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发明公开
检查系统、检查方法、切断装置以及树脂成形装置无效

公开(公告)号：CN112284285A

公开(公告)日：2021-01-29

申请号：CN202010662242.2

申请日：2020-07-10

Applicant: 东和株式会社

Inventor： 宫田和志 , 尾関贵俊 , 礒野早织 , 水田彩香 , 阿尔宾·林德

IPC: G01B11/24 , G01N21/84 , G01N21/64 , B26D1/12

Abstract: 本发明涉及一种对电子零件进行检查的检查系统及检查方法、使用所述检查系统的切断装置、以及使用所述检查系统的树脂成形装置。本发明是提升电子零件的检查精度的发明，其是在电子零件(Wx)或载置电子零件(Wx)的载置构件(5)的一者含有荧光物质的状态下，拍摄载置在载置构件(5)的电子零件(Wx)来进行检查的检查系统(100C)，包括：激发光照明装置(6)，对电子零件(Wx)及载置构件(5)照射荧光物质的激发光；以及拍摄装置(7)，选择性地拍摄从电子零件(Wx)或载置构件(5)产生的荧光或荧光以外的光。

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