公开(公告)号：CN106768333A

公开(公告)日：2017-05-31

申请号：CN201611249130.4

申请日：2016-12-29

Applicant: 中国科学院西安光学精密机械研究所

Inventor： 高晓惠 ,  李学龙 ,  王飞橙 ,  魏儒义 ,  于涛 ,  李立波 ,  卫翠玉 ,  胡炳樑

IPC: G01J3/28 ,  G01J3/02 ,  G01J3/10

CPC classification number: G01J3/2823 ,  G01J3/027 ,  G01J3/10

Abstract: 为了解决因水下高光谱数据采集困难、通道多、信噪比差的特点致使高光谱成像设备难以在水下应用的问题，本发明提供了一种水下高灵敏光谱成像装置及成像方法，装置包括通讯控制组件以及与通讯控制组件均相连的光源组件、光学组件、CCD探测器和图像存储处理组件；光源组件的出射光束中心方向与光学组件光轴间有一定夹角，光源组件视场与光学组件视场在目标物处重合或大于光学组件视场；像增强器组件用于对微弱光信号进行倍增放大；CCD探测器用于接收像增强器组件的输出信号；图像存储处理组件用于接收、存储和处理CCD探测器探测到的图像，得到需调整的组件参数，将该组件参数传输给通讯控制组件。本发明能够减小图像噪声，提高图像信噪比。

公开(公告)号：CN103528685B

公开(公告)日：2017-05-24

申请号：CN201310276320.5

申请日：2013-07-03

Applicant: 精工爱普生株式会社

Inventor： 西村晃幸

IPC: G01J3/28 ,  G01J3/02 ,  G02B26/00

CPC classification number: G01J3/433 ,  G01J3/0264 ,  G01J3/027 ,  G01J3/26 ,  G02B26/001

Abstract: 本发明提供能进行快速的分光测定的分光测定装置。分光测定装置（1）具备：波长可变干涉滤波器（5），包括具有固定反射膜的固定基板、具有可动反射膜的可动基板、以及变更固定反射膜和可动反射膜之间的反射膜间间隙的间隙量的静电致动器；检测部（11），检测由波长可变干涉滤波器（5）取出的光的光强度；电压设定部（21）以及电压控制部（15），对静电致动器施加连续变化的模拟电压；电压监视部（22），监视施加给静电致动器的电压；存储部（30），存储V‑λ数据；以及光强度取得部（24），根据由电压监视部（24）监视的电压，在透过波长可变干涉滤波器（5）的光成为测定对象波长的定时，取得由检测部（11）检测的光强度。

公开(公告)号：CN102879088B

公开(公告)日：2017-04-12

申请号：CN201210240807.3

申请日：2012-07-11

Applicant: 徕卡显微系统复合显微镜有限公司

Inventor： H·比尔克 ,  V·塞弗里德

IPC: G01J1/42 ,  G01J1/04

CPC classification number: G01J3/027 ,  G01J1/0228 ,  G01J1/18 ,  G01J1/44 ,  G01J3/2803 ,  G01J3/36

Abstract: 用于探测光的装置，用在显微镜、光谱仪或照相机中，包括至少一个硅光电倍增管（SiPM），其由多个单光子雪崩二极管（SPADs）的阵列组成，该阵列的面积大于入射光的面积，其中仅仅激活和/或分析那些以特定最小强度的光入射其上的SPADs。采用该装置的方法。

公开(公告)号：CN103733340B

公开(公告)日：2017-02-15

申请号：CN201280036132.9

申请日：2012-07-11

Applicant: 索尼公司

Inventor： 横川创造

IPC: H01L27/14 ,  G02B5/20 ,  H04N5/374

CPC classification number: H01L27/14621 ,  G01J3/0259 ,  G01J3/027 ,  G01J3/12 ,  G01J3/18 ,  G01J3/2803 ,  G01J3/2823 ,  G01J2003/1213 ,  G01J2003/2806 ,  G01J2003/2816 ,  G01J2003/282 ,  G01J2003/2826 ,  G02B5/008 ,  G02B5/201 ,  H01L27/14629 ,  H04N5/332 ,  H04N5/374 ,  H04N5/378 ,  H04N9/07

Abstract: 本发明涉及固态摄像元件和摄像系统，其中能够实现具有高灵敏性和高波长分辨率的可见光/近红外光分光/摄像器件，并且利用所述固态摄像元件和摄像系统能够使具有高空间分辨率的二维光谱制图成为可能。固体摄像元件具有二维像素阵列和面对着二维像素阵列的像素区域布置的多种类型的滤波器，这些滤波器具有分光功能并具有比待检测的波长短的周期性微细图案。各滤色器大于二维像素阵列中的各像素的光电转换元件，并且形成单个单元，在该单元中一种类型的滤波器相对于相邻的多个光电转换元件组而布置。多种类型的滤波器相对于相邻单元组而布置并形成滤波器组，并且布置有N×M个单元（N和M是1以上的整数）以使滤波器组面对二维像素阵列的像素区域。

公开(公告)号：CN105509885A

公开(公告)日：2016-04-20

申请号：CN201510659493.4

申请日：2015-10-13

Applicant: 三菱电机株式会社

Inventor： 小岛启介 ,  秋浓俊昭 ,  堀口裕一郎

IPC: G01J3/28 ,  G01J3/02

CPC classification number: H04B10/0795 ,  G01J3/027 ,  G01J3/28

Abstract: 一种用于测量光信号的线宽的系统，包括光学传感器，该光学传感器确定传播通过不同距离的光信号的线宽的一组测量值。各测量值对应于不同距离，并且包括白调频(FM)噪声和低频FM噪声。该系统还包括处理器，该处理器用于确定白FM噪声和LF FM噪声的值，从而减小测量值与用白FM噪声和LF FM噪声的值针对不同距离而计算出的光信号的线宽的值之差。

公开(公告)号：CN102478429B

公开(公告)日：2016-03-16

申请号：CN201110262087.6

申请日：2011-09-06

Applicant: 精工爱普生株式会社

Inventor： 舟本达昭

IPC: G01J3/00 ,  G01J3/10

CPC classification number: G01J3/0229 ,  G01J3/0205 ,  G01J3/0208 ,  G01J3/021 ,  G01J3/027 ,  G01J3/0291 ,  G01J3/10 ,  G01J3/26 ,  G01J3/32

Abstract: 本发明提供一种分光测量装置，该分光测量装置包括：发射在所述可见光波长区域无峰值波长、并且随着波长由短波向长波的增大光量增大的光的钨灯；发射在可见光波长区域具有峰值波长的光的紫色LED；将钨灯和紫色LED发射的光混合的光混合器；让在所述光混合器混合的光入射、并且使混合的光的入射光中的特定波长的光透过的标准具；接收透过标准具的光的光接收部；转换可透过标准具的光波长，并根据光接收部接收到的光来测量透过标准具的光的分光特性的测量控制部。

公开(公告)号：CN104346420A

公开(公告)日：2015-02-11

申请号：CN201410346235.6

申请日：2014-07-21

Applicant: 爱色丽瑞士公司

Inventor： M·鲁姆普 ,  M·S.·埃伦斯 ,  A·科尔布伦纳 ,  F·拉米 ,  B·弗里克

IPC: G06F17/30

CPC classification number: G06F17/5009 ,  G01J3/027 ,  G01J3/463 ,  G01J3/504 ,  G01N21/47 ,  G06T11/001

Abstract: 在生成模拟材料的合成外观属性数据的方法中，采用表示模拟材料的双向纹理函数BTF。BTF适于输入能够在显示器上生成材料的可视化表示的渲染引擎。在所述方法中，提供参考材料(MR)的密集分布的原始BTF(B)和源材料(MS)的稀疏反射率值(D)。然后通过将所述稀疏反射率值(D)传递至所述原始BTF(B)而建立修正BTF(B’)。

公开(公告)号：CN102792150B

公开(公告)日：2014-12-10

申请号：CN201180013689.6

申请日：2011-04-08

Applicant: 丰田自动车株式会社 ,  日本电气株式会社

Inventor： 川真田进也 ,  船山龙士 ,  石勉 ,  吉川祐巳子

IPC: G01N21/27 ,  G01J3/457

CPC classification number: G01J3/457 ,  G01J1/4204 ,  G01J3/0264 ,  G01J3/027 ,  G01J3/2823 ,  G06K9/00369 ,  G06K9/00791 ,  G06K9/00805 ,  G06K2009/00644 ,  G08G1/166

Abstract: 光谱测定装置（11）基于由能够测定波长信息和光强度信息的光谱传感器（14）检测出的观测光的光谱数据来识别测定对象。该光谱测定装置具备光谱数据处理装置（16），该处理装置通过从由所述光谱传感器检测出的不同的两个位置处的光谱数据中的一方光谱数据减去另一方光谱数据或者将另一方光谱数据除以一方光谱数据，来计算出与所述不同的两个位置处的光谱数据相关的一个相关光谱数据。然后，处理装置基于该相关光谱数据来同时确定与所述不同的两个位置对应的测定对象。

公开(公告)号：CN102818792B

公开(公告)日：2014-10-29

申请号：CN201210109429.5

申请日：2012-04-13

Applicant: 株式会社岛津制作所

Inventor： 小田龙太郎

IPC: G01N21/64 ,  G01N21/31 ,  G01N30/74

CPC classification number: G01N21/31 ,  G01J3/0208 ,  G01J3/0216 ,  G01J3/024 ,  G01J3/027 ,  G01J3/06 ,  G01J3/18 ,  G01J3/4406 ,  G01J2003/2869 ,  G01N21/274 ,  G01N21/64 ,  G01N2021/6417

Abstract: 本发明提供一种光谱测量装置，包括：数据存储器，用于存储第一和第二荧光光谱，第一荧光光谱是通过使用不包含目标组分的溶剂作为上述试样而得到的，第二荧光光谱是通过使用包含目标组分的溶剂作为上述试样而得到的，第一和第二荧光光谱中的每一个都是通过在预定的波长范围内改变激发波长得到的；最佳波长确定器，用于根据第一和第二荧光光谱计算目标组分在各波长上的荧光强度的值，根据第一荧光光谱计算各波长上因溶剂引起的噪声量的估计值，以及根据目标组分的荧光强度的值和噪声量的估计值确定在各波长上的灵敏度指数。

公开(公告)号：CN103727880A

公开(公告)日：2014-04-16

申请号：CN201310478380.5

申请日：2013-10-14

Applicant: 横河电机株式会社

Inventor： 辻井敦 ,  千田直道 ,  西田和史

IPC: G01B11/02 ,  G01J3/42 ,  G01J3/46

CPC classification number: G01B11/14 ,  G01B11/026 ,  G01B11/0608 ,  G01B2210/50 ,  G01J3/0205 ,  G01J3/0208 ,  G01J3/021 ,  G01J3/0216 ,  G01J3/027 ,  G01J3/0291 ,  G01J3/10 ,  G01J3/18 ,  G01J3/2803 ,  G01J3/42 ,  G01J3/50

Abstract: 本发明公开了光谱特性测量设备、颜色测量设备、平面测量对象质量监控设备、位移测量方法、光谱特性测量方法和颜色测量方法。位移传感器包括：光源单元，其被构造为将具有不同的多个波长的光以倾斜的方向施加于平面测量对象的测量区域；分光镜，其被构造为测量被测量区域反射的光的光谱分布；特征量提取模块，其被构造为提取光谱分布的特征量；以及位移计算模块，其被构造为基于所提取的特征量以及预先获取的位移与特征量之间的关系来计算测量区域的位移。