公开(公告)号：CN115932519A

公开(公告)日：2023-04-07

申请号：CN202211031906.0

申请日：2022-08-26

Applicant: 株式会社爱德万测试

Inventor： 今泉直人 ,  金成衍 ,  长岛昌范 ,  川岛敬史 ,  伊藤明彦

IPC: G01R31/26 ,  G01R1/04 ,  B07C5/02 ,  B07C5/344 ,  B07C5/36

Abstract: 本发明提供一种能够高精度地进行DUT的端子与插座的接触件的对位的电子部件测试装置。电子部件测试装置(900)具备：具有插座(50)的测试头(5)；以及处理器(1)，插座(50)具备与DUT(90)的端子(91)对应地设置的多个接触件(53)、以及朝向嵌件(710)沿着DUT(90)的按压方向突出的壁(55)，嵌件(710)具备将配置于插座(50)上的DUT(90)按压于插座(50)的壁(55)的按压机构(750)、以及使DUT(90)的端子(91)相对于插座(50)露出的开口(741)，在处理器(1)将DUT(90)按压于插座(50)时，DUT(90)被按压机构(750)按压于壁(55)，从而使DUT(90)的端子(91)与插座(50)的接触件(53)对位。