公开(公告)号：CN100422752C

公开(公告)日：2008-10-01

申请号：CN200480027007.7

申请日：2004-09-14

Applicant: 株式会社爱德万测试

Inventor： 春田将人 ,  佐藤浩行 ,  田边武 ,  中山喜和

IPC: G01R27/28 ,  G01R35/00

CPC classification number: G01R27/28 ,  G01R35/005

Abstract: 通过减少校准配件连接和分离的次数来校准DUT(被测器件)电路参数的测量系统是可能的。一种误差因子获取器件包括：第一校准器(100)，连接到端口(18，28)，并且具有对网络分析器的端口(18，28)实现开路、短路和标准负载或使端口(18，28)短路的第一状态实现单元(120)；以及第二校准器(200)，连接到第一校准器(100)和DUT 400，并且具有对端口(18，28)实现开路、短路和标准负载的第二状态实现单元(220)。第一校准器(100)包括将端口(18，28)连接到第一状态实现单元(120)或第二校准器(200)的第一连接单元(110a，110b)，同时第二校准器(200)包括将端口(18，28)连接到第二状态实现单元(220)或DUT400的第二连接单元(210)。

公开(公告)号：CN1853109A

公开(公告)日：2006-10-25

申请号：CN200480027007.7

申请日：2004-09-14

Applicant: 株式会社爱德万测试

Inventor： 春田将人 ,  佐藤浩行 ,  田边武 ,  中山喜和

IPC: G01R27/28 ,  G01R35/00

CPC classification number: G01R27/28 ,  G01R35/005

Abstract: 通过减少校准配件连接和分离的次数来校准DUT(被测器件)电路参数的测量系统是可能的。一种误差因子获取器件包括：第一校准器(100)，连接到端口(18，28)，并且具有对网络分析器的端口(18，28)实现开路、短路和标准负载或使端口(18，28)短路的第一状态实现单元(120)；以及第二校准器(200)，连接到第一校准器(100)和DUT 400，并且具有对端口(18，28)实现开路、短路和标准负载的第二状态实现单元(220)。第一校准器(100)包括将端口(18，28)连接到第一状态实现单元(120)或第二校准器(200)的第一连接单元(110a，110b)，同时第二校准器(200)包括将端口(18，28)连接到第二状态实现单元(220)或DUT 400的第二连接单元(210)。