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发明公开
插座组装体和电子部件测试装置审中-实审

公开(公告)号：CN118974573A

公开(公告)日：2024-11-15

申请号：CN202280094030.6

申请日：2022-03-24

Applicant: 株式会社爱德万测试

Inventor： 汐田夏基 , 加藤康之 , 何塞·莫雷拉

IPC: G01R31/26

Abstract: 插座组装体(50)为用于对具有设备天线(12)的DUT(10)进行测试的电子部件测试装置(1)的插座组装体，其具备：插座(51)，其供DUT(10)安装；推动器(53)，其设置于天线单元(52)与插座(51)之间，将DUT(10)朝向插座(51)按压，天线单元(52)具有与插座(51)对置的测试天线(52b)；以及框架(54)，其与推动器(53)重叠，对推动器(53)进行加强，构成推动器(53)的材料的介电常数比构成框架(54)的材料的介电常数低。

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