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公开(公告)号:KR1020060014712A
公开(公告)日:2006-02-16
申请号:KR1020040063380
申请日:2004-08-12
Applicant: (주)엘립소테크놀러지
IPC: G01B11/27
Abstract: 편광판과 위상지연판이 접합된 시료의 광축 정렬 오차 측정 방법에 있어서, 상기 시료의 후단에 위치한 보정기의 위상지연각을 미리 설정된 값으로 조절하는 단계, 광원과 상기 시료의 사이에 위치한 편광자를 회전시키면서 광도를 측정하는 단계, 상기 광도가 최대일 때의 상기 편광자의 방위각을 산출하는 단계, 상기 편광자를 고정시킨 상태에서 상기 보정기를 상기 위상지연판의 방위각 근방에서 소정의 회전각도씩 회전시키는 단계, 상기 보정기의 각 방위각에서 상기 보정기의 후단에 위치한 검광자를 회전시키면서 광도를 측정하는 단계, 상기 광도가 최대일 때의 상기 검광자의 방위각을 산출하는 단계 및 상기 산출된 편광자의 방위각 및 검광자의 방위각으로부터 상기 편광판과 위상지연판의 광축 정렬 오차를 산출하는 단계를 포함한다.
편광, 위상, 지연, 위상지연판, 보정, LCD, 오차, 광축.-
公开(公告)号:KR100594368B1
公开(公告)日:2006-06-30
申请号:KR1020040063380
申请日:2004-08-12
Applicant: (주)엘립소테크놀러지
IPC: G01B11/27
Abstract: 편광판과 위상지연판이 접합된 시료의 광축 정렬 오차 측정 방법에 있어서, 상기 시료의 후단에 위치한 보정기의 위상지연각을 미리 설정된 값으로 조절하는 단계, 광원과 상기 시료의 사이에 위치한 편광자를 회전시키면서 광도를 측정하는 단계, 상기 광도가 최대일 때의 상기 편광자의 방위각을 산출하는 단계, 상기 편광자를 고정시킨 상태에서 상기 보정기를 상기 위상지연판의 방위각 근방에서 소정의 회전각도씩 회전시키는 단계, 상기 보정기의 각 방위각에서 상기 보정기의 후단에 위치한 검광자를 회전시키면서 광도를 측정하는 단계, 상기 광도가 최대일 때의 상기 검광자의 방위각을 산출하는 단계 및 상기 산출된 편광자의 방위각 및 검광자의 방위각으로부터 상기 편광판과 위상지연판의 광축 정렬 오차를 산출하는 단계를 포함한다.
편광, 위상, 지연, 위상지연판, 보정, LCD, 오차, 광축.
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