公开(公告)号：CN104749166A

公开(公告)日：2015-07-01

申请号：CN201410831782.3

申请日：2014-12-26

Applicant: 株式会社堀场制作所

Inventor： 水野裕介 ,  生田卓司 ,  荒川实里

IPC: G01N21/76

CPC classification number: G01N21/766 ,  G01N33/0026 ,  G01N2201/129

Abstract: 本发明提供气体分析装置，能通过化学发光法高精度地测量试样气体中规定成分的浓度。气体分析装置(100)具有：气体分析部(1)、发光诱发成分产生部(2)和测量信号计算部(31)。气体分析部(1)能导入包含规定成分的试样气体和/或标准气体、及发光诱发气体。此外，气体分析部(1)输出基于通过规定成分和发光诱发成分的相互作用而产生的反应光强度的检测信号。发光诱发成分产生部(2)通过隔开放电产生间隔的时间反复产生的放电，产生发光诱发气体。测量信号计算部(31)根据基于通过导入试样气体和发光诱发气体而产生的反应光的第一检测信号和基于通过导入标准气体和发光诱发气体而产生的反应光的第二检测信号，计算第一测量信号。

公开(公告)号：CN104749166B

公开(公告)日：2019-08-16

申请号：CN201410831782.3

申请日：2014-12-26

Applicant: 株式会社堀场制作所

Inventor： 水野裕介 ,  生田卓司 ,  荒川实里

IPC: G01N21/76

CPC classification number: G01N21/766 ,  G01N33/0026 ,  G01N2201/129

Abstract: 本发明提供气体分析装置，能通过化学发光法高精度地测量试样气体中规定成分的浓度。气体分析装置(100)具有：气体分析部(1)、发光诱发成分产生部(2)和测量信号计算部(31)。气体分析部(1)能导入包含规定成分的试样气体和/或标准气体、及发光诱发气体。此外，气体分析部(1)输出基于通过规定成分和发光诱发成分的相互作用而产生的反应光强度的检测信号。发光诱发成分产生部(2)通过隔开放电产生间隔的时间反复产生的放电，产生发光诱发气体。测量信号计算部(31)根据基于通过导入试样气体和发光诱发气体而产生的反应光的第一检测信号和基于通过导入标准气体和发光诱发气体而产生的反应光的第二检测信号，计算第一测量信号。