公开(公告)号：CN110850259A

公开(公告)日：2020-02-28

申请号：CN201910665958.5

申请日：2019-07-23

Applicant: 株式会社爱德万测试

Inventor： 吉野贵俊 ,  市川英树 ,  陈泽焜

IPC: G01R31/26

Abstract: 本发明提供即使为在测试中产生急剧的温度变化的类型的DUT也能够将DUT的温度控制在适当的范围内的电子部件处理装置。电子部件处理装置(50)包括：调整DUT(90)的温度的温度调整装置(70)；基于温度检测电路(92)的检测结果来运算DUT(90)的温度的第一运算部(86)；控制温度调整装置(70)的温度控制部(87)；以及接收从测试器(10)输出的第一信号(S1)的第一接收部(81)，温度控制部(87)执行的温度控制包括：基于由第一运算部(86)运算出的DUT(90)的温度的第一温度控制；和与第一温度控制不同的第二温度控制，在开始第一温度控制后，在所述第一接收部接收到所述第一信号的情况下，温度控制部(87)将DUT(90)的温度控制从第一温度控制切换为所述第二温度控制。

公开(公告)号：CN110850259B

公开(公告)日：2022-07-08

申请号：CN201910665958.5

申请日：2019-07-23

Applicant: 株式会社爱德万测试

Inventor： 吉野贵俊 ,  市川英树 ,  陈泽焜

IPC: G01R31/26

Abstract: 本发明提供即使为在测试中产生急剧的温度变化的类型的DUT也能够将DUT的温度控制在适当的范围内的电子部件处理装置。电子部件处理装置(50)包括：调整DUT(90)的温度的温度调整装置(70)；基于温度检测电路(92)的检测结果来运算DUT(90)的温度的第一运算部(86)；控制温度调整装置(70)的温度控制部(87)；以及接收从测试器(10)输出的第一信号(S1)的第一接收部(81)，温度控制部(87)执行的温度控制包括：基于由第一运算部(86)运算出的DUT(90)的温度的第一温度控制；和与第一温度控制不同的第二温度控制，在开始第一温度控制后，在所述第一接收部接收到所述第一信号的情况下，温度控制部(87)将DUT(90)的温度控制从第一温度控制切换为所述第二温度控制。

公开(公告)号：CN110763976B

公开(公告)日：2022-02-08

申请号：CN201910187075.8

申请日：2019-03-13

Applicant: 株式会社爱德万测试

Inventor： 桥本隆志 ,  奥圭史 ,  竹内博昭 ,  吉野贵俊

IPC: G01R31/28 ,  G01R31/27 ,  H04B10/073

Abstract: 本发明提供能够实现抑制电子部件测试装置的运转率的降低的负载板。负载板(20)是安装有插座(30)并与测试器(10)电连接的负载板，并且具备光发送部(24)，该光发送部(24)能够通过光无线通信将信号发送给将DUT(90)按压于插座(30)的处理器(50)。

公开(公告)号：CN110763976A

公开(公告)日：2020-02-07

申请号：CN201910187075.8

申请日：2019-03-13

Applicant: 株式会社爱德万测试

Inventor： 桥本隆志 ,  奥圭史 ,  竹内博昭 ,  吉野贵俊

IPC: G01R31/28 ,  G01R31/27 ,  H04B10/073

Abstract: 本发明提供能够实现抑制电子部件测试装置的运转率的降低的负载板。负载板(20)是安装有插座(30)并与测试器(10)电连接的负载板，并且具备光发送部(24)，该光发送部(24)能够通过光无线通信将信号发送给将DUT(90)按压于插座(30)的处理器(50)。