빛의 구성요소 분석을 통한 3 차원 변환 시뮬레이션
    84.
    发明公开
    빛의 구성요소 분석을 통한 3 차원 변환 시뮬레이션 审中-实审
    通过分析轻组分来模拟三维变换

    公开(公告)号:KR1020180011279A

    公开(公告)日:2018-01-31

    申请号:KR1020180000559

    申请日:2018-01-03

    Applicant: 김승찬

    Inventor: 김승찬

    CPC classification number: G01J3/447 G01J2003/452

    Abstract: 본발명은시뮬레이션이라는과제를해결하기위해고안된아이디어 IP이다. 본발명은과학기술세부분야중광학에해당하는분야이다. 상기발명에앞서서분광장치, 프리즘, 등이발명되었다. 본과제를해결함에있어서 1. 편리성 2. 실용성 3. 지속성측면에서검증하고, 3원색에각자다르게영상을구성하여 3차원으로보이게한다. 기존발명과는달리 3원색과그림자위상차를하여현대사회에발맞추어사용자가손쉽게이용할수 있도록한다.

    Abstract translation: 本发明是用于解决模拟问题的思想IP。 本发明是科学和技术领域中的光学领域。 在本发明之前,发明了分光镜,棱镜等。 在解决这个任务时,1.便利性,2.实用性,3.在可持续性方面进行验证,并使图像在三原色上看起来不同。 与现有发明不同,它使三原色和阴影相位差异变得容易使用,与现代社会保持一致。

    액정 푸리에 변환 이미징 분광계
    85.
    发明公开
    액정 푸리에 변환 이미징 분광계 审中-实审
    液晶玻璃变换成像光谱仪

    公开(公告)号:KR1020160052347A

    公开(公告)日:2016-05-12

    申请号:KR1020150149506

    申请日:2015-10-27

    Abstract: 초분광이미징시스템은, 초분광이미징파라미터를수신하고일련의지연시간에일련의지연으로획득되는일련의이미지를생성하는프로세서, 입사광빔을편광시키는입력편광자, 편광빔을수신하고파장-의존편광을생성하는액정가변리타더, 파장-의존편광을수신하고편광상태정보를광 강도로서검출가능한형태로변환시키는출력편광자, 액정가변리타더에전기적으로연결되는전압소스, 및지연컨트롤러를가지는초분광이미징요소를포함한다. 지연컨트롤러는일련의지연시간에일련의지연을수신하고액정가변리타더에인가되는일련의전압시간에일련의전압을생성한다. 지연컨트롤러와동기화되는초점면어레이는지연함수로광 강도로서검출가능한형태로광을수신하고광을일련의이미지로서변환한다.

    Abstract translation: 高光谱图像系统包括处理器,其接收高光谱成像参数并产生通过一系列延迟时间的一系列延迟获得的一系列图像,以及具有使入射光束偏振的输入偏振器的高光谱图像元件,液体 接收偏振光束并产生波长相关偏振光的晶体延迟器,接收波长依赖偏振并将偏振状态信息转换为可检测形状作为光强度的输出偏振器,电连接到液晶延迟器的电压源,以及 延时控制器 延迟控制器在一系列延迟时间中接收一系列延迟,并产生一系列施加到液晶延迟器的电压倍数的电压。 与延迟控制器同步的面平面阵列通过使用延迟函数接收可分离为光强度的光并将光转换为一系列图像。 因此,可以降低系统的成本。

    用於分析樣品之裝置及對應方法
    87.
    发明专利
    用於分析樣品之裝置及對應方法 审中-公开
    用于分析样品之设备及对应方法

    公开(公告)号:TW201543021A

    公开(公告)日:2015-11-16

    申请号:TW104114754

    申请日:2015-05-08

    Abstract: 本案揭示一種用於分析樣品之裝置。該裝置包含:第一極化器,用於極化電磁輻射之第一射束;光學裝置,用於將電磁輻射之該極化射束導向至該樣品處,以允許電磁輻射之該極化射束與該樣品之間的相互作用,以引起電磁輻射之第二射束的產生;複數個第二極化器,用於將電磁輻射之該第二射束的波前分割為電磁輻射經不同極化狀態極化的複數個射束;以及至少一個分光計,用於分析電磁輻射之該複數個極化射束的相應電磁光譜,以允許該樣品得以表徵。本案還揭示一種相關方法。

    Abstract in simplified Chinese: 本案揭示一种用于分析样品之设备。该设备包含:第一极化器,用于极化电磁辐射之第一射束;光学设备,用于将电磁辐射之该极化射束导向至该样品处,以允许电磁辐射之该极化射束与该样品之间的相互作用,以引起电磁辐射之第二射束的产生;复数个第二极化器,用于将电磁辐射之该第二射束的波前分割为电磁辐射经不同极化状态极化的复数个射束;以及至少一个分光计,用于分析电磁辐射之该复数个极化射束的相应电磁光谱,以允许该样品得以表征。本案还揭示一种相关方法。

    REFERENCE SWITCH ARCHITECTURES FOR NONCONTACT SENSING OF SUBSTANCES
    88.
    发明申请
    REFERENCE SWITCH ARCHITECTURES FOR NONCONTACT SENSING OF SUBSTANCES 审中-公开
    非物质感应的参考开关结构

    公开(公告)号:WO2017040431A1

    公开(公告)日:2017-03-09

    申请号:PCT/US2016/049330

    申请日:2016-08-29

    Abstract: This relates to systems (600) and methods for measuring a concentration and type of substance in a sample (620) at a sampling interface. The systems (600) includes a light source (602), one or more optics (606, 610, 612), one or more modulators (634, 636), a reference (608), a detector (630), and a controller (640). The systems and methods disclosed can be capable of accounting for drift originating from the light source, one or more optics, and the detector by sharing one or more components between different measurement light paths. Additionally, the systems can be capable of differentiating between different types of drift and eliminating erroneous measurements due to stray light with the placement of one or more modulators between the light source and the sample or reference. Furthermore, the systems can be capable of detecting the substance along various locations and depths within the sample by mapping a detector pixel and a microoptics to the location and depth in the sample.

    Abstract translation: 这涉及用于在取样界面处测量样品(620)中的物质的浓度和类型的系统(600)和方法。 系统(600)包括光源(602),一个或多个光学器件(606,610,612),一个或多个调制器(634,636),参考(608),检测器(630)和控制器 (640)。 所公开的系统和方法能够通过在不同测量光路之间共享一个或多个部件来考虑源自光源,一个或多个光学器件和检测器的漂移。 此外,该系统能够区分不同类型的漂移,并消除由于在光源和样品或参考之间放置一个或多个调制器的杂散光而导致的错误测量。 此外,系统能够通过将检测器像素和微光学映射到样品中的位置和深度来检测样品内沿着各个位置和深度的物质。

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