公开(公告)号：CN116774750A

公开(公告)日：2023-09-19

申请号：CN202310061891.0

申请日：2023-01-18

Applicant: 株式会社爱德万测试

Inventor： 山田祐也 ,  菊池有朋 ,  加藤康之

IPC: G05D23/22 ,  G01R1/02

Abstract: 本发明的课题在于提供一种能够实现DUT的温度调整中的响应性的提高的温度调整装置。为此，温度调整装置(8)具备：热交换构件(82)，其与DUT(300)接触；第八流通孔(821)，其通过热交换构件(82)的内部；以及连接部(817)，其使流体的流动回转而形成回转流(SF2)，将回转流(SF2)供给至第八流通孔(821)，回转流(SF2)是以第八流通孔(821)的中心轴(CA5)为中心而沿着第八流通孔(821)的内周面(821e)回转的制冷剂的流动。

公开(公告)号：CN112067969A

公开(公告)日：2020-12-11

申请号：CN202010263797.X

申请日：2020-04-07

Applicant: 株式会社爱德万测试

Inventor： 加藤康之 ,  山田祐也 ,  高木慎太郎 ,  细贝弘树

IPC: G01R31/28 ,  G01R31/26

Abstract: 本发明提供一种能够实现成本降低的电子部件处理装置。处理器(2)具备将DUT(5)按压于测试头(3)的插座(32)的臂(20)，臂(20)具备与DUT(5)接触的推动器(22)、以及经由推动器(22)对DUT(5)进行加热的加热器(21)，推动器(22)具备内部空间(223)和与内部空间(223)连通的通气路径(229)，并从测试头(3)经由通气路径(229)对内部空间(223)供给空气。

公开(公告)号：CN114167149B

公开(公告)日：2024-07-12

申请号：CN202110389500.9

申请日：2021-04-12

Applicant: 株式会社爱德万测试

Inventor： 加藤康之 ,  汐田夏基

IPC: G01R29/10

Abstract: 本发明的课题在于提供一种能够实现在器件的上表面具有天线的DUT的试验的低成本化的电子部件按压装置。为此，电子部件按压装置(6)用于具有器件天线(12)的DUT(10)的试验，能够与具有接触臂(21)的电子部件处理装置(2)连接，并且能够连接装配有插座(5)的测试头(32)，其具备：保持板(61)，其载置由接触臂(21)输送的DUT(10)；输送单元(62)，其使DUT(10)在保持板(61)与插座(5)之间移动；顶推件(631)，其能够对载置于插座(5)的DUT(10)进行按压；以及天线单元(64)，其具有与载置于插座(5)的DUT(10)的器件天线(12)对置的测定天线(641)。

公开(公告)号：CN112067969B

公开(公告)日：2023-08-29

申请号：CN202010263797.X

申请日：2020-04-07

Applicant: 株式会社爱德万测试

Inventor： 加藤康之 ,  山田祐也 ,  高木慎太郎 ,  细贝弘树

IPC: G01R31/28 ,  G01R31/26

Abstract: 本发明提供一种能够实现成本降低的电子部件处理装置。处理器(2)具备将DUT(5)按压于测试头(3)的插座(32)的臂(20)，臂(20)具备与DUT(5)接触的推动器(22)、以及经由推动器(22)对DUT(5)进行加热的加热器(21)，推动器(22)具备内部空间(223)和与内部空间(223)连通的通气路径(229)，并从测试头(3)经由通气路径(229)对内部空间(223)供给空气。

公开(公告)号：CN114167149A

公开(公告)日：2022-03-11

申请号：CN202110389500.9

申请日：2021-04-12

Applicant: 株式会社爱德万测试

Inventor： 加藤康之 ,  汐田夏基

IPC: G01R29/10

Abstract: 本发明的课题在于提供一种能够实现在器件的上表面具有天线的DUT的试验的低成本化的电子部件按压装置。为此，电子部件按压装置(6)用于具有器件天线(12)的DUT(10)的试验，能够与具有接触臂(21)的电子部件处理装置(2)连接，并且能够连接装配有插座(5)的测试头(32)，其具备：保持板(61)，其载置由接触臂(21)输送的DUT(10)；输送单元(62)，其使DUT(10)在保持板(61)与插座(5)之间移动；顶推件(631)，其能够对载置于插座(5)的DUT(10)进行按压；以及天线单元(64)，其具有与载置于插座(5)的DUT(10)的器件天线(12)对置的测定天线(641)。

公开(公告)号：CN118974573A

公开(公告)日：2024-11-15

申请号：CN202280094030.6

申请日：2022-03-24

Applicant: 株式会社爱德万测试

Inventor： 汐田夏基 ,  加藤康之 ,  何塞·莫雷拉

IPC: G01R31/26

Abstract: 插座组装体(50)为用于对具有设备天线(12)的DUT(10)进行测试的电子部件测试装置(1)的插座组装体，其具备：插座(51)，其供DUT(10)安装；推动器(53)，其设置于天线单元(52)与插座(51)之间，将DUT(10)朝向插座(51)按压，天线单元(52)具有与插座(51)对置的测试天线(52b)；以及框架(54)，其与推动器(53)重叠，对推动器(53)进行加强，构成推动器(53)的材料的介电常数比构成框架(54)的材料的介电常数低。