在一个或一个以上空间上分离的位置处的低轮廓光谱选择性检测系统。所述光谱选择性检测系统包含以光学方式耦合到对应光学检测器阵列的大体层状波长选择器阵列。应强调，提供本摘要以符合需要将允许搜索者或其它读者快速断定技术性揭示内容的标的物的摘要的规则。提交本摘要是基于以下理解：其将不用于解释或限制权利要求书的范围或含义。
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