公开(公告)号：CN115219877A

公开(公告)日：2022-10-21

申请号：CN202210304225.0

申请日：2022-03-25

Applicant: 株式会社爱德万测试

Inventor： 竹内博昭

IPC: G01R31/28 ,  G01R31/00 ,  G01R1/04

Abstract: 本发明的课题在于提供一种老化板，即使在插座的数量增加的情况下也能够实现老化试验的质量的下降的抑制。为此，老化板具备：基板(40)；插座(70)，安装于基板(40)；连接器(80)，安装于基板(40)；布线系统(50a1～50h10、60a～60p)，设置于基板(40)，将多个插座(70)与连接器(80)连接；以及补偿电路(90)，与布线系统(50a1～50h10、60a～60p)连接，对在布线系统(50a1～50h10、60a～60p)中传输的信号的频率特性进行补偿。

公开(公告)号：CN115219876A

公开(公告)日：2022-10-21

申请号：CN202210223654.5

申请日：2022-03-09

Applicant: 株式会社爱德万测试

Inventor： 竹内博昭 ,  平岛浩二 ,  西贤司 ,  张琛弼 ,  吴文咏

IPC: G01R31/28

Abstract: 本发明提供一种即使在插座的数量增加的情况下，也能够抑制烧录试验的品质的降低的烧录板。烧录板(20)具备基板(40)、安装于基板(40)的多个插座(70A1～70T20)、安装于基板(40)的连接器(80)、以及设置于基板(40)并将多个插座(70A1～70T20)与连接器(80)连接的多个布线系统，多个布线系统包括传输第一信号的第一布线系统(50a1～50h10)和传输与第一信号不同的第二信号的第二布线系统(60a～60p)，第一布线系统(50a1～50h10)的第一连接方式的种类与第二布线系统(60a～60p)的第二连接方式的种类相互不同。

公开(公告)号：CN110763976B

公开(公告)日：2022-02-08

申请号：CN201910187075.8

申请日：2019-03-13

Applicant: 株式会社爱德万测试

Inventor： 桥本隆志 ,  奥圭史 ,  竹内博昭 ,  吉野贵俊

IPC: G01R31/28 ,  G01R31/27 ,  H04B10/073

Abstract: 本发明提供能够实现抑制电子部件测试装置的运转率的降低的负载板。负载板(20)是安装有插座(30)并与测试器(10)电连接的负载板，并且具备光发送部(24)，该光发送部(24)能够通过光无线通信将信号发送给将DUT(90)按压于插座(30)的处理器(50)。

公开(公告)号：CN110763976A

公开(公告)日：2020-02-07

申请号：CN201910187075.8

申请日：2019-03-13

Applicant: 株式会社爱德万测试

Inventor： 桥本隆志 ,  奥圭史 ,  竹内博昭 ,  吉野贵俊

IPC: G01R31/28 ,  G01R31/27 ,  H04B10/073

Abstract: 本发明提供能够实现抑制电子部件测试装置的运转率的降低的负载板。负载板(20)是安装有插座(30)并与测试器(10)电连接的负载板，并且具备光发送部(24)，该光发送部(24)能够通过光无线通信将信号发送给将DUT(90)按压于插座(30)的处理器(50)。