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公开(公告)号：CN115932519A
公开(公告)日：2023-04-07
申请号：CN202211031906.0
申请日：2022-08-26
Applicant: 株式会社爱德万测试
Abstract: 本发明提供一种能够高精度地进行DUT的端子与插座的接触件的对位的电子部件测试装置。电子部件测试装置(900)具备：具有插座(50)的测试头(5)；以及处理器(1)，插座(50)具备与DUT(90)的端子(91)对应地设置的多个接触件(53)、以及朝向嵌件(710)沿着DUT(90)的按压方向突出的壁(55)，嵌件(710)具备将配置于插座(50)上的DUT(90)按压于插座(50)的壁(55)的按压机构(750)、以及使DUT(90)的端子(91)相对于插座(50)露出的开口(741)，在处理器(1)将DUT(90)按压于插座(50)时，DUT(90)被按压机构(750)按压于壁(55)，从而使DUT(90)的端子(91)与插座(50)的接触件(53)对位。
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公开(公告)号：CN111796177A
公开(公告)日：2020-10-20
申请号：CN202010008891.0
申请日：2020-01-06
Applicant: 株式会社爱德万测试
Abstract: 本发明提供能实现低成本化的中介板以及插座。插座(20)具备：第一接触探针(21)，其具有能与DUT(90)的第一端子(91)接触的第一端部；第二接触探针(22)，其具有能与DUT(90)的第二端子(92)接触的第二端部；以及内侧壳体(23)，其以第一端部和第二端部实质上位于同一假想平面(VP)上的方式保持第一以及第二接触探针(21、22)，第二接触探针(22)的长度(L2)短于第一接触探针(21)的长度(L1)。中介板(30)具备：基板(31)，其具有能供第一接触探针(21)插入的贯通孔(311)；以及布线图案(32)，其设置于基板(31)，布线图案(32)具有能供第二接触探针(22)接触的焊盘(321)。
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公开(公告)号：CN111458576A
公开(公告)日：2020-07-28
申请号：CN201910851033.X
申请日：2019-09-10
Applicant: 株式会社爱德万测试
IPC: G01R31/00
Abstract: 本发明提供一种能够实现老化板内的温度分布的均匀化的老化板及老化装置。老化板(20)具备：老化板主体(40)，其具有多个插座(30)、安装有插座(30)的上表面(41)、以及与上表面(41)相反一侧的下表面(42)；加强框(90)，其与下表面(42)接触；底盖(60)，其与加强框(90)接触；导热板(80)，其介于老化板主体(40)与底盖(60)之间；以及导热片(70)，其将老化板主体(40)与导热板(80)热连接，加强框(90)将导热板(80)朝向导热片(70)按压。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN118785655A
公开(公告)日：2024-10-15
申请号：CN202410384328.1
申请日：2024-04-01
Applicant: 株式会社爱德万测试
IPC: H05K7/20 , H01R13/514 , H01R13/516 , H01R13/502 , G01R1/04
Abstract: 本发明提供能够实现减少安装于插座板的电子部件的温度上升的插座板组装体。插座板组装体具备：插座，其与DUT电连接；插座板，其在上表面安装插座；插座板框架，其安装于插座板的下表面；第一试验用电子部件，其以位于插座板框架的内侧的方式安装于插座板的下表面，且被使用于DUT的试验；散热器，其以与第一试验用电子部件对置的方式配置于插座板框架的内侧，且与第一试验用电子部件热耦合；以及传热构件，其设置于第一试验用电子部件与散热器之间，且具有电绝缘性。
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公开(公告)号：CN118837584A
公开(公告)日：2024-10-25
申请号：CN202310445746.2
申请日：2023-04-24
Applicant: 株式会社爱德万测试
Abstract: 提供能够抑制加强框的强度降低和损坏并抑制老化板的挠曲的老化板和老化装置。老化板(20)具备：多个插座(30)；安装有插座(30)的老化板主体(40)；底板(60)；外框(50)；以及加强框(70)，其设置于外框(50)的内部且老化板主体(40)与底板(60)之间，加强框(70)具有：在第一方向上延伸的多个基杆(80)；以及以与基杆(80)交叉的方式配置并在第二方向上延伸的多个横杆(90)，横杆(90)在与基杆(80)交叉的部位与基杆(80)嵌合，与老化板主体(40)的下表面(42)和底板(60)的上表面(61)接触，并能够从基杆(80)拆卸。
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公开(公告)号：CN111796177B
公开(公告)日：2023-07-14
申请号：CN202010008891.0
申请日：2020-01-06
Applicant: 株式会社爱德万测试
Abstract: 本发明提供能实现低成本化的中介板以及插座。插座(20)具备：第一接触探针(21)，其具有能与DUT(90)的第一端子(91)接触的第一端部；第二接触探针(22)，其具有能与DUT(90)的第二端子(92)接触的第二端部；以及内侧壳体(23)，其以第一端部和第二端部实质上位于同一假想平面(VP)上的方式保持第一以及第二接触探针(21、22)，第二接触探针(22)的长度(L2)短于第一接触探针(21)的长度(L1)。中介板(30)具备：基板(31)，其具有能供第一接触探针(21)插入的贯通孔(311)；以及布线图案(32)，其设置于基板(31)，布线图案(32)具有能供第二接触探针(22)接触的焊盘(321)。
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公开(公告)号：CN111458576B
公开(公告)日：2022-06-10
申请号：CN201910851033.X
申请日：2019-09-10
Applicant: 株式会社爱德万测试
IPC: G01R31/00
Abstract: 本发明提供一种能够实现老化板内的温度分布的均匀化的老化板及老化装置。老化板(20)具备：老化板主体(40)，其具有多个插座(30)、安装有插座(30)的上表面(41)、以及与上表面(41)相反一侧的下表面(42)；加强框(90)，其与下表面(42)接触；底盖(60)，其与加强框(90)接触；导热板(80)，其介于老化板主体(40)与底盖(60)之间；以及导热片(70)，其将老化板主体(40)与导热板(80)热连接，加强框(90)将导热板(80)朝向导热片(70)按压。
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公开(公告)号：CN304138602S
公开(公告)日：2017-05-17
申请号：CN201630224369.0
申请日：2016-06-02
Applicant: 株式会社爱德万测试
Abstract: 1．本外观设计产品的名称：用于电子零件测试装置的插座；2．本外观设计产品的用途：插座可安装于对半导体集成电路等电子零件的电气特性进行测试的电子零件测试装置，如用于表示使用状态的参考截面图所示，在测试电子零件时，从上方按压由插入物保持的电子零件以使该电子零件贴附于插座，并使由该电子零件引出的外部连接端子与插座的端子（端子在俯视图中由多个圆表示）接触，由此，通过插座实现了电子零件与电子零件测试装置的连接。
电子零件测试装置在该状态下对电子零件进行测试。
配置于端子周围的8个凹部（参照俯视图及立体图）设置用于避免对电子零件进行把持的插入物的爪部与本产品之间的干扰。
在电子零件接近于插座时，利用图像识别处理，可高精度地相对插座对电子零件进行定位。
俯视图所示的黑色的矩形框用于图像识别处理；3．本外观设计的设计要点：在设计1的用于说明特征部分的参考立体图及设计2的用于说明特征部分的参考立体图中，实线所示的部分为本外观设计要特别保护的部分，而虚线所示的部分，为特别保护部分之外的部分，点画线用于表示要特别保护的部分与其他部分之间的分界；4．最能表明设计要点的图片或者照片：设计1俯视图；5.指定设计1为基本设计；6.在设计2中，由于其仰视图、主视图、后视图、左视图及右视图分别与设计1的仰视图、主视图、后视图、左视图及右视图相同，因此省略设计2的仰视图、主视图、后视图、左视图及右视图。
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