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公开(公告)号：CN102124356B
公开(公告)日：2013-07-17
申请号：CN200880130751.8
申请日：2008-09-26
Applicant: 株式会社爱德万测试
Inventor： 竹下觉
CPC classification number: G01R31/2887
Abstract: 本发明提供一种测试部单元(7)，该测试部单元(7)具有无需使用工具即可拆装的把手(6)，该把手(6)具备：底板(61)；设置在底板(61)的两端部的2个托架(62)；架设在两个托架(62)之间的把手杆(63)；以及设置在底板(61)上的2个导轴(64)及2个分度销(65)。另一方面，在测试部单元本体(5)中的测试板(51)中，形成了在测试板(51)的平面方向上延伸的2个导孔(53)、以及在测试板(51)的厚度方向上延伸的2个销钉孔(54)。
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公开(公告)号：CN1129214C
公开(公告)日：2003-11-26
申请号：CN99811988.1
申请日：1999-11-17
Applicant: 株式会社爱德万测试
IPC: H01R33/76
CPC classification number: H01R13/2421 , G01R1/0466 , G01R1/0483 , G01R1/06722 , G01R1/07371 , H01R12/714 , H01R2201/20
Abstract: 一种IC插座，包括一外壳和一底盖板，一探测针安装和固定在彼此相对对准贯穿形成的在每对相对对准的通孔中。其包括：一管组件；一可移动柱塞；和一推动可移动柱塞的螺旋弹簧。该管组件被固定到位时其相对端部装在该通孔中，止动装置由一第二螺旋弹簧推动而紧靠底盖板的内表面，从而使固定柱塞的前端伸到底盖板的外表面之外。当被测试器件从插座上取下和安装上时可移动柱塞分别向上和下移动。尽管不断进行滑动，滑动能力并不会降低。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN118785655A
公开(公告)日：2024-10-15
申请号：CN202410384328.1
申请日：2024-04-01
Applicant: 株式会社爱德万测试
IPC: H05K7/20 , H01R13/514 , H01R13/516 , H01R13/502 , G01R1/04
Abstract: 本发明提供能够实现减少安装于插座板的电子部件的温度上升的插座板组装体。插座板组装体具备：插座，其与DUT电连接；插座板，其在上表面安装插座；插座板框架，其安装于插座板的下表面；第一试验用电子部件，其以位于插座板框架的内侧的方式安装于插座板的下表面，且被使用于DUT的试验；散热器，其以与第一试验用电子部件对置的方式配置于插座板框架的内侧，且与第一试验用电子部件热耦合；以及传热构件，其设置于第一试验用电子部件与散热器之间，且具有电绝缘性。
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公开(公告)号：CN102171581A
公开(公告)日：2011-08-31
申请号：CN200880131432.9
申请日：2008-10-09
Applicant: 株式会社爱德万测试
Inventor： 竹下觉
IPC: G01R31/26
CPC classification number: G01R31/2889
Abstract: 接口构件(52)，设置在电子元件测试装置(10)中使用的测试头(5)的本体部与具有安装被测试IC器件(2)的插座(512)以及与插座(512)电气地连接的多个插座侧连接器(514)的插座板(51)之间，将测试头(5)的本体部与插座板(51)电气地连接，具备：与上述插座侧连接器(514)嵌合的IF侧连接器(524)、支承IF侧连接器(524)的上框架(521)和设置于其下的框状的下框架(522)，上框架(521)形成有供多个IF侧连接器(524)穿过的孔(521h)，穿过该孔(521h)的多个IF侧连接器(524)相互之间设置有隔热材料(525)，另外，在框状的下框架(522)的内侧布满IF侧连接器(524)的电缆(524c)穿过的多个块状的隔热材料(526)。
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公开(公告)号：CN1323457A
公开(公告)日：2001-11-21
申请号：CN99811988.1
申请日：1999-11-17
Applicant: 株式会社爱德万测试
IPC: H01R33/76
CPC classification number: H01R13/2421 , G01R1/0466 , G01R1/0483 , G01R1/06722 , G01R1/07371 , H01R12/714 , H01R2201/20
Abstract: 一种IC插座,包括一外壳和一底盖板,一探测针安装和固定在彼此相对对准贯穿形成的在每对相对对准的通孔中。其包括:一管组件;一可移动柱塞;和一推动可移动柱塞的螺旋弹簧。该管组件被固定到位时其相对端部装在该通孔中,止动装置由一第二螺旋弹簧推动而紧靠底盖板的内表面,从而使固定柱塞的前端伸到底盖板的外表面之外。当被测试器件从插座上取下和安装上时可移动柱塞分别向上和下移动。尽管不断进行滑动,滑动能力并不会降低。
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公开(公告)号：CN102171581B
公开(公告)日：2013-09-18
申请号：CN200880131432.9
申请日：2008-10-09
Applicant: 株式会社爱德万测试
Inventor： 竹下觉
IPC: G01R31/26
CPC classification number: G01R31/2889
Abstract: 接口构件(52)，设置在电子元件测试装置(10)中使用的测试头(5)的本体部与具有安装被测试IC器件(2)的插座(512)以及与插座(512)电气地连接的多个插座侧连接器(514)的插座板(51)之间，将测试头(5)的本体部与插座板(51)电气地连接，具备：与上述插座侧连接器(514)嵌合的IF侧连接器(524)、支承IF侧连接器(524)的上框架(521)和设置于其下的框状的下框架(522)，上框架(521)形成有供多个IF侧连接器(524)穿过的孔(521h)，穿过该孔(521h)的多个IF侧连接器(524)相互之间设置有隔热材料(525)，另外，在框状的下框架(522)的内侧布满IF侧连接器(524)的电缆(524c)穿过的多个块状的隔热材料(526)。
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公开(公告)号：CN102124356A
公开(公告)日：2011-07-13
申请号：CN200880130751.8
申请日：2008-09-26
Applicant: 株式会社爱德万测试
Inventor： 竹下觉
CPC classification number: G01R31/2887
Abstract: 本发明提供一种测试部单元(7)，该测试部单元(7)具有无需使用工具即可拆装的把手(6)，该把手(6)具备：底板(61)；设置在底板(61)的两端部的2个托架(62)；架设在两个托架(62)之间的把手杆(63)；以及设置在底板(61)上的2个导轴(64)及2个分度销(65)。另一方面，在测试部单元本体(5)中的测试板(51)中，形成了在测试板(51)的平面方向上延伸的2个导孔(53)、以及在测试板(51)的厚度方向上延伸的2个销钉孔(54)。
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