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公开(公告)号：CN101145358B
公开(公告)日：2012-04-18
申请号：CN200710154218.2
申请日：2007-09-11
Applicant: 株式会社日立制作所
IPC: G11B7/13
CPC classification number: G11B7/1356 , G11B7/005 , G11B7/13 , G11B2007/0013
Abstract: 本发明提供一种光学信息检测方法、光学头以及光盘装置。在多层光盘·高速光盘中，因为有效的介质反射率低、读出时间短，所以每单位时间的再生光量显著下降，再生信号品质(S/N)大幅度降低。为了解决上述问题，使从光盘反射的反射信号光和从同一光源分支且未照射在光盘上而导入到检测器的参照光在检测器上进行干涉。此时，通过同时得到参照光和信号光的相位关系各相差90度的4种干涉状态的检测器输出并进行运算，即使有因盘抖动引起的光路长变动，也能够得到始终稳定且经过高品质放大的再生信号。
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公开(公告)号：CN101556808B
公开(公告)日：2011-05-11
申请号：CN200910133143.9
申请日：2009-04-09
Applicant: 株式会社日立制作所
CPC classification number: G11B7/005 , G11B7/0956 , G11B7/1353 , G11B7/1356 , G11B7/1359 , G11B7/1367 , G11B7/1378 , G11B2007/0013
Abstract: 本发明提供一种光头和光盘装置。使不照射到光盘(109)而作为参照光使用光与来自光盘的反射光发生干涉来进行信号放大，将反射参照光的角隅棱镜(116)与物镜(108)安装在相同的传动装置(107)上，并设置根据再现的光盘的种类、读出的记录层来调整干涉的光的光路长度的可动部(114)。可动部通过使用楔形棱镜或使球面像差校正用透镜和光路长度调整部件一体地可动，从而使整体的尺寸保持与以往等同，并能够稳定地得到放大效果。由此，本发明的光头和光盘装置具有放大效果，并能以与现有的光头同等的尺寸来制作。
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公开(公告)号：CN104704349A
公开(公告)日：2015-06-10
申请号：CN201280076309.8
申请日：2012-10-19
Applicant: 株式会社日立制作所
Inventor： 三上秀治
CPC classification number: G01J3/44 , G01J3/0205 , G01J3/10 , G01N21/65 , G01N2021/653 , G01N2201/06113 , G02B21/0004 , G02B21/002 , G02B21/06 , G02B21/16
Abstract: 以往的测定物质种类的分布的显微镜难以进行试样的折射率分布的测定，能够取得的信息有限。构成为，具备：第一光分割机构(102)，将来自光源(110)的光分割为第一激励光通量和第二激励光通量；斯托克斯光源(104)，被输入上述第二激励光通量，输出斯托克斯光通量；合波机构(108)，将上述第一激励光通量与上述斯托克斯光通量进行合波，生成合波光通量；第一聚光机构(109)，将上述合波光通量聚光到试样(110)中；第一检测器(113)，检测从上述试样中产生的与合波光通量不同波长的CARS光；第二光分割机构(107)，将上述第二激励光通量和上述斯托克斯光中的至少一方的光通量的一部分作为参照光通量进行分支；第二合波机构(017)，将来自试样中的光通量与上述参照光通量进行合波，生成干涉光；以及第二检测器，检测上述干涉光。
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公开(公告)号：CN101252005B
公开(公告)日：2011-01-26
申请号：CN200810005860.9
申请日：2008-02-15
Applicant: 株式会社日立制作所
IPC: G11B7/135
Abstract: 本发明可以提供一种可以容易地调整2个光的光路长度差、信号放大效果高、适合光学系统的小型化的干涉型光学头和光盘装置。由此在多层光盘装置等不得不降低各层的反射率的情况下，或者在读出速度快、相对于信号的噪声增加等情况下，通过信号放大可以提高再生信号质量。在今后光盘的多层化和高速化中，必须提高再生信号的S/N比，因此必须进行信号放大等努力。为此在使不照射到盘上的光与盘反射光干涉来进行信号放大的光盘装置中，利用角度选择性偏振光变换元件来使产生多个相位差并进行差动运算的光学系统小型化。并且，通过使用直角棱镜作为参照光反射镜，不需要进行参照光的反射镜角度调整，可以简便地进行高精度的信号检测。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN101556808A
公开(公告)日：2009-10-14
申请号：CN200910133143.9
申请日：2009-04-09
Applicant: 株式会社日立制作所
CPC classification number: G11B7/005 , G11B7/0956 , G11B7/1353 , G11B7/1356 , G11B7/1359 , G11B7/1367 , G11B7/1378 , G11B2007/0013
Abstract: 本发明提供一种光头和光盘装置。使不照射到光盘(109)而作为参照光使用光与来自光盘的反射光发生干涉来进行信号放大，将反射参照光的角隅棱镜(116)与物镜(108)安装在相同的传动装置(107)上，并设置根据再现的光盘的种类、读出的记录层来调整干涉的光的光路长度的可动部(114)。可动部通过使用楔形棱镜或使球面像差校正用透镜和光路长度调整部件一体地可动，从而使整体的尺寸保持与以往等同，并能够稳定地得到放大效果。由此，本发明的光头和光盘装置具有放大效果，并能以与现有的光头同等的尺寸来制作。
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公开(公告)号：CN104704349B
公开(公告)日：2018-01-02
申请号：CN201280076309.8
申请日：2012-10-19
Applicant: 株式会社日立制作所
Inventor： 三上秀治
CPC classification number: G01J3/44 , G01J3/0205 , G01J3/10 , G01N21/65 , G01N2021/653 , G01N2201/06113 , G02B21/0004 , G02B21/002 , G02B21/06 , G02B21/16
Abstract: 显微镜构成为，具备：第一光分割机构，将来自光源的光分割为第一激励光束和第二激励光束；斯托克斯光源，被输入上述第二激励光束，输出斯托克斯光束；合波机构，将上述第一激励光束与上述斯托克斯光束进行合波，生成合波光束；第一聚光机构，将上述合波光束聚光到试样中；第一检测器，检测从上述试样中产生的与合波光束不同波长的CARS光；第二光分割机构，将上述第二激励光束和上述斯托克斯光中的至少一方的光束的一部分作为参照光束进行分支；第二合波机构，将来自试样中的光束与上述参照光束进行合波，生成干涉光；以及第二检测器，检测上述干涉光。
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公开(公告)号：CN106461558A
公开(公告)日：2017-02-22
申请号：CN201480079184.3
申请日：2014-05-26
Applicant: 株式会社日立制作所
IPC: G01N21/65
CPC classification number: G01N21/65 , C12Q1/68 , G01N15/1429 , G01N15/1434 , G01N15/1468 , G01N15/1475 , G01N33/5302 , G01N2015/0065 , G01N2015/1006 , G01N2021/653 , G01N2201/06113 , G01N2201/0697 , G01N2201/1053
Abstract: 抑制数据量而高速地取得试样的CARS光谱等的光谱数据。在聚光于试样而照射的照射光扫描中，维持对从试样产生的光进行分光的分光器的检测部的曝光状态，取得通过将在试样内的多个位置产生的光谱进行累积而得到的光谱数据。
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公开(公告)号：CN101556806B
公开(公告)日：2011-04-13
申请号：CN200910133544.4
申请日：2009-04-10
Applicant: 株式会社日立制作所
CPC classification number: G11B7/13 , G01J1/4228 , G01J1/44 , G11B7/09 , G11B20/10009
Abstract: 本发明提供光信号检测电路及使用它的信息再现装置。在仅通过1个检测系统便能对焦误差信号、跟踪误差信号及RF信号全都取得的光信号检测电路中，同时实现低噪声及高速响应。将流到两个光电二极管中的电流相加后的电流信号用1个电流-电压变换器变换为电压信号。此外，不是仅将流入到光电二极管中的电流作为电压信号取出，而是将从光电二极管流出的电流也作为电压信号取出。进而，通过对电流-电压变换器施加两种基准电压，在光电二极管的端子间施加逆偏电压。
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公开(公告)号：CN101556806A
公开(公告)日：2009-10-14
申请号：CN200910133544.4
申请日：2009-04-10
Applicant: 株式会社日立制作所
CPC classification number: G11B7/13 , G01J1/4228 , G01J1/44 , G11B7/09 , G11B20/10009
Abstract: 本发明提供光信号检测电路及使用它的信息再现装置。在仅通过1个检测系统便能对焦误差信号、跟踪误差信号及RF信号全都取得的光信号检测电路中，同时实现低噪声及高速响应。将流到两个光电二极管中的电流相加后的电流信号用1个电流－电压变换器变换为电压信号。此外，不是仅将流入到光电二极管中的电流作为电压信号取出，而是将从光电二极管流出的电流也作为电压信号取出。进而，通过对电流－电压变换器施加两种基准电压，在光电二极管的端子间施加逆偏电压。
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