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公开(公告)号：CN105467597A
公开(公告)日：2016-04-06
申请号：CN201510848295.2
申请日：2015-11-27
Applicant: 北京振兴计量测试研究所
IPC: G02B27/09
CPC classification number: G02B27/0955 , G02B27/0972
Abstract: 本发明涉及一种多光谱星光光源，其特征在于，所述多光谱星光光源包括依次串联的初始钨灯光源、汇聚光学系统、光学准直系统、棱镜色散系统、空间调制系统及均匀混光系统，所述初始钨灯光源发出的光经过所述汇聚光学系统在焦面处形成柱面光波，经过所述光学准直系统转化为平行光，再通过所述棱镜色散系统使多种波长的色散光谱投射在所述空间调制系统上，所述空间调制系统选择目标光谱进入所述均匀混光系统，由所述均匀混光系统输出端输出光谱范围从300nm到1100nm光谱任意可调的均匀光斑。本发明提供的光源能够同时兼顾高能量利用率与多光谱性。
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公开(公告)号：CN105371992A
公开(公告)日：2016-03-02
申请号：CN201510929982.7
申请日：2015-12-15
Applicant: 北京振兴计量测试研究所
IPC: G01K15/00
CPC classification number: G01K15/005
Abstract: 本发明涉及一种温度传感器响应一致性标定测试系统，包括：大功率二氧化碳激光器1、导光管2、光学反射金属碗3、光学平面反射镜4、测试平台机构5、真空仓6和待标定温度传感器7，所述真空仓6置于所述测试平台机构5上，所述真空仓6中设置有光学反射金属碗3、光学平面反射镜4及待标定温度传感器7，所述大功率二氧化碳激光器1与导光管2连接。本发明保证了对待测温度传感器的温度响应曲线的输入变量保持一致，进而绘制的温度响应曲线只收温度传感器本身的特性影响，排除了外界环境对其的影响。
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公开(公告)号：CN103677011B
公开(公告)日：2016-01-27
申请号：CN201310626223.4
申请日：2013-11-28
Applicant: 北京振兴计量测试研究所
Abstract: 本发明公开了一种适用于真空条件下面源黑体宽温度范围控制系统。本系统包括温度控制仪表、程控电源、温度传感器、制冷装置、加热片和面源黑体辐射源；其中，所述加热片、所述温度控制仪表分别设置于所述面源黑体辐射源上，所述温度控制仪表的第一路控制信号输出端经所述程控电源与所述加热片连接，所述温度控制仪表的第二路控制信号输出端与所述制冷装置的控制端连接，所述制冷装置与所述面源黑体辐射源连接；所述温度传感器所述温度控制仪表的信号输入端连接。本系统可以有效的提高面源黑体的温度控制范围，特别是制冷方式，能够使得面源黑体控制温度下限达到190K，能逼真的模拟真空低温红外辐射标准源。
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公开(公告)号：CN103018010B
公开(公告)日：2016-01-13
申请号：CN201210499382.8
申请日：2012-11-30
Applicant: 北京振兴计量测试研究所
Abstract: 一种光源光谱调制装置，包括光源、第一汇聚光学单元、色散单元、数字微镜阵列、第二汇聚光学单元和均匀混光单元；其中，第一汇聚光学单元，汇聚光源的光辐射；色散单元，将经所述第一汇聚光学单元汇聚的光辐射色散成像；数字微镜阵列，位于所述色散单元的焦面处，通过对每个微小反射镜的翻转状态的控制从而对不同光谱位置和光谱带宽进行选择；第二汇聚光学单元，将经所述数字微镜阵列反射的光辐射再次汇聚使其进入均匀混光单元；均匀混光单元，将分离的单色光辐射再次混合重组。本发明通过对光源光谱重新分布，能够对光源的光谱分布特性进行更改，可以应用到光学仪器校准和仿真测试领域，该技术可以提升光学仪器的校准精度和仿真测试能力。
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公开(公告)号：CN103197530B
公开(公告)日：2015-11-25
申请号：CN201310097811.3
申请日：2013-03-26
Applicant: 北京振兴计量测试研究所
Inventor： 游福初
Abstract: 本发明涉及时间测量技术领域，具体涉及一种提高测时分辨率的装置。所述装置包括：同步单元、第一延时电路、第二延时电路、取样单元以及电平转换译码单元；同步单元包括：第一同步器以及第二同步器；第一同步器的输入端接收时钟信号以及内插信号，其输出端连接每级取样单元的输入端；第二同步器的输入端连接第一延时电路的输出端；第一延时电路的输入端接收内插信号；第二延时电路包括延时单元，延时单元的输入端连接第二同步器的输出端；其输出端分别连接取样单元的输入端。取样单元包括同相输出端以及反相输出端，其同相输出端与上一级取样单元的反相输出端通过线或电路连接；电平转换译码单元的输入端连接取样单元的同相输出端。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN103148939B
公开(公告)日：2015-06-17
申请号：CN201310062603.X
申请日：2013-02-28
Applicant: 北京振兴计量测试研究所
IPC: G01J3/28
Abstract: 本发明涉及光学测试技术领域，具体的讲是一种抑制二级光谱的紫外光谱测量方法及系统，其中包括当进行110nm-200nm波段的紫外光谱测量时，将真空仓抽真空，紫外辐射透过所述真空仓的氟化镁窗口进入到检测设备，其中所述氟化镁窗口用于吸收波段在110nm以下的紫外辐射；当进行200nm-400nm波段的紫外光谱测量时，向所述真空仓中注入气体，所述紫外辐射通过所述真空仓中的空气和所述氟化镁窗口进入到检测设备，其中所述空气吸收波段在200nm以下的紫外辐射。通过本发明的实施例，在紫外光谱测量时光源光谱辐射度校准和探测器响应度校准中，将二级光谱的杂散辐射有效滤除，减少测量误差，提升测量精度。
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公开(公告)号：CN103017899B
公开(公告)日：2015-06-17
申请号：CN201210478694.0
申请日：2012-11-23
Applicant: 北京振兴计量测试研究所
Abstract: 本发明提供了一种汇聚摆镜，包括摆镜和旋转位移平台，其中，摆镜包括两块非反射面贴合的凹面反射镜，两块反射镜中心轴线重合，所述凹面反射镜曲面半径范围为50mm～5000mm，其中一块反射镜的反射面A镀30nm～200nm高反射膜，另一块反射面B镀60nm～200nm高反射膜，低于60nm光谱反射率较低。所述摆镜通过旋转位移平台进行平移和旋转运动。本发明可实现标准光源与待测光源的快速切换；并且可实现在光源光谱辐射度校准和探测器响应度校准中高级次光谱杂散辐射的有效滤除，减少测量误差，提升测量精度。
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公开(公告)号：CN104374474A
公开(公告)日：2015-02-25
申请号：CN201410535632.8
申请日：2014-10-11
Applicant: 北京振兴计量测试研究所
IPC: G01J3/28
Abstract: 本发明提供了一种高精度紫外光谱辐照度测量系统，包括紫外漫透射片、汇聚透镜组、入射狭缝、消偏振器、折反镜、紫外分光系统和线阵紫外探测器。所述紫外漫透射片是一片圆形玻璃；所述汇聚透镜组由一块凸透镜和一块凹透镜组成，两块透镜中心轴线重合，组成一个汇聚光学系统用来收集漫透射光,两块透镜前后表面均镀紫外增透膜；所述入射狭缝高度范围为1mm～40mm；所述消偏振器由两块依次放置的延迟器组合而成；所述折反镜表面镀紫外高反膜。所述紫外分光系统采用光栅分光方式。本发明可对紫外光谱辐射照度进行高精度的测量。
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公开(公告)号：CN106342226B
公开(公告)日：2014-04-02
申请号：CN201010050352.X
申请日：2010-09-29
Applicant: 北京振兴计量测试研究所
IPC: G01R31/00
Abstract: 一种雷达高度模拟器的检测方法，本发明属于雷达高度表的检测方法，尤其涉及雷达高度表回波模拟器等效高度参数的检测方法。其特征在于，由以下列几个步骤：1)测量等效高度检测系统的延迟时间；2)校正等效高度检测系统；3)测量设定高度的待测的雷达高度模拟器延迟时间；4)计算出待测雷达高度模拟器的误差。本发明对雷达高度表检测精度高、检测的数据范围大，能直观发现信号失真、泄漏等情况。
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公开(公告)号：CN102436060B
公开(公告)日：2014-02-26
申请号：CN201110418572.8
申请日：2011-12-15
Applicant: 北京振兴计量测试研究所
Abstract: 本发明提出一种无热化的可见光变焦镜头，依次由胶合透镜组I、透镜I、胶合透镜组II、胶合透镜组III、透镜II和透镜III，胶合透镜组和透镜采用铝合金镜筒联结。本发明通过采用被动无热化设计、变焦距光学设计及合理匹配透镜的材料、半径、距离和厚度参数，使镜头既能实现焦距从20mm到80mm之间变化又能在-40℃～60℃温度范围内实现被动无热化，省却了测温调焦机构，提高了系统可靠性。另外本发明通过采用被动无热化设计、变焦距设计技术及合理匹配透镜的材料、半径、距离和厚度参数，还减小了像差(球差、彗差、象散、场曲、色差及畸变)，提高了镜头光学传递函数，使得镜头可以在-40℃～60℃温度范围内对景物进行变焦距成像。该镜头用于远距离可见光景物的摄取。
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