公开(公告)号：KR1020150037977A

公开(公告)日：2015-04-08

申请号：KR1020157002871

申请日：2013-07-03

Applicant: 스미스 디텍션 인크.

Inventor： 스히링데이비드더블유 ,  프래어맥심 ,  주펭

IPC: G01J3/42 ,  G01J3/44 ,  G01J3/36 ,  G01J3/02

CPC classification number: G01J3/0256 ,  G01J3/108 ,  G01J3/36 ,  G01J3/42 ,  G01J3/44 ,  G01J2003/106

Abstract: 예를들어, IR 분광법구성요소및 라만분광법구성요소를이용하는광학적분광계검출을위한시스템및 기술이개시된다. 예를들어, 시스템은전자기적스펙트럼의제1 영역내의전자기적복사선의제1 부분으로샘플을조사하도록구성된제1 전자기적복사선공급원(예를들어, IR 공급원) 및전자기적스펙트럼의제2의실질적으로단색인영역내의전자기적복사선의제2 부분으로샘플을조사하도록구성된제2 전자기적복사선공급원(예를들어, 레이저공급원)을포함한다. 시스템은또한제1 전자기적복사선공급원과연관된샘플로부터반사된전자기적복사선의특성및 제2 전자기적복사선공급원과연관된샘플로부터반사된전자기적복사선의특성을분석하는것에의해서샘플의샘플구성성분을검출하도록구성된검출기모듈을포함한다.

公开(公告)号：KR1020100073019A

公开(公告)日：2010-07-01

申请号：KR1020080131596

申请日：2008-12-22

Applicant: 한국전자통신연구원

Inventor： 최상국 ,  강광용 ,  백문철 ,  곽민환 ,  강승범

IPC: H04B10/11 ,  H04B10/40 ,  G02B27/30

CPC classification number: G01J3/108 ,  G01J3/02 ,  G01J3/0208 ,  Y10T29/49826

Abstract: PURPOSE: A THz wave Tx/Rx module package and a manufacturing method thereof are provided to simply array a silicon ball lens, a photoconductive antenna and a condensing lens to high precision. CONSTITUTION: A silicon ball lens(230) is arranged in the lower of a substrate. A condensing lens(240) condenses a femtosecond laser pulse. A condensing lens arranging device(250) arranges the condensing lens in the active area central part of the photoconductive antenna. Upper and lower fixing parts(260a,260b) open perpendicular upper and lower part of the active area of the photoconductive antenna. Upper and lower covers(270a,270b) shut the opened area of the upper and lower fixing parts.

Abstract translation: 目的：提供一种太赫兹Tx / Rx模块封装及其制造方法，以高精度简单地排列硅球透镜，光导天线和聚光透镜。 构成：硅球透镜（230）布置在基底的下部。 聚光透镜（240）冷凝飞秒激光脉冲。 聚光透镜布置装置（250）将聚光透镜布置在光电导天线的有源区中心部分。 上和下固定部分（260a，260b）垂直于感光天线的有效区域的上部和下部。 上盖和下盖（270a，270b）关闭上固定部分和下固定部分的打开区域。

公开(公告)号：KR2020090009081U

公开(公告)日：2009-09-10

申请号：KR2020080002971

申请日：2008-03-06

Applicant: 주식회사 센서프로

Inventor： 이린기

IPC: G01J5/04

CPC classification number: G01J5/047 ,  G01J3/108 ,  H04N5/655

Abstract: 본 고안은 디자인이 우수하면서도 장애물이 있는 경우에도 필요한 위치에 용이하게 설치할 수 있는 앤틱형 적외선 감지기에 관한 것이다. 본 고안에 따른 앤틱형 적외선 감지기는, 장식용 문양이 형성된 브라켓부재(110)와, 상기 브라켓부재(110)의 일측에 일정길이로 연장되어 형성된 봉부재(120)와, 상기 봉부재(120)와 결합되며 상기 봉부재(120)에서 일방향으로 일정길이 가변되는 제 1, 제 2 가이드레일부(160)(170)로 구성된 브라켓수단(100); 상기 브라켓수단(100)의 제 1, 제 2 가이드레일부(160)(170)에 결합되고, 통상의 센서(220)가 안치되며, 하부뚜껑결합공(240)이 형성된 센서결합수단(200); 상기 센서결합수단(200)을 양측에서 감싸는 본체케이스수단(300); 상기 본체케이스수단(300)의 상부에 형성된 장식용 문양이 형성된 상부뚜껑수단(400); 그리고, 상기 본체케이스수단(300)의 하부에 형성된 장식용 문양이 형성된 하부뚜껑수단(500); 을 포함하여 구성된다. 따라서 본 고안에 따르면 우수한 디자인의 적외선 감지기를 설치하고자 하는 위치에 장애물이 돌출된 경우에도 장애물을 피해서 설치할 수 있는 효과가 있다.
적외선 감지기

公开(公告)号：KR1020040107206A

公开(公告)日：2004-12-20

申请号：KR1020030038154

申请日：2003-06-13

Applicant: 주식회사 포스코 ,  재단법인 포항산업과학연구원

Inventor： 최규현 ,  하종필 ,  김영덕

IPC: G01J5/22

CPC classification number: G01J5/26 ,  G01J1/44 ,  G01J3/108 ,  G01J2001/446

Abstract: PURPOSE: A non-contact type temperature measuring apparatus is provided to stably and continuously measure a temperature by correcting a temperature sensor using an automatic gain adjustment circuit. CONSTITUTION: A non-contact type temperature measuring apparatus includes a non-contact type infrared temperature detecting unit(5), an automatic gain adjustment circuit(11), a transmission unit(7), and a storage unit(9). An isolated phase bus(1) is a conduit to which high voltage and high current are applied. A housing(2) having a cylindrical structure is provided to protect the isolated phase bus(1). Air(3) is injected between the isolated phase bus(1) and the housing(2). A light receiving window(4) is provided at one side of the housing(2).

Abstract translation: 目的：提供一种非接触式温度测量装置，通过使用自动增益调节电路校正温度传感器来稳定并连续地测量温度。 构成：非接触型温度测量装置包括非接触型红外温度检测单元（5），自动增益调节电路（11），发送单元（7）和存储单元（9）。 隔离相母线（1）是施加高电压和高电流的导管。 提供具有圆柱形结构的壳体（2）以保护隔离相位总线（1）。 空气（3）注入隔离相母线（1）和外壳（2）之间。 在壳体（2）的一侧设置有光接收窗（4）。

公开(公告)号：NO20010102A

公开(公告)日：2001-01-08

申请号：NO20010102

申请日：2001-01-08

Applicant: KANSTAD TEKNOLOGI AS

Inventor： KANSTAD SVEIN OTTO

IPC: A61B5/08 ,  A61B5/083 ,  G01J20060101 ,  G01J3/10 ,  G01N21/01 ,  G01N21/35 ,  H05B3/26

CPC classification number: G01J3/108

公开(公告)号：KR101827680B1

公开(公告)日：2018-02-08

申请号：KR1020170106262

申请日：2017-08-22

Applicant: 엑셀리타스 테크놀로지스 싱가폴 피티이. 엘티디.

Inventor： 마르쿠스마테스 ,  프로메테우스야진스키

IPC: G01J5/08 ,  G01J3/10 ,  G01V8/10

CPC classification number: G01J5/0025 ,  G01J1/44 ,  G01J5/026 ,  G01J5/06 ,  G01J5/12 ,  G01J5/20 ,  G08B13/19 ,  G01J5/0853 ,  G01J3/108 ,  G01V8/10

Abstract: 모션감지장치는적외선(IR) 센서를포함하며, IR 센서는직류출력을생성하기위해웜 오브젝트(warm object)로부터의신호 IR 및배경 IR을수신한다. 제1 변환필터는직류출력을수신하고필터링된배경을생성한다. 제2 변환필터는직류출력을수신하고필터링된신호를생성한다. 레이팅부(rating)는필터링된신호와필터링된배경을비교하고필터링된신호와필터링된배경사이의검출된차이에기반하여결과신호(result signal)를생성한다.

Abstract translation: 运动感测装置包括红外（IR）传感器，其接收来自暖物体的信号IR和背景IR以产生DC输出。 第一个转换滤波器接收直流输出并产生滤波后的背景。 第二转换滤波器接收直流输出并产生滤波后的信号。 该评价将经滤波的信号与经滤波的背景进行比较，并基于检测到的经滤波的信号与经滤波的背景之间的差异来生成结果信号。

公开(公告)号：KR1020170140222A

公开(公告)日：2017-12-20

申请号：KR1020177030744

申请日：2016-04-29

Applicant: 오스람 옵토 세미컨덕터스 게엠베하

Inventor： 카우프만닐스 ,  마틴알렉산더

IPC: G01J3/02 ,  G01J3/32 ,  G01J3/10 ,  G01N21/33 ,  H01L33/50

CPC classification number: G01J3/108 ,  G01J3/0289 ,  G01J3/10 ,  G01J3/18 ,  G01J3/42 ,  H01L33/50 ,  H01L33/505 ,  H01L33/58 ,  G01J3/02 ,  G01J3/32 ,  G01N21/33

Abstract: 광전자배열체는광전자반도체칩, 파장-변환요소및 검출기구성요소를포함한다. 광전자반도체칩은제1 피크파장을갖는광을방출하도록설계된다. 파장-변환요소는광전자반도체칩에의해방출되는광을제2 피크파장을갖는광으로변환하도록설계된다. 광전자배열체는제1 피크파장을갖는광 및제2 피크파장을갖는광을방출하도록설계된다. 제1 피크파장은가시광선스펙트럼범위내에있고제2 피크파장은비-가시광선스펙트럼범위내에있고, 또는제1 피크파장은비-가시광선스펙트럼범위내에있고제2 피크파장은가시광선스펙트럼범위내에있다. 광전자배열체는피크파장이비-가시광선스펙트럼범위내에있는광을목표영역내로방출하도록의도된다. 검출기구성요소는, 목표영역으로부터후방산란되며그리고피크파장이비-가시광선스펙트럼범위내에있는광을검출하도록설계된다.

Abstract translation: 光电子阵列包括光电子半导体芯片，波长转换元件和检测器部件。 光电子半导体芯片被设计为发射具有第一峰值波长的光。 波长转换元件被设计成将由光电子半导体芯片发射的光转换成具有第二峰值波长的光。 光电子装置设计成发射具有第一峰值波长的光和具有第二峰值波长的光。 第一峰值波长在可见光谱范围内，第二峰值波长在不可见光谱范围内，或者第一峰值波长在不可见光谱范围内，第二峰值波长在可见光谱范围内。 光电子装置旨在将峰值波长的不可见光谱内的光发射到目标区域。 检测器组件设计用于检测从目标区域反向散射并且其峰值波长在光谱的不可见光谱范围内的光。

公开(公告)号：KR1020160078954A

公开(公告)日：2016-07-05

申请号：KR1020167007865

申请日：2014-08-29

Applicant: 유니버시티 오브 플로리다 리서치 파운데이션, 아이엔씨.

Inventor： 소,프랭키 ,  맨더스,제시,로버트 ,  첸,송 ,  클룸프,에릭,디. ,  레이,청-한 ,  창,사이-윙

IPC: H01L31/08 ,  G01J3/10 ,  G01J1/44 ,  H01L31/0296 ,  H01L31/032 ,  H01L31/0352 ,  H01L31/101

CPC classification number: H01L31/035218 ,  B82Y20/00 ,  B82Y40/00 ,  H01L31/02165 ,  H01L31/0296 ,  H01L31/0324 ,  H01L31/101 ,  H01L31/105 ,  H01L31/109 ,  H01L31/18 ,  Y10S977/774 ,  Y10S977/813 ,  Y10S977/893 ,  Y10S977/954 ,  H01L31/08 ,  G01J1/44 ,  G01J3/108 ,  G01J2001/444 ,  H01L31/0352

Abstract: 광검출기는제1 금속산화물의정공수송전자차단층 및제2 금속산화물의전자수송정공차단층 사이에위치한반전도성무기나노입자의광활성층을갖는다. 나노입자는스펙트럼의적어도적외선영역의전자기방사선에반응한다. 제1 금속산화물은 NiO일수 있고, 제2 금속산화물은 ZnO 또는 TiO일수 있다. 금속산화물층은심지어는광검출기주위의캡슐화코팅의부재하에도광검출기가공기중에서안정하게한다. 광검출기는 P-I-N 구조를갖는다.

公开(公告)号：KR101507474B1

公开(公告)日：2015-04-01

申请号：KR1020107010311

申请日：2008-09-26

Applicant: 에스 뻬 트루와 아쉬

Inventor： 푸르넬,조앙 ,  루나띠,알랭 ,  제르고,띠에리

IPC: G01J3/12 ,  G01J3/10 ,  G01N21/85 ,  G01N21/25

CPC classification number: G01N21/8507 ,  G01J3/02 ,  G01J3/0208 ,  G01J3/021 ,  G01J3/0218 ,  G01J3/0291 ,  G01J3/108 ,  G01J3/26 ,  G01J2003/2866 ,  G01N21/359 ,  G01N2021/8514

Abstract: 본발명은파장대를커버하는광선을생성하도록설정된조명장치(LSRC), 상기조명장치로부터출력된광선이분석대상인유체와상호작용하도록설정된프로브, 및상기광선이분석대상인유체와상호작용한후에광선을수용하고, 다양한범위의파장에대해광도의측정치를제공하도록설정된스펙트럼분석장치를포함하는분광기로서, 상기조명장치가, 다양한범위의파장의빛을발산하는수개의발광부재(1a-1c), 및상기발광부재(1a-1c)의발광면에고정되고, 상기파장대를커버하는생성된광선으로상기발광부재에의해발산된광류를결합하며, 상기생성된광류를프로브로가이드하는복합광학부재(3)를포함하는것을특징으로하는분광기에관한것이다.

公开(公告)号：KR101496056B1

公开(公告)日：2015-02-25

申请号：KR1020130151354

申请日：2013-12-06

Applicant: 세메스 주식회사

Inventor： 임철규

IPC: G01R1/073 ,  G01J3/02

CPC classification number: G01J3/027 ,  G01J3/10 ,  G01J3/108 ,  G01R1/07392

Abstract: 디스플레이 셀들을 검사하기 위한 장치에 있어서, 상기 장치는 기판 상에 형성된 복수의 디스플레이 셀들에 대한 검사 공정을 수행하기 위한 검사 챔버와, 상기 검사 챔버 내부에 배치되며 상기 디스플레이 셀들이 아래를 향하도록 상기 기판을 지지하는 기판 스테이지와, 상기 기판 스테이지 아래에 배치되며 상기 디스플레이 셀들에 대한 검사를 위하여 상기 디스플레이 셀들과 접촉하도록 구성된 프로브 카드를 지지하는 카드 스테이지와, 상기 카드 스테이지의 일측에 배치되며 상기 디스플레이 셀들을 검사하기 위한 분광기와, 상기 분광기의 상부에서 이동 가능하도록 배치되며 상기 분광기의 캘리브레이션을 위한 기준 광원을 포함한다.

Abstract translation: 本发明涉及一种用于检查显示单元的装置。 用于检查显示单元的装置包括：检查室，其中对形成在基板上的多个显示单元执行检查处理; 衬底台，设置在检查室内以支撑衬底，使得显示单元面向下侧; 卡片台，其设置在所述基板载台下方，以支撑被配置为接触所述显示单元的探针卡，以检查所述显示单元; 配置在卡片台的一侧以检查显示单元的分光镜; 以及可移动地设置在分光镜上方以校准分光镜的参考光源。