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公开(公告)号：CN100439928C
公开(公告)日：2008-12-03
申请号：CN200580005648.7
申请日：2005-02-10
Applicant: 株式会社爱德万测试
CPC classification number: G01R35/005 , G01R27/28
Abstract: 可以取得传送跟踪的相位从而可以修正测定系统误差。具备：测定系统误差因子记录部80，其记录与DUT2引起的频率变换无关地产生的测定系统误差因子；和误差因子取得部90，把从端子2a输出的信号表示为输入到端子2a的信号乘以第一系数的积与输入到另一端子2b的信号乘以第二系数的积的和，测定第二系数大小的比为恒定的校正用混频器的第一系数以及第二系数，根据记录在测定系统误差因子记录部80内的测定系统误差因子和第一系数以及第二系数，取得因频率变换而产生的传送跟踪。
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公开(公告)号：CN1853109A
公开(公告)日：2006-10-25
申请号：CN200480027007.7
申请日：2004-09-14
Applicant: 株式会社爱德万测试
CPC classification number: G01R27/28 , G01R35/005
Abstract: 通过减少校准配件连接和分离的次数来校准DUT(被测器件)电路参数的测量系统是可能的。一种误差因子获取器件包括：第一校准器(100)，连接到端口(18，28)，并且具有对网络分析器的端口(18，28)实现开路、短路和标准负载或使端口(18，28)短路的第一状态实现单元(120)；以及第二校准器(200)，连接到第一校准器(100)和DUT 400，并且具有对端口(18，28)实现开路、短路和标准负载的第二状态实现单元(220)。第一校准器(100)包括将端口(18，28)连接到第一状态实现单元(120)或第二校准器(200)的第一连接单元(110a，110b)，同时第二校准器(200)包括将端口(18，28)连接到第二状态实现单元(220)或DUT 400的第二连接单元(210)。
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公开(公告)号：CN100422752C
公开(公告)日：2008-10-01
申请号：CN200480027007.7
申请日：2004-09-14
Applicant: 株式会社爱德万测试
CPC classification number: G01R27/28 , G01R35/005
Abstract: 通过减少校准配件连接和分离的次数来校准DUT(被测器件)电路参数的测量系统是可能的。一种误差因子获取器件包括：第一校准器(100)，连接到端口(18，28)，并且具有对网络分析器的端口(18，28)实现开路、短路和标准负载或使端口(18，28)短路的第一状态实现单元(120)；以及第二校准器(200)，连接到第一校准器(100)和DUT 400，并且具有对端口(18，28)实现开路、短路和标准负载的第二状态实现单元(220)。第一校准器(100)包括将端口(18，28)连接到第一状态实现单元(120)或第二校准器(200)的第一连接单元(110a，110b)，同时第二校准器(200)包括将端口(18，28)连接到第二状态实现单元(220)或DUT400的第二连接单元(210)。
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公开(公告)号：CN1922499A
公开(公告)日：2007-02-28
申请号：CN200580005648.7
申请日：2005-02-10
Applicant: 株式会社爱德万测试
CPC classification number: G01R35/005 , G01R27/28
Abstract: 可以取得传送跟踪的相位从而可以修正测定系统误差。具备：测定系统误差因子记录部80，其记录与DUT2引起的频率变换无关地产生的测定系统误差因子；和误差因子取得部90，把从端子2a输出的信号表示为输入到端子2a的信号乘以第一系数的积与输入到另一端子2b的信号乘以第二系数的积的和，测定第二系数大小的比为恒定的校正用混频器的第一系数以及第二系数，根据记录在测定系统误差因子记录部80内的测定系统误差因子和第一系数以及第二系数，取得因频率变换而产生的传送跟踪。
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