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发明公开
孔隙设备和微粒测定系统审中-实审

公开(公告)号：CN117907164A

公开(公告)日：2024-04-19

申请号：CN202311170999.X

申请日：2023-09-12

Applicant: 株式会社爱德万测试

Inventor： 今井康晴 , 鹫津信荣 , 生沼浩介

IPC: G01N15/02 , G01N15/08

Abstract: 本发明提供能够进行准确的信息管理的孔隙设备。孔隙设备(100A)与计测装置(200A)一起使用。孔隙设备(100A)具有孔隙芯片(102)、以及由孔隙芯片(102)划分的腔室即芯片盒(130)。测定用端子组(110)是为了从计测装置(200A)向腔室施加电信号并将腔室中产生的电信号输出到计测装置(200A)而设置的。接口单元(150)与非易失性存储器(140)连接，是为了从外部访问非易失性存储器(140)而设置的。

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