包括2D材料的装置
    1.
    发明授权

    公开(公告)号:CN109427879B

    公开(公告)日:2024-05-24

    申请号:CN201811024895.7

    申请日:2018-09-04

    Abstract: 提供了包括二维材料的装置,所述装置包括:基底;第一电极,位于基底上;绝缘图案,位于基底上;第二电极,位于绝缘图案的上端上;二维(2D)材料层,位于绝缘图案的侧表面上;栅极绝缘层,覆盖2D材料层;以及栅电极,接触栅极绝缘层。绝缘图案在与基底基本垂直的方向上从第一电极延伸。2D材料层包括与绝缘图案的侧表面基本平行的至少一个原子层的2D材料。

    半导体器件
    2.
    发明授权

    公开(公告)号:CN109256377B

    公开(公告)日:2023-10-17

    申请号:CN201810769672.7

    申请日:2018-07-13

    Abstract: 一种半导体器件包括:设置在衬底上的第一存储部分、第一周边电路部分和第二周边电路部分;以及堆叠在第二周边电路部分上的第二存储部分和布线部分,其中第一存储部分包括多个第一存储单元,第一存储单元的每个包括单元晶体管和连接到单元晶体管的电容器,第二存储部分包括多个第二存储单元,第二存储单元的每个包括彼此串联联接的可变电阻元件和选择元件,布线部分包括多个线图案,其中线图案和第二存储单元相对于衬底高于电容器。

    半导体装置
    3.
    发明授权

    公开(公告)号:CN109285857B

    公开(公告)日:2023-06-20

    申请号:CN201810691309.8

    申请日:2018-06-28

    Abstract: 一种半导体装置包括:彼此紧挨着地设置在衬底上的第一存储器部、第一外围电路部和第二外围电路部;以及与所述第一存储器部横向地隔开的第二存储器部,所述第二外围电路部和所述第二存储器部彼此紧挨着地设置在所述衬底上,其中,所述第一存储器部包括多个第一存储单元,每个所述第一存储单元包括单元晶体管和连接到所述单元晶体管的电容器,所述第二存储器部包括多个第二存储单元,每个所述第二存储单元包括彼此串联连接的可变电阻元件和选择元件,其中,所述第二存储单元距离所述衬底比每个所述电容器高。

    制造具有自对准接触栓塞的半导体器件的方法和相关器件

    公开(公告)号:CN101308812B

    公开(公告)日:2011-09-07

    申请号:CN200810099060.8

    申请日:2008-05-16

    CPC classification number: H01L27/10888 H01L21/76897 H01L27/10855

    Abstract: 提供了制造具有自对准接触栓塞的半导体器件的方法。方法包括:在半导体基板上形成下绝缘层;在下绝缘层上形成相互平行的多个互连图案;形成上绝缘层,其被配置为填充在互连图案之间;以及,形成跨越多个互连图案的多个第一掩膜图案,多个第一掩膜图案中的第一掩膜图案在具有上绝缘层的半导体基板上相互平行。方法可以包括:形成第二掩膜图案,其自对准于多个第一掩膜图案并且位于多个第一掩膜图案中的第一掩膜图案之间,使用第一和第二掩膜图案和多个互连图案作为刻蚀掩膜,刻蚀上绝缘层和下绝缘层,以形成使半导体基板暴露的多个接触孔,并且在多个接触孔的相应接触孔中形成多个接触栓塞。还提供了半导体器件。

    半导体存储器件
    6.
    发明授权

    公开(公告)号:CN109841630B

    公开(公告)日:2024-02-02

    申请号:CN201811284157.6

    申请日:2018-10-29

    Abstract: 一种半导体存储器件包括堆叠结构,该堆叠结构包括垂直地堆叠在衬底上的多个层。所述多个层的每个包括顺序堆叠的第一电介质层、半导体层和第二电介质层、以及在第二电介质层中并在第一方向上延伸的第一导电线。该半导体存储器件还包括垂直地延伸穿过堆叠结构的第二导电线、以及在堆叠结构中并与第二导电线间隔开的电容器。半导体层包括在第一导电线与衬底之间在交叉第一方向的第二方向上延伸的半导体图案。第二导电线在沿第一方向彼此相邻的成对的半导体图案之间。每个半导体图案的一端电连接到电容器的第一电极。

    集成电路器件及其制造方法

    公开(公告)号:CN108133936B

    公开(公告)日:2023-08-22

    申请号:CN201711234913.X

    申请日:2017-11-30

    Abstract: 本发明提供一种集成电路(IC)器件和制造该IC器件的方法,其中该IC器件可以包括包含单个芯片的单个基板以及在基板上互相间隔开并且具有不同结构的多个存储单元。制造IC器件可以包括在基板的第一区域中形成多条第一字线以及在基板的第二区域中或者第二区域上形成多条第二字线。多个电容器可以形成在第一字线上。多条源极线可以形成在第二字线上。覆盖所述多个电容器和所述多条源极线的绝缘层可以形成在第一区域和第二区域中。可变电阻结构可以形成在第二区域中的与基板的上表面间隔开第一垂直距离的位置处。

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