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公开(公告)号：CN107563253A
公开(公告)日：2018-01-09
申请号：CN201610505878.X
申请日：2016-06-30
Applicant: 北京振兴计量测试研究所
Abstract: 本发明提供一种基于互采样的信号抗干扰处理方法，包括：获取第一单端脉冲信号和第二单端脉冲信号，所述第一单端脉冲信号和第二单端脉冲信号的相位差为90°或270°；将所述第一单端脉冲信号和第二单端脉冲信号进行异或操作以及互采样，分别获得第一脉冲信号和第二脉冲信号；根据所述第一脉冲信号和第二脉冲信号分别获得采集设备的角度分辨率和运动方向；通过异或处理和互采样处理，能够有效消除采集设备提供的脉冲信号中夹杂的干扰信号，提高转角和转速计算的准确性。
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公开(公告)号：CN105371992B
公开(公告)日：2017-12-15
申请号：CN201510929982.7
申请日：2015-12-15
Applicant: 北京振兴计量测试研究所
IPC: G01K15/00
Abstract: 本发明涉及一种温度传感器响应一致性标定测试系统，包括：大功率二氧化碳激光器1、导光管2、光学反射金属碗3、光学平面反射镜4、测试平台机构5、真空仓6和待标定温度传感器7，所述真空仓6置于所述测试平台机构5上，所述真空仓6中设置有光学反射金属碗3、光学平面反射镜4及待标定温度传感器7，所述大功率二氧化碳激光器1与导光管2连接。本发明保证了对待测温度传感器的温度响应曲线的输入变量保持一致，进而绘制的温度响应曲线只收温度传感器本身的特性影响，排除了外界环境对其的影响。
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公开(公告)号：CN106908144A
公开(公告)日：2017-06-30
申请号：CN201710192198.1
申请日：2017-03-28
Applicant: 北京振兴计量测试研究所
IPC: G01J1/00
CPC classification number: G01J1/00
Abstract: 本发明提供了一种超微弱星光照度测量装置及方法，装置包括光学镜头、分束器、测量通道Ⅰ、测量通道Ⅱ和数据处理器；光学镜头与分束器相连，测量通道Ⅰ和测量通道Ⅱ分别连接于分束器和数据处理器之间；测量通道Ⅰ包括光电探测器Ⅰ、前置放大器Ⅰ和光子计数器Ⅰ；测量通道Ⅱ包括单色器、光电探测器Ⅱ、前置放大器Ⅱ、光子计数器Ⅱ。本装置使用两条测量通道对光子数进行计数测量，得到光子计数总量的同时获得单色光的光子数，可得到光子计数总量中不同波长光子的比例，同时计数准确，且不必重复进行测量，同时对光束中的光能光谱分布进行测量，可提高光照度测量精度，能够实现10‑13lx超微弱星光照度的测量。
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公开(公告)号：CN106788506A
公开(公告)日：2017-05-31
申请号：CN201611087648.2
申请日：2016-11-30
Applicant: 北京振兴计量测试研究所
Abstract: 本发明涉及一种宽带一体化侦察接收机，包括模拟信道化模块和数字信道化模块，所述模拟信道化模块进一步包括四路功分器、第一至第四带通滤波器、第一至第四两路功分器、第一至第四检波器、第一至第四延时模块、采集分析模块、四点源模块、4‑1微波开关模块、混频模块；所述数字信道化模块进一步包括AD转换模块、多相滤波模块、FFT计算模块、门限检测模块、频率计算模块、数据存储模块。本发明所述侦察接收机充分融合直检式接收机、超外差接收机和数字信道化接收机的特点，增加了接收机的快速响应能力和复杂电磁环境的适应性，满足对复杂电磁环境的适应能力和侦察的实时性。
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公开(公告)号：CN105417491B
公开(公告)日：2017-05-24
申请号：CN201510924564.9
申请日：2015-12-14
Applicant: 苏州诺联芯电子科技有限公司 , 北京振兴计量测试研究所
Abstract: 本发明提供了一种定标黑体光源的制备方法，包括如下步骤：提供薄片衬底，并在衬底表面制作第一绝缘层；在第一绝缘层背离所述衬底的一侧的表面制作加热源，所述加热源具有可与外电路实现电性连接的引线区；在加热源背离第一绝缘层的一侧的表面制作第二绝缘层；在第一绝缘层或第二绝缘层背离衬底的一侧的表面制作温度传感器；使温度传感器与引线区背离所述衬底的一侧形成向外暴露以与外电路实现电性连接的引线通道；在第二绝缘层背离加热源的一侧的表面制作黑体薄膜。所述定标黑体光源升温、降温速度快，温度稳定时间仅需5‑10分钟，对于面积在5cm2的光源芯片，辐射温度达到500℃时，功耗仅在50W以下，并且体积小，易于集成在成像系统内部。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN106644070A
公开(公告)日：2017-05-10
申请号：CN201510731548.8
申请日：2015-11-02
Applicant: 北京振兴计量测试研究所
CPC classification number: G01J3/2823 , G01J3/0297 , G01J3/10
Abstract: 本发明提供一种真空紫外成像光谱仪校准装置，包括：真空紫外光源，用于产生不同波段的紫外光；真空紫外光处理模块，用于将所述紫外光进行分光和均匀处理；真空紫外靶标模块，用于提供特征靶标，将所述紫外光转换为具有相应特征的紫外光，并发送至标准紫外成像光谱仪或被校准紫外成像光谱仪；标准紫外成像光谱仪，用于接收靶标模块输出的紫外光并输出标准光辐射功率；控制模块，用于接收所述标准光辐射功率和被校准紫外成像光谱仪输出的光辐射功率，并输出校准结果；本发明提供的真空紫外成像光谱仪校准装置，能够在发射前对真空紫外成像光谱仪进行校准，保证真空紫外成像光谱仪在空间站的正常运行。
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公开(公告)号：CN106552681A
公开(公告)日：2017-04-05
申请号：CN201510622700.9
申请日：2015-09-25
Applicant: 北京振兴计量测试研究所
IPC: B01L1/00
Abstract: 本发明提供一种多通道的低气压试验箱校准设备，包括：N个压力传感器，用于分别获取对应的N个被测低气压试验箱内的压力检测值，其中，N为大于1的整数；数据处理装置，用于控制选通相应的压力传感器获取相应被测低气压试验箱内的压力检测值；可同时展开多台工业用和军用低气压试验箱的并行校准，有效提高测试效率。
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公开(公告)号：CN104503082B
公开(公告)日：2017-02-22
申请号：CN201410715206.2
申请日：2014-12-02
Applicant: 北京振兴计量测试研究所
Abstract: 本发明提供一种复合成像模拟光学系统，该系统主要由反射式红外光学系统和透射式可见光、激光光学系统组成，依次包括大口径反射镜、第一透镜、第二透镜和第三透镜。本发明通过采用反射式与透射式相结合的光学系统设计方式，通过合理匹配透镜的材料、半径、距离和厚度等参数，可满足红外光学系统±0.5°的成像质量要求和可见光、激光光学系统满足±5.5°观测范围的要求，从而最终实现三光合一共口径光学系统的性能要求。并且使整个系统装置整体尺寸最小，从而满足整个系统装置的整体要求。
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公开(公告)号：CN104374474B
公开(公告)日：2017-02-01
申请号：CN201410535632.8
申请日：2014-10-11
Applicant: 北京振兴计量测试研究所
IPC: G01J3/28
Abstract: 本发明提供了一种高精度紫外光谱辐照度测量系统，包括紫外漫透射片、汇聚透镜组、入射狭缝、消偏振器、折反镜、紫外分光系统和线阵紫外探测器。所述紫外漫透射片是一片圆形玻璃；所述汇聚透镜组由一块凸透镜和一块凹透镜组成，两块透镜中心轴线重合，组成一个汇聚光学系统用来收集漫透射光,两块透镜前后表面均镀紫外增透膜；所述入射狭缝高度范围为1mm～40mm；所述消偏振器由两块依次放置的延迟器组合而成；所述折反镜表面镀紫外高反膜。所述紫外分光系统采用光栅分光方式。本发明可对紫外光谱辐射照度进行高精度的测量。
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公开(公告)号：CN103677012B
公开(公告)日：2016-11-02
申请号：CN201310629300.1
申请日：2013-11-28
Applicant: 北京振兴计量测试研究所
IPC: G05D23/24
Abstract: 本发明公开了一种提高真空面源黑体均匀性的精细划分控制系统，本系统包括温度控制仪表、温度传感器、信号调理电路、面源黑体辐射源；所述面源黑体辐射源设有N个区域，每一区域设置一加热片，所述信号调理电路为一分N信号调理电路；所述信号调理电路的电压信号输入端与所述温度控制仪表的电压信号输出端连接，其每一电压信号输出端口分别经一程控电源与一所述加热片连接；所述温度传感器设于所述面源黑体辐射源上，并通过数据线与所述温度控制仪表的信号输入端连接。本系统具有均匀性好、稳定速度快，而且结构简单、成本低。
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