半导体器件测试装置
    3.
    发明公开

    公开(公告)号:CN1192533A

    公开(公告)日:1998-09-09

    申请号:CN98106267.9

    申请日:1998-02-17

    CPC classification number: B65G49/06 G01R31/26 G01R31/28

    Abstract: 一种IC测试装置,能够消除其中所容纳的待测的IC封装件的四角上附着的毛边并且能以高的定位精度将消除了毛边的IC装入测试用托架中的器件容座。一对去毛边(毛边消除)部件形成在位置校正装置(精确定位器)上,该装置用于将待测的IC由用户托架KST转送到装入部分中的测试用托架TST。

    部件保持装置
    4.
    发明授权

    公开(公告)号:CN1166542C

    公开(公告)日:2004-09-15

    申请号:CN01117857.4

    申请日:2001-03-16

    CPC classification number: B25J15/0616 B25B11/007 B65G47/91 H05K13/0409

    Abstract: 一种部件保持装置,包括底板(11),设置在底板中的中空的延长器保护器(12),对着延长器保护器沿轴向可移动地插入的、具有通孔(131)的延长器销(13),装在延长器销前端的、具有与该延长器销的通孔连通的通孔(141)的延长器(14),和设置在底板中的、也具有与延长器销的通孔连通的通孔(151)的、可沿轴向伸缩的折皱延长器(15)。由于在折皱延长器的通孔(151),延长器销的通孔(131)和延长器的通孔(141)中施加负压,所以在上述延长器中吸附保持着部件。

    部件保持装置
    5.
    发明公开

    公开(公告)号:CN1332110A

    公开(公告)日:2002-01-23

    申请号:CN01117857.4

    申请日:2001-03-16

    CPC classification number: B25J15/0616 B25B11/007 B65G47/91 H05K13/0409

    Abstract: 一种部件保持装置,包括底板11,设置在底板中的中空的延长器保护器12,对着延长器保护器沿轴向可移动地插入的、具有通孔131的延长器销13,装在延长器销前端的、具有与该延长器销的通孔连通的通孔141的延长器14,和设置在底板中的、也具有与延长器销的通孔连通的通孔151的、可沿轴向伸缩的折皱延长器15。由于在折皱延长器的通孔151、延长器销的通孔131和延长器的通孔141中施加负压,所以在上述延长器中吸附保持着部件。

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