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公开(公告)号:FR3000606B1
公开(公告)日:2015-01-30
申请号:FR1350008
申请日:2013-01-02
Applicant: COMMISSARIAT ENERGIE ATOMIQUE , ST MICROELECTRONICS SA
Inventor: ROY FRANCOIS , CAZAUX YVON
IPC: H01L27/146
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公开(公告)号:FR3000606A1
公开(公告)日:2014-07-04
申请号:FR1350008
申请日:2013-01-02
Applicant: COMMISSARIAT ENERGIE ATOMIQUE , ST MICROELECTRONICS SA
Inventor: ROY FRANCOIS , CAZAUX YVON
IPC: H01L27/146
Abstract: L'invention concerne un capteur d'image formé dans et sur un substrat semiconducteur (201), ayant une pluralité de pixels (200) comportant chacun : une zone photosensible (205), une zone de lecture, et une zone de stockage (207) s'étendant entre la zone photosensible (205) et la zone de lecture ; au moins une première électrode verticale isolée (203) s'étendant dans le substrat entre la zone photosensible (205) et la zone de stockage (207) ; et au moins une deuxième électrode verticale isolée (209) s'étendant dans le substrat entre la zone de stockage (207) et la zone de lecture (211).
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公开(公告)号:FR2941327A1
公开(公告)日:2010-07-23
申请号:FR0950376
申请日:2009-01-22
Applicant: ST MICROELECTRONICS SA
Inventor: MINGAM HERVE , ROY FRANCOIS
IPC: H01L27/146
Abstract: L'invention concerne un dispositif de saisie d'images comprenant n (n étant un nombre entier) capteurs d'image agencés pour saisir des images respectivement d'une même scène selon au moins trois couleurs différentes, chacun des capteurs comprenant une matrice de pixels, chaque pixel étant associé à un transistor MOS de transfert (TR1-TR4), les transistors de transfert de n pixels voisins étant associés à une même sortie ; et un circuit de lecture (RST, SF, RD) associé à des moyens de commande pour lire : - la sortie de chaque transistor de transfert séparément, ou - les sorties de deux à n transistors de transfert voisins cumulativement.
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公开(公告)号:FR2911007B1
公开(公告)日:2009-10-02
申请号:FR0656033
申请日:2006-12-28
Applicant: ST MICROELECTRONICS SA
Inventor: TOURNIER ARNAUD , ROY FRANCOIS
IPC: H01L27/146 , H01L31/10 , H01L31/18
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公开(公告)号:FR2910713A1
公开(公告)日:2008-06-27
申请号:FR0611350
申请日:2006-12-26
Applicant: ST MICROELECTRONICS SA
Inventor: ROY FRANCOIS
IPC: H01L31/103 , H01L27/146 , H01L27/148 , H01L31/18
Abstract: L'invention concerne une photodiode formée d'une région d'un premier type (210) à l'intérieur d'une région d'un deuxième type (220) d'un substrat semi-conducteur. La région du premier type comprend une première zone (212) comprenant un dopant du premier type à une première concentration (C1) et ayant une première profondeur (P1). Selon l'invention, la région du premier type (210) comprend également une deuxième zone (214) adjacente à la première zone (212), comprenant le dopant du premier type à une deuxième concentration (C2) supérieure à la première concentration (C1) et ayant une deuxième profondeur (P2) inférieure à la première profondeur (P1).L'invention concerne également un procédé de réalisation d'une telle diode.Application à la réalisation de capteurs d'image.
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76.
公开(公告)号:FR2910709A1
公开(公告)日:2008-06-27
申请号:FR0611097
申请日:2006-12-20
Applicant: ST MICROELECTRONICS SA
Inventor: ROY FRANCOIS
IPC: H01L27/146
Abstract: L'invention concerne un procédé de fabrication d'un capteur comprenant une photodiode et un transistor de transfert associé, le procédé comprenant les étapes suivantes :E1 : formation d'une région d'isolement (214) sur un substrat (200),E2 : formation de la diode d'un premier côté (gauche) de la région d'isolement (214), la diode étant auto-alignée sur la région d'isolement (214),E3 : remplacement de la région d'isolement (214) par une grille (226) du transistor de transfert.Application à la fabrication de capteurs d'image CMOS ou CCD.
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公开(公告)号:FR2857158B1
公开(公告)日:2006-04-28
申请号:FR0307962
申请日:2003-07-01
Applicant: ST MICROELECTRONICS SA
Inventor: ROY FRANCOIS
IPC: H01L27/146 , H04N3/15 , H04N5/335
Abstract: The process involves transferring electric charges between a photodiode and a detection node via a transfer transistor. A control circuit applies an electric potential on a gate electrode of the transistor, such that an electric potential of a conduction channel of the transistor has a value equal to maximum value of the potential of the node multiplied by a number greater than or equal to one. An independent claim is also included for a luminous flow detection matrix.
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公开(公告)号:FR2846147B1
公开(公告)日:2005-09-16
申请号:FR0212851
申请日:2002-10-16
Applicant: ST MICROELECTRONICS SA
Inventor: CAZAUX YVON , ROY FRANCOIS
IPC: H01L27/146 , H04N5/363 , H04N5/374 , H04N3/15
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公开(公告)号:FR2820883A1
公开(公告)日:2002-08-16
申请号:FR0101883
申请日:2001-02-12
Applicant: ST MICROELECTRONICS SA
Inventor: ROY FRANCOIS
IPC: H01L27/144 , H01L27/146 , H01L31/0352
Abstract: A monolithic photodetector including a photodiode, a precharge MOS transistor, a control MOS transistor, a read MOS transistor, and a transfer MOS transistor, the photodiode and the transfer transistor being formed in a same substrate of a first conductivity type, the photodiode including a first region of the second conductivity type formed under a second region of the first conductivity type more heavily doped than the first region, and above a third region of the first conductivity type more heavily doped than the substrate, the first region being the source of the second conductivity type of the transfer transistor, the second and third regions being connected to the substrate and being at a fixed voltage.
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公开(公告)号:FR3027156A1
公开(公告)日:2016-04-15
申请号:FR1459727
申请日:2014-10-10
Applicant: STMICROELECTRONICS (CROLLES 2) SAS , ST MICROELECTRONICS SA
Inventor: FAVENNEC LAURENT , DUTARTRE DIDIER , ROY FRANCOIS
IPC: H01L31/0248 , H01L27/146
Abstract: L'invention concerne un procédé de fabrication d'une photodiode pincée, comprenant : la formation d'une région (13) de conversion de photons en charges électriques d'un premier type de conductivité sur un substrat (11, 12) du deuxième type de conductivité ; le revêtement de ladite région par une couche d'un isolant (22) fortement dopé du deuxième type de conductivité ; et un recuit assurant une diffusion de dopants en provenance de la couche d'isolant fortement dopé.
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