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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN1853111B
公开(公告)日：2010-04-28
申请号：CN200480026769.5
申请日：2004-08-18
Applicant: 株式会社爱德万测试
IPC: G01R31/26
CPC classification number: G01R31/2874 , G01R31/2891 , G01R31/31905 , H01L2924/0002 , H01L2924/00
Abstract: 使具有与基于测试图的被试验电子部件(2)的温度变化特性相等或相似的温度变化特性的加热器(112)与被试验电子部件接触，同时把被试验电子部件向接触端(132a、132b)按压，在该状态下向被试验电子部件发送测试图，并且控制加热器的消耗电力以使基于该测试图的被试验电子部件的消耗电力和加热器的消耗电力的总和为一定值。
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公开(公告)号：CN110763976B
公开(公告)日：2022-02-08
申请号：CN201910187075.8
申请日：2019-03-13
Applicant: 株式会社爱德万测试
IPC: G01R31/28 , G01R31/27 , H04B10/073
Abstract: 本发明提供能够实现抑制电子部件测试装置的运转率的降低的负载板。负载板(20)是安装有插座(30)并与测试器(10)电连接的负载板，并且具备光发送部(24)，该光发送部(24)能够通过光无线通信将信号发送给将DUT(90)按压于插座(30)的处理器(50)。
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公开(公告)号：CN110763976A
公开(公告)日：2020-02-07
申请号：CN201910187075.8
申请日：2019-03-13
Applicant: 株式会社爱德万测试
IPC: G01R31/28 , G01R31/27 , H04B10/073
Abstract: 本发明提供能够实现抑制电子部件测试装置的运转率的降低的负载板。负载板(20)是安装有插座(30)并与测试器(10)电连接的负载板，并且具备光发送部(24)，该光发送部(24)能够通过光无线通信将信号发送给将DUT(90)按压于插座(30)的处理器(50)。
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公开(公告)号：CN101107723A
公开(公告)日：2008-01-16
申请号：CN200480044851.0
申请日：2004-12-21
Applicant: 株式会社爱德万测试
Inventor： 桥本隆志
Abstract: 使用对脉冲信号的脉冲宽度进行增减控制以使珀尔帖元件的温度变化不超过既定的温度坡度的脉冲宽度控制单元和根据由脉冲宽度控制单元控制的脉冲宽度的脉冲信号、对供给珀尔帖元件的驱动电流进行通/断控制的开关单元，限制对珀尔帖元件提供的功率的电流变化率。由此，可抑制珀尔帖元件各部位的膨胀率·收缩率的急剧变动，可减少对珀尔帖元件施加的应力，因此，对珀尔帖元件可维持长寿命。
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公开(公告)号：CN1853111A
公开(公告)日：2006-10-25
申请号：CN200480026769.5
申请日：2004-08-18
Applicant: 株式会社爱德万测试
IPC: G01R31/26
CPC classification number: G01R31/2874 , G01R31/2891 , G01R31/31905 , H01L2924/0002 , H01L2924/00
Abstract: 使具有与基于测试图的被试验电子部件(2)的温度变化特性相等或相似的温度变化特性的加热器(112)与被试验电子部件接触，同时把被试验电子部件向接触端(132a、132b)按压，在该状态下向被试验电子部件发送测试图，并且控制加热器的消耗电力以使基于该测试图的被试验电子部件的消耗电力和加热器的消耗电力的总和为一定值。
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