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公开(公告)号:CN1446379A
公开(公告)日:2003-10-01
申请号:CN01813971.X
申请日:2001-06-13
Applicant: 三菱电机株式会社
IPC: H01L29/84 , G01P15/125
CPC classification number: B81C1/00666 , B81B2201/0235 , B81C2201/0164 , B81C2201/0169 , G01P15/125 , G01P2015/0814 , H01G4/33 , H01G5/16
Abstract: 本发明的目的在提供一种薄膜结构体及其制造方法,是关于使用半导体加工技术而形成的薄膜结构体及其制造方法,特别是构成半导体加速传感器的薄膜结构体及其制造方法,不仅可简便地进行薄膜体的应力控制,同时可很容易将薄膜体的膜厚予以加厚。为了达成上述目的,半导体加速传感器的质量体(3)、梁(7)及构成固定电极(5)的薄膜体(8),是由多个的经掺杂的多晶硅薄膜(33,35)所构成,而该经掺杂的多晶硅薄膜(33,35),则是薄由进行多次一边掺杂做为杂质的磷一边使多晶硅成膜的程序而层叠而成。
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公开(公告)号:CN1246911C
公开(公告)日:2006-03-22
申请号:CN01813971.X
申请日:2001-06-13
Applicant: 三菱电机株式会社
IPC: H01L29/84 , G01P15/125
CPC classification number: B81C1/00666 , B81B2201/0235 , B81C2201/0164 , B81C2201/0169 , G01P15/125 , G01P2015/0814 , H01G4/33 , H01G5/16
Abstract: 本发明的目的在提供一种薄膜结构体及其制造方法,是关于使用半导体加工技术而形成的薄膜结构体及其制造方法,特别是构成半导体加速传感器的薄膜结构体及其制造方法,不仅可简便地进行薄膜体的应力控制,同时可很容易将薄膜体的膜厚予以加厚。为了达成上述目的,半导体加速传感器的质量体(3)、梁(7)及构成固定电极(5)的薄膜体(8),是由多个的经掺杂的多晶硅薄膜(33,35)所构成,而该经掺杂的多晶硅薄膜(33,35),则是薄由进行多次一边掺杂做为杂质的磷一边使多晶硅成膜的程序而层叠而成。
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