公开(公告)号：CN117907164A

公开(公告)日：2024-04-19

申请号：CN202311170999.X

申请日：2023-09-12

Applicant: 株式会社爱德万测试

Inventor： 今井康晴 ,  鹫津信荣 ,  生沼浩介

IPC: G01N15/02 ,  G01N15/08

Abstract: 本发明提供能够进行准确的信息管理的孔隙设备。孔隙设备(100A)与计测装置(200A)一起使用。孔隙设备(100A)具有孔隙芯片(102)、以及由孔隙芯片(102)划分的腔室即芯片盒(130)。测定用端子组(110)是为了从计测装置(200A)向腔室施加电信号并将腔室中产生的电信号输出到计测装置(200A)而设置的。接口单元(150)与非易失性存储器(140)连接，是为了从外部访问非易失性存储器(140)而设置的。

公开(公告)号：CN119246380A

公开(公告)日：2025-01-03

申请号：CN202410836540.7

申请日：2024-06-26

Applicant: 株式会社爱德万测试

Inventor： 鹫津信荣 ,  高田武晃 ,  田口星人 ,  生沼浩介 ,  真庭瞳

IPC: G01N15/10 ,  G01N15/12 ,  G01N15/13

Abstract: 本发明提供能够改善测定精度的孔隙设备。微细流路设备(400)具备微细流路芯片(410)。微细流路芯片(410)具有在其面内方向上形成的流路(412)。微细流路(412)具有宽度窄的通道部(414)、以及被通道部(414)隔开的第一部分(420)和第二部分(422)。在将通道部(414)的长度设为L并将通道部(414)的宽度设为W时，满足1≤L/W＜2的关系。

公开(公告)号：CN118150410A

公开(公告)日：2024-06-07

申请号：CN202311427005.8

申请日：2023-10-31

Applicant: 株式会社爱德万测试

Inventor： 生沼浩介 ,  高田武晃 ,  鹫津信荣

IPC: G01N15/02 ,  G01N15/00

Abstract: 本发明提供能够改善测定精度的孔设备。孔芯片(400)具备具有孔(412)的膜片(410)。在将孔(412)的直径设为d并将膜片(410)的厚度设为t时，满足1≤t/d＜2的关系。