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发明公开
一种导电滑环筛选测试方法无效

公开(公告)号：CN110988482A

公开(公告)日：2020-04-10

申请号：CN201911201049.2

申请日：2019-11-29

Applicant: 北京自动化控制设备研究所

Inventor： 姜睦发 , 李勇志 , 刘新宇 , 徐丹 , 赵轩 , 董文会 , 张欣羽 , 王晶 , 赵曦 , 任海雷

IPC: G01R27/02 , G01R23/16

Abstract: 本发明公开一种导电滑环筛选测试方法，该方法根据导电滑环内部接入阻值原理，分析导电滑环在单刷接触和双刷接触时测量电阻的变化规律，根据变化规律找出区分滑环单刷接触和双刷接触的特征点。根据上述机理形成导电滑环缺陷剔除的测试方法，该方法可在系统装配前有效剔除缺陷导电滑环，提高旋转部件质量，节约装配成本，提高设备可靠性。

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