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公开(公告)号：CN103728015B
公开(公告)日：2016-04-20
申请号：CN201310432079.0
申请日：2013-09-22
Applicant: 台湾超微光学股份有限公司
Inventor： 洪健翔
CPC classification number: G02B5/0273 , G01J1/0295 , G01J1/0414 , G01J1/0422 , G01J1/0425 , G01J1/044 , G01J1/0474 , G01J1/42 , G01J3/0205 , G01J3/021 , G01J3/0216 , G01J3/0218 , G01J3/0232 , G01J3/0297 , G01J3/18 , G02B19/0076
Abstract: 本发明公开了一种接收入射光的光学头及使用其的光学系统，其中一实施例的光学头包含穿透式余弦校正元件以及朝向穿透式余弦校正元件配置的反射元件。穿透式余弦校正元件配置于入射光的一光径上，并对反射元件遮蔽入射光。入射光在射入穿透式余弦校正元件后被转换为朗伯光形的一散射光。反射元件具有光学输出区与反光区，其中光学输出区使散射光通过，而反光区反射散射光至穿透式余弦校正元件及/或反光区的其他部分。本发明提高了散射光进入光学输出区的比例从而增加光学头可收集的入射光。
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公开(公告)号：CN105277490A
公开(公告)日：2016-01-27
申请号：CN201510340652.4
申请日：2015-06-18
Applicant: 大塚电子株式会社 , 国立大学法人东京农工大学
IPC: G01N21/25
CPC classification number: G01N21/51 , G01J3/0205 , G01J3/0208 , G01J3/021 , G01J3/0218 , G01J3/18 , G01J3/4412 , G01J9/02 , G01J2009/0223 , G01N15/0211 , G01N21/0303 , G01N21/45 , G01N2015/0222 , G01N2021/0389 , G01N2021/4709 , G01N2201/062
Abstract: 提供一种不易受到振动等外来干扰的影响、不需要进行参照光和试样光的光路差调整的动态光散射测定装置等。动态光散射测定装置(1)包含：照射部：其将来自低相干光源(10)的光照射到包含颗粒(42)的试样(40)；光谱强度取得部，其使来自参照面的反射光和透射过参照面的来自试样(40)的散射光分光，取得反射光和散射光的干涉光的光谱强度，所述参照面配置于照射到试样(40)的光的光路上；以及测定部，其基于取得的光谱强度测定试样(40)的动态光散射。
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公开(公告)号：CN102538962B
公开(公告)日：2015-11-18
申请号：CN201210015681.X
申请日：2012-01-19
Applicant: 杭州远方光电信息股份有限公司
Inventor： 潘建根
IPC: G01J3/02
CPC classification number: G01J3/36 , G01J3/021 , G01J3/0216 , G01J3/0237 , G01J3/0262 , G01J3/18 , G01J3/2803
Abstract: 本发明公开了一种低杂散光多色仪，包括光学腔、入射狭缝、色散系统和阵列探测器，色散系统的色散元件为光栅，阵列探测器的光敏面与光栅的主截面倾斜相交。本发明通过改变多色仪内光学器件的相对位置，使阵列探测器的光敏面上因发生非期望反射而产生的杂散光刚好被反射出期望光路，并在光学腔内壁，反射光斑投影的平面上安装消光的小光阑，从而大幅降低了杂散光。
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公开(公告)号：CN104969061A
公开(公告)日：2015-10-07
申请号：CN201380072255.2
申请日：2013-09-17
Applicant: 浜松光子学株式会社
CPC classification number: G01N21/645 , G01J3/021 , G01J3/0254 , G01J3/0291 , G01J3/4406 , G01N21/01 , G01N21/6489 , G01N2021/6469 , G01N2021/6482 , G01N2021/6484 , G01N2201/065
Abstract: 一种对作为测定对象的试样照射激发光而检测被测定光的分光测定装置，包含：光源，其产生激发光；积分器，其具有入射激发光的入射开口部、及射出被测定光的射出开口部；收纳部，其配置于积分器内，且收纳试样；入射光学系统，其使激发光入射至试样；光检测器，其检测自射出开口部射出的被测定光；及解析单元，其基于由光检测器检测出的检测值，计算试样的量子产率；激发光以包含(内包)试样的方式被照射于该试样。
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公开(公告)号：CN104903704A
公开(公告)日：2015-09-09
申请号：CN201480004033.1
申请日：2014-06-19
Applicant: 罗斯蒙特分析公司
Inventor： 帕维尔·克卢钦斯基
CPC classification number: G01N21/27 , G01J3/0205 , G01J3/021 , G01J3/42 , G01J3/433 , G01J3/4338 , G01J2003/423 , G01N21/39
Abstract: 提供一种气体吸收光谱系统和方法。密封腔中设置有具有已知水分浓度的参考气体。照射光源(112)被设置在密封腔中并被构造成生成照射光束。测量室(104)联接到密封腔并被构造成暴露给气体样品(106)，使得穿过测量室(104)的照射光(118)穿过气体样品(106)。处理窗口(116)被设置在密封腔和测量室(104)之间。处理窗口(116)被构造成接收来自照射光源(112)的照射光束并反射照射光的第一部分(128)，同时允许照射光的第二部分(118)进入测量室(104)。参考探测器(110)被设置成接收照射光的第一部分(128)并提供参考探测器信号。测量探测器(108)被设置成在照射光的第二部分已传输通过测量室(104)后接收照射光的第二部分(124)并提供测量探测器信号。控制器(105)连接到参考探测器(110)和测量探测器(108)，并被配置成基于参考探测器信号和测量探测器信号提供经补偿的水分输出。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN103308504B
公开(公告)日：2015-07-15
申请号：CN201310222241.6
申请日：2007-02-07
Applicant: 分子设备有限公司
CPC classification number: G01N21/645 , G01J3/02 , G01J3/0202 , G01J3/021 , G01J3/0218 , G01J3/0232 , G01J3/0235 , G01J3/0256 , G01J3/0291 , G01J3/10 , G01J3/427 , G01J3/4406 , G01N21/6408 , G01N21/6428 , G01N21/6445 , G01N21/763 , G01N2021/1738 , G01N2021/6415 , G01N2021/6419 , G01N2021/6441 , G01N2021/6482 , G01N2201/024 , G01N2201/0618 , G01N2201/062 , G01N2201/0621 , G01N2201/0692 , G01N2201/0696
Abstract: 提供了一种用于分析样品中的靶标的系统，所述系统包括：结构；电源，位于所述结构中；检测器，位于所述结构中；多个可移除的模块盒，至少一个可移除的模块盒包括用于产生激励光的光源、用于将电能从电源提供给光源的耦合器、以及用于将激励光引导至靶标的第一光学系统；读取头，被配置为接收来自所述靶标的发射光；以及模块盒支架，相对于所述结构是可移动的，包括被配置成同时接收多个可移除的模块盒的模块盒位置，所述模块盒支架被配置为选择性地将一个或多个可移除的模块盒与所述检测器和所述读取头相对齐，其中每个可移除的模块盒可从所述模块盒支架移除。
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公开(公告)号：CN104718481A
公开(公告)日：2015-06-17
申请号：CN201380002886.7
申请日：2013-03-14
Applicant: 索尔思光电(成都)有限公司
CPC classification number: G01J1/0411 , G01J3/021 , G01J2003/1217 , G02B6/29367 , G02B6/2938 , G02B6/4204 , G02B6/4227 , H01L25/50 , H01L2924/00 , H01L2924/0002 , G02B6/29365 , G02B6/4215 , H04B10/25
Abstract: 本申请公开了一种多通道光器件和其制造方法。光器件包括位于探测器安装基板(450)上的多个探测器(451-458)，和光器件内表面上相应的多个透镜(431-438)。每个探测器(451-458)探测具有特定中心波长的光。每个中心波长对应光器件的一个通道。每个透镜(431-438)汇聚光线至对应的探测器(451-458)。每个探测器(451-458)都具有与相应透镜(431-438)汇聚的光的焦点相对应的位置。制造所述光器件的方法包括将透镜(431-438)设置在光器件外罩表面上，通过透镜(431-438)传递具有多个中心波长的光，在探测器安装基板(450)上确定透镜(431-438)汇聚各光束的位置，并在各个位置上设置探测器(451-458)。
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公开(公告)号：CN102472663B
公开(公告)日：2014-07-16
申请号：CN201080036948.2
申请日：2010-08-11
Applicant: 浜松光子学株式会社
CPC classification number: G01J3/18 , G01J3/02 , G01J3/0202 , G01J3/0208 , G01J3/021 , G01J3/0256 , G01J3/0259 , G01J3/2803 , G02B5/1814 , G02B5/1852 , G02B5/1861
Abstract: 本发明的分光模块(1)中，边缘部(7)以比衍射层(6)厚的方式沿着衍射层(6)的周缘(6a)一体地形成。由此，使用母模形成衍射层(6)及边缘部(7)的情况的脱模时，可防止以沿着透镜部(3)的凸状曲面(3a)的方式形成的衍射层(6)维持于母模上而从曲面(3a)剥离。而且，以相对衍射层(6)的中心偏向规定侧的方式形成有衍射光栅图案(9)。由此，以相对于衍射层(6)的规定侧使其相反侧先进行的方式进行脱模，从而可防止衍射层(6)剥离、或衍射光栅图案(9)损坏。
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公开(公告)号：CN103728015A
公开(公告)日：2014-04-16
申请号：CN201310432079.0
申请日：2013-09-22
Applicant: 台湾超微光学股份有限公司
Inventor： 洪健翔
CPC classification number: G02B5/0273 , G01J1/0295 , G01J1/0414 , G01J1/0422 , G01J1/0425 , G01J1/044 , G01J1/0474 , G01J1/42 , G01J3/0205 , G01J3/021 , G01J3/0216 , G01J3/0218 , G01J3/0232 , G01J3/0297 , G01J3/18 , G02B19/0076
Abstract: 本发明公开了一种接收入射光的光学头及使用其的光学系统，其中一实施例的光学头包含穿透式余弦校正元件以及朝向穿透式余弦校正元件配置的反射元件。穿透式余弦校正元件配置于入射光的一光径上，并对反射元件遮蔽入射光。入射光在射入穿透式余弦校正元件后被转换为朗伯光形的一散射光。反射元件具有光学输出区与反光区，其中光学输出区使散射光通过，而反光区反射散射光至穿透式余弦校正元件及/或反光区的其他部分。本发明提高了散射光进入光学输出区的比例从而增加光学头可收集的入射光。
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公开(公告)号：CN103703348A
公开(公告)日：2014-04-02
申请号：CN201280036758.X
申请日：2012-06-12
Applicant: 科磊股份有限公司
IPC: G01J3/02
CPC classification number: G01J3/0259 , G01J1/58 , G01J3/0205 , G01J3/021 , G01J3/0256 , G01J3/0262 , G01J3/36 , G01J2003/1213
Abstract: 本发明涉及一种用于测量光学辐射的特性的传感器设备，所述传感器设备具有衬底及位于所述衬底内在一个或一个以上空间上分离的位置处的低轮廓光谱选择性检测系统。所述光谱选择性检测系统包含以光学方式耦合到对应光学检测器阵列的大体层状波长选择器阵列。应强调，提供本摘要以符合需要将允许搜索者或其它读者快速断定技术性揭示内容的标的物的摘要的规则。提交本摘要是基于以下理解：其将不用于解释或限制权利要求书的范围或含义。
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