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公开(公告)号:CN101189793B
公开(公告)日:2012-05-23
申请号:CN200680019453.2
申请日:2006-03-28
Applicant: 意法半导体股份有限公司
IPC: H03H9/02
CPC classification number: H03H9/02409 , G01C19/5726 , G01P15/097 , G01P15/125 , G01P2015/0814 , H03H2009/02496
Abstract: 一种用于控制振荡微机电系统的谐振频率的装置包含:微观结构(2),所述微观结构(2)具有第一基体(10)和第二基体(11),该第二基体(11)被电容性耦合到该第一基体(10)且可以以可校准的谐振频率(ωR)相对于其弹性振荡,其中该第二基体(11)和该第一基体(10)之间的相对位移(ΔY)可从外面检测;以及放大器(21),其耦合到微观结构(2)用于检测相对位移(ΔY)。DC去耦元件(23)设置在放大器(21)和微观结构(2)之间。
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公开(公告)号:CN101331080A
公开(公告)日:2008-12-24
申请号:CN200680046903.7
申请日:2006-07-14
Applicant: 意法半导体股份有限公司
CPC classification number: B81B7/0061 , B81B7/02 , B81B2201/0235 , B81B2201/0264 , B81C1/0023 , H01L2224/48091 , H01L2224/73265 , H01L2924/1461 , H01L2924/3025 , H04R1/04 , H04R19/005 , H01L2924/00014 , H01L2924/00
Abstract: 在衬底级组件(22)中,半导体材料的器件衬底(20)具有顶面(20a)并包封第一集成器件(1;16),特别地第一集成器件具有形成于器件衬底(20)之内的埋藏腔(3)以及在顶面(20a)附近悬置于埋藏腔(3)上方的膜(4)。在顶面(20a)上方将帽盖衬底(21)耦合到器件衬底(20)以便覆盖第一集成器件(1;16),从而在膜(4)上提供第一空白空间(25)。电接触元件(28a,28b)将集成器件(1;16)与衬底级组件(22)的外部电连接。在一个实施例中,该器件衬底(20)集成至少一个具有相应膜(4′)的其他集成器件(1′,10);并且在所述其他集成器件(1′,10)的相应膜(4′)上方提供与第一空白空间(25)流体隔离的其他空白空间(25′)。
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公开(公告)号:CN101331080B
公开(公告)日:2012-12-26
申请号:CN200680046903.7
申请日:2006-07-14
Applicant: 意法半导体股份有限公司
CPC classification number: B81B7/0061 , B81B7/02 , B81B2201/0235 , B81B2201/0264 , B81C1/0023 , H01L2224/48091 , H01L2224/73265 , H01L2924/1461 , H01L2924/3025 , H04R1/04 , H04R19/005 , H01L2924/00014 , H01L2924/00
Abstract: 在衬底级组件(22)中,半导体材料的器件衬底(20)具有顶面(20a)并包封第一集成器件(1;16),特别地第一集成器件具有形成于器件衬底(20)之内的埋藏腔(3)以及在顶面(20a)附近悬置于埋藏腔(3)上方的膜(4)。在顶面(20a)上方将帽盖衬底(21)耦合到器件衬底(20)以便覆盖第一集成器件(1;16),从而在膜(4)上提供第一空白空间(25)。电接触元件(28a,28b)将集成器件(1;16)与衬底级组件(22)的外部电连接。在一个实施例中,该器件衬底(20)集成至少一个具有相应膜(4′)的其他集成器件(1′,10);并且在所述其他集成器件(1′,10)的相应膜(4′)上方提供与第一空白空间(25)流体隔离的其他空白空间(25′)。
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公开(公告)号:CN101189793A
公开(公告)日:2008-05-28
申请号:CN200680019453.2
申请日:2006-03-28
Applicant: 意法半导体股份有限公司
IPC: H03H9/02
CPC classification number: H03H9/02409 , G01C19/5726 , G01P15/097 , G01P15/125 , G01P2015/0814 , H03H2009/02496
Abstract: 一种用于控制振荡微机电系统的谐振频率的装置包含:微观结构(2),所述微观结构(2)具有第一基体(10)和第二基体(11),该第二基体(11)被电容性耦合到该第一基体(10)且可以以可校准的谐振频率(ωR)相对于其弹性振荡,其中该第二基体(11)和该第一基体(10)之间的相对位移(ΔY)可从外面检测;以及放大器(21),其耦合到微观结构(2)用于检测相对位移(ΔY)。DC去耦元件(23)设置在放大器(21)和微观结构(2)之间。
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